Пьезокерамический фильтр

Номер патента: 116357

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Вагин

МПК: H03H 11/12

Метки: введения, обратной, отрицательной, полосой, пропускания, регулируемой, связи, схема, счет, фильтра, частот

...частот содержит следующие элементы: колебательный контур 1, включенный в катодную цепь лампы 2 и связанный дополнительной емкостью 3 с ее управляющей сеткой, причем для выравнивания коэффициента усиления при изменении ширины полосы пропускания используется также междуэлектродная емкость самой лампы 2; сопротивление 4 утечки сетки лампы 2; потенциометр б для регулировки величины отрицательного смещения на сетке лампы 2; разделительные конденсаторы б и 7; блокировочные конденсаторы 8 и 9; гасящее сопротивление 10.Принцип действия схемы фильтра состоит в следующем.При крайнем левом положении движка потенциометра Б лперта отрицательным напряжением на сетке. Такое положениеметра 5 соответствует минимальной полосе пропускания фи116357...

Номер патента: 471568

Опубликовано: 25.05.1975

Авторы: Ефременко, Мешков

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, коротковолновой, области, оптический, отрезающий, пропусканием, спектра, фильтр

...ппдсксом 1 обозначена одпя из окружающих фильтр сред Лг, индекс 2 используется для обозиачепия дополпительного слоя между средой 1 и чствертьволновым зеркалом 3 с числом слоев 2 т + 1; индекс-- ,ля обозпачспт дополнительного слоя между зеркалом 3 и второй 5 средой 5.Индексом 6 (пупктирная кривая) обозначена кривая пропускапия фильтря, выполс 1 гпого по известной схемефильтра области пропускания, причем индексом 8 (пунктирная кривая) обозначен фильтр по известной схеме, а индексом 9 (сплошная кривая) - по предлагаемой схеме. Значения параметров выбирались в соответствии с расчетом.Улучшение спектральной характеристики фильтра по сравнению с известными вызвано выбором коэффициентов преломления слоев, оптическая толщина каждого из которых...

Номер патента: 1242890

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Окунишников, Петренко

МПК: G02B 5/28

Метки: волны, длины, интерференционного, максимума, полосы, пропускания, светофильтра, ширины

...эффективный показатель преломления разделительного слоя фильтра.Цель изобретения - повышение точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет исключения влияния показателя преломления разделительного слоя светофипьтра.Поставленная цель достигается тем,чта согласно способу определения ширины полосы и длины волны максимумапорпускания интерференционногосветофильтра дополнительно просвечивают светофильтр вторым зондирующимпучком излучения с длиной волны, мень О шей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, неравной длине волны основного зонди 1.рующего пучка излучения, и измеряютугол падения второго пучка излученияна светофильтр, соответствуюшиймаксимуму интенсивности прошедшегоизлучения, а...

Номер патента: 997743

Опубликовано: 23.02.1983

Авторы: Бучеров, Гаврилов, Копылов, Наберухин, Орлов

МПК: B01D 37/02

Метки: намывных, нанесения, слоя, фильтров, фильтрующего

...нов при пропускании потока суспензиифильтрую щего материала через фильтр, спой формируют последовательно по высоте патрона сверху вниз, при этом в верхней части при скорости потока Ю А 5а в нижней части при скорости потокафв (с (4 ргде Юс - скорость потока в рабочем снии фильтра (на уровне нижней кромки патронов);Жср - скорость срыва частиц с поверх 2 оЮв - скорость витания частиц ф трующего материала.Примеры осуществления способа приведены в таблице.Щ 5а Эойос оо сЩ 5О. 9ойос оо сЩ )5а ЭоК йос оо сЩ сЕ 5 1- о ос Х с О. Э щ й Х о о с а1- Щ с 5 1- о о ои ха Э щ й Х о о с а1 Щс5 Е1 о ооХаЭ щйо ос а 5 О о о ао Э1- О1- щ 2 Щ Щ х Щ Щх х5Б Э о о1 - х Щ Щ а Ы Э Е о о 1 - хлл5 Ое оа2 О15 ОХо5 -ЕЭ 5л Лш оО аысЭо ща 5очс К Э О т 1 Э Э о к х Е Э...

Номер патента: 82541

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Поздняков

МПК: H03H 9/19

Метки: кристаллической, нанесенными, пластинки, поверхности, пьезоэлектрический, резонатор, электродами

...жс Образот бует и распределение элс 1 трпчсскихзар 5)доз, во;тИКаЮЩИХ В С ГЕР:.Кт; С ВС,"С Гт ВПЕ ПЬЕЗОЭЛЕКТ) ПЧЕСКИХсвойств кристалла. Иными словами, пьсзоэлсктрнчсская проводимостьт.) тСта " ИрЕЗОНВТОра будЕТ В ОСНОВНОЪ ОПрвдвляТЬСЯ ТЕМП МЧВСТКВМП КРПСТа,тЛИ82541ческого стержня, где наблюдаются наибольшие механические напрякения илп,деформации. крайние участки кристаллического стержня, где механические напряжения малы, соответственно будут обладать незначительной пьезоэлектрической проводимостью, Наряду с этим, эти участки кристалла при сплошном покрытии металлом контактной поверхности, будут пропускать вредные емкостные токи.Поэтому предлагается другой путь для уменьшения параллельной емкости - уменьшение поверхности электродов...