Способ изготовления материала типа арболита

Номер патента: 973549

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Негодова, Цветков, Юферов

МПК: C08G 8/10

Метки: связующего, фенолформальдегидного

...процесса обеспечивают получение смолы, пригодной для изготовления клея с высокой жизнеспособностью. Клеевой шов на ее основеобладае; высокой прочностью и водостойкостью.П р и м е р 1. 100 мас,ч. Фенола и 65 мас.ч. формалина (в пересчете на формальдегид) загружают в аппарат, снабженный мешалкой и холодильником, в смесь вводят 1,3 мас.ч.едкого натра (в виде раствора) ипри непрерывном перемешивании нагревают до 98-100 С. При этой температуре реакцию ведут 10 мин, за-"тем реакционную массу охлаждают до78-82 С и вводят дополнительно10 мас.ч. Формалина (в пересчете наформальцегид) и 3 мас.ч. едкого натра и продолжают конденсацию при 80 ОСв течение 50 мин. Затем смолу сушат под вакуумом до величины массовой доли сухого остатка не...

Номер патента: 241303

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ленинградска, Сенин

МПК: E02D 11/00, E02D 7/18

Метки: веса, действием, оболочек, погружения, полых, свай, собственного, сооружений, типа

...сваи-оболочки, мощности вибратора, материала секции и типа грунтов. Секция может быть выполнена из металла, бетона, дерева и т. п.Секция имеет нижний и верхний амортизаторы, выполненные из резины,Нижний амортизатор 4 может быть устроен для всех секций по выступу 7 башмачка сваи- оболочки. Верхний амортизатор б может крепиться к кронштейну 3. В качестве амортизатора может быть использован пневматический пояс.Кронштейн предназначен для крепления секции к свае-оболочке. Для удобства и быстроты монтажа кронштейн заранее скрепляется с секцией. Материал и конструкция кронштейна могут быть различные. Например, он может быть выполнен в виде швеллера.Порядок монтажа устройства в следующем, Сначала собирают вибросекцию (секция, вибратор,...

Номер патента: 1233223

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Колотилин, Сафонов, Шеретов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/42

Метки: анализа, гиперболоидном, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа, трехмерной

...электродами выделяется зависимая от частоты разпость потенциалов.Вследствие наличия последней поле ванализаторе становится нс симметричным и уменьшается разрешающая способность и чувствительность прибора. Ктому же наличие геперцтора и дополнительных вакуумных выводов усложняет схему и уменьшает ее надежность.Причем при питании анализа,тора отгенератора высокой частоты с поста:пп 1 ой амплитудой сигнала в анализаторнельзя вводить ионы, образованныеизвне, что существенно сужает возможности масс-спектрометра.Цельизобретения - повышение чувствительности и разрешающеи способности, а также упрощение. схемы пи"ания.Указанная цель достигается темчто согласно способу, по которому в масс-анализатор вводят заряженныечастицы, разделяют их по...

Номер патента: 1453477

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Борисовский, Колотилин, Рожков, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализа, гиперболоидном, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа, трехмерной

...линии разверткиспектра масс (даже при= 0 (см,фиг. 1, то к моменту начала селективного вывода в рабочем объеме анализатора находится широкий спектрионов, обладающих, в основном, значительно меньшими амплитудами колебаний, чем при традиционной работеу вершины диаграммы стабильности (в2-3 раза при начальной фазе образования/2) . В этих условиях можно,перестраивая частоту продольного до з14534 полнительного поля, по усмотрению оператора селективно выводить нужные ионы в сторону детектора в нужной последовательности, практически не5 изменяя количество удерживаемых ионов других масс, Чувствительность прибора при этом соответственно в 2-3 раза выше, чем при работе традиционным способом. Так как при вызванном пред ложенным способом резонансе...

Номер патента: 1688304

Опубликовано: 30.10.1991

Авторы: Борисовский, Веселкин, Колотилин, Суслов, Шеретов, Ястребков

МПК: H01J 49/42

Метки: анализа, гиперболоидном, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа, трехмерной

...нижней границе массового диапазона масс-анализатора.Перевод рабочей точки отсортированных ионов вглубь диаграммы стабильности перед Процессом селективного воздействия лазерного излучения позволяет удерживать в рабочем объеме анализатора после диссоциации все образовавшиеся осколки отсортированных Ионов. Вывод их последовательно на детектор позволяет анализировать элементный состав отсортированных ионов и, соответстВенно, проводить их идентификацию.На чертеже приведена общая диаграмма стабильности для гиперболоидного массспектрометра типа трехмерной ловушки.В исходном состоянии линия (ОВ) развертки спектра масс проходит вблизи вершины общей зоны стабильности (положение 1). При этом одним из известных способов проИзводится...