Способ ультразвуковой дефектоскопии

Номер патента: 245428

Авторы: Ленинградский, Меркулов, Харитонов

ZIP архив

Текст

-"диотека клБ ОПИСАН ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 245428 бааз Соввтокив Социалистическив РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено ЗОХ.1967 ( 1160150/25-28) Кл. 423(, 46/О присоединением заявкириоритетпубликовано 04,И.1969. Бюллетень1ата опубликования описания 23,Х.1969 МПК 6 01 пУДК 620,179.16(088.8 Комитет по делам изобретений и открыти при Совете Министров СССРАвторыизобретения Л. Г, Меркулов и А. В, Харитонов Заявите Ленинградский электротехнический институт имени В. И. УльяновСПОСОБ УЛЬ 1 РАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ руется в другие модь дая из которых песемацию о дефекте. Дл изделии возбуждают волны и посылают ее зону изделия к прием рируют одну из тра или весь спектр волн дефекта судят по ам амплитудным соотно нормальных волн, кажт определенную инфоря выявления дефектов в одну из мод нормальнойчерез контролируемую нику. Последним регистнсформированных волн и о наличии и характере плитуде первой или по шениям волн. дмет изобретен и изанный сылкезону ю поволн о амволн судят Изобретение может найти применение вметаллообрабатывающей, химической и нефтяной промышленности для контроля листов,труб и других изделий,Известные способы, основанные на возбуждении нормальной волны, посылке ее к приемнику через контролируемую зону изделия ивыявлении дефекта по ослаблению принятогосигнала возбужденной моды нормальной волны, в ряде случаев обладают невысокой чувствительностью.Описываемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности,исследуют спектр волн после прохождения зоны контроля и по амплитуде одной из трансформированных волн или по амплитудным соотношениям их судят о наличии и характередефекта.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем. 20При наличии дефекта нормальная волна,распространяющаяся в изделии, частично от.ражается от границ дефекта и трансформиСпособ ультразвуковой дефектоскопиделий, например листов и труб, основпа возбуждении нормальной волны и поее к приемнику через контролируемуюизделия, отличающийся тем, что, с цельвышения точности, исследуют спектрпосле прохождения зоны контроля и пплитуде одной из трансформированныхили по амплитудным соотношениям ихо наличии и характере дефекта.

Смотреть

Заявка

1160150

Л. Г. Меркулов, А. В. Харитонов, Ленинградский электротехнический институт имени В. И. Уль нова

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04, G01N 29/08, G01N 29/10

Метки: дефектоскопии, ультразвуковой

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-245428-sposob-ultrazvukovojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвуковой дефектоскопии</a>

Похожие патенты