285578

Номер патента: 1684384

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Копецкая, Курятников, Никитина, Трухтенкова, Чибирев

МПК: D21H 11/10, D21H 27/00

Метки: бумаги, волокнистая, впитывающей, масса, технической

...бумаги, как н примере 1,Показатели качества бумаги приведенын табл. 1,П р и м е р 4 контрольныйл). Приготовляют волокнистую массу следующего состава,мзс.:Сульфатная небеленая целюоза иэхвойной древесины 20ХММ из еловой древес 1 лны 80Для подготовки волокнистой массыхвойную целлюлозу рззмалынают до 32ШР, после чего ее смеыинакп с ХММ н укаЗЗННОМ СООТНОШЕНИИ И ИЗГОТОВЛЯЮТ ОТЛИН"ки, кзк н примере 1.Показатели качества бумаги и ринеденын табл. 1.П р и м е р 5 контрольный), Образцыбумаги изготовляют иэ 1 ООС ХММ,Показатели качества бумаги приведенын табл. 1,П р и м е р 6. Бумаг, изготавливают набумагоделзтельной машине н производственных условиях. Состав волокнистой массы, мзс /о:Сульфатнзя небеленая хвойная целлюлоза, степень помол:24 -...

Номер патента: 127939

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Шустарев

МПК: C04B 38/06

Метки: вспученных, глин, масса

...позволяет сократить расход топлива, а также повысить коэффициент вспучивания массы прп обжиге, для чего в состав массы вводят отработанный гумбрин в количестве 30% от веса массы.В состав описываемой массы входят, например, следующие компоненты: глина - 68 - 69%; гумбрин - 30%, опилки - 1 - 2%,Процесс обжига ведут обычно во вращающейся печи, камеру сгорания которой предварительно прогревают до 1200", после чего начинают сбрасывать шарики, состоящие из глины, гумбрина и опилок. Глиняные шарики вспучиваются, а летучие гумбрина (масла, смолы) и опилки выгорают.Расход топлива, идет лишь на первичный прог , весь дальнеиший процесс вспучивания происходит за счет т содержащегося в гумбрине, который является отходом нефт ных заводов и...

Номер патента: 833871

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Величко, Ганцеровский, Жигамовский, Капелянов, Овчарук, Петлеванный, Рогачев

МПК: C04B 35/66

Метки: заделкилеток, масса, огнеупорная

...затруднен прожиг леточного отверстия, апрц количестве ее более 20 уменьшается доля кремния в массе и сплошностьзащитного слоя 51 С поверхности леточного отверстия,Граничные значения вводимого каменноугольного пека объясняютсятем, что при его введении менее 10наблюдается плохое спекание массы 2 5 95, 51 С 1 р 510 Остальное 20 5 51 90; 5 С 1,5; 510 а Остальное 25 Каждую массу тщательно перемешивают при подогреве до 80-90 С. Изнее изготавливают конуса максймальным одиаметром на 0,1-0,2 большим, чемдиаметр леточного отверстия,После выпуска расплава из печиРПЗлеточное отверстие закрываютконусами из приготовленных масс,которые при выплавка в печи товарного силикомарганца, обжигают при1200"1500 С 4-б ч, а затем прожигаютэлектрической дугой при...

Номер патента: 991205

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Бобров, Ноткин, Рыжков, Тыр

МПК: G01M 1/12

Метки: координат, массы, тел, центра

...платфорьи, опорныереакции и момент инерции и по измеренным параметрам судят о массе и коорф динатах центра массы тела, при установке теда на платформу меняют конФигурацию тела изменением положениякаждого нэ. звеньев или групп звеньевпри постоянстве положения остальных 25 звеньев и производят измерения параметров при каждом из положенйй звеньев.Суть способа определения массы икоординат центра массы многоэвенныхтел, звенья которых шарнирно связаны 30 между собой, заключается в следующем,991205 Формула изобретения Составитель Р. ГайнутдиноваТехред М.Коштура Корректор О, Билак Редактор НЛазаренко Заказ 111/56 Тираж 871 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и .открытий1 1 30 35 р Москва, Ж, Раушская на 6.,...

Номер патента: 439303

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Клешков, Нечаева, Павленко, Рафальсон, Цымберов, Шутов

МПК: B01D 59/44

Метки: масс, масс-спектрометр, разверткой, спектра, электростатической

...дискриминации ионов по массам,Конструкция источника ионов, работающего в не изменяющихся условиях для всех ионов, обеспечивает равные наиболее эффективные для данного источника ионов условия образования, вытягивания, формирования и ускорения ионов, а развертка масс-спектра осуществляется дополнительным специальным электродом, на который подается напряжение сканирования и расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов.Такая конструкция анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества, Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускоряющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом, определяющим...