Способ контроля и дефектоскопии однотипныхизделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
2863 8 ОП ИСАЫ И ЕИЗОБРЕТЕЫИЯХ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельства Мв Кл, 421(, 4 аявлено 281968 ( 123029425-28) заявки 1 че с п исоединение МПК 6 01 п 27/82 риоритетпубликовано 10.Х 1.1970. Бюллетень Мв ата опубликования описания 13.1.1971 Комитет по делам изобретений и открытийАвторыизобретения А. А. Верт Н. И, Фомин гтреста Мосводоканалпромавод Водоп аявител СПОСОБ НОТИПНЫХ РО И ДЕФЕКТОСКОИЗДЕЛИЙ по изменению положения контролируемых изделий относительно дна ванны. Предмет пзобретенн Способ контроля и ных изделий, имеющи пример в виде пустот ний, отличающийся те ния процесса контрол ванну с электропровод кают через нее элек воздействуют на жид для изменения ее каж стижения безразлично нравных изделий, и н ляют по изменению п сительно дна ванны,Известные способы контроля и дефектоскопин однотипных изделий, имеющих скрытые дефекты изделий, например в виде пустот или инородных включений, основанные на пспользовании рентгеновских лучей, ультразвука, электромагнитных волн, сложны, так как требуют повторения операции для каждой детали,С целью упрощения процесса контроля контролируемые изделия помещают в ванну с электропроводной жидкостью, пропускают через нее электрический ток, а затем воздействуют на жидкость магнитным полем, которое меняет ее кажущуюся плотность. Изменяя величину магнитного поля и величину пропускаемого через жидкость тока, добиваются такой кажущейся плотности жидкости, при которой исправные изделия занимают безразличное положение. Валичие дефектов определяют дефектоскопнн однотипх скрытые дефекты, наили инородных включем, что, с целью упрощея, изделие помещают в ной жидкостью, пропустрическнй ток, а затем кость магнитным полем ущейся плотности до дого положения в ней исаличие дефектов опредеоложения изделия отно
СмотретьЗаявка
1230294
А. А. Вертман, Н. И. Фомин, Л. Б. КоганГ, Завод Водоприбор треста Мосводоканалпром
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопии, однотипныхизделий
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-286318-sposob-kontrolya-i-defektoskopii-odnotipnykhizdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля и дефектоскопии однотипныхизделий</a>
Предыдущий патент: 286317
Следующий патент: Намагничивающее устройство для магнитографической дефектоскопии
Случайный патент: Способ получения бумажной массы