Способ измерения профиля сложной поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1580142
Автор: Радзевич
Текст
(56)24 измерительльзовано для татыаправлнахоическоеннымповерх измерения и опреденин от реальной тдится соответствуго номинальногоданным судят о тности. резуль ком н ности теорет .получ филя ляют на каочки поверхющая точка рофиля. По очности проормула изобретени ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР л.27жинский индустриальныйИ. Арсеничевавич8)видетельство СССР01 В 5/28, 1969.(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИСЛОЖНОЙ ПОВЕРХНОСТИ(57) Изобретение относитсяной технике и может быть ис Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поверхностей сложной формы.Цель изобретения - повышение точности измерений за счет того, что измерение производят при постоянном усилии поджатия измерительного щупа к поверхности детали вдоль каждой из трех осей его перемещения во всем диапазоне относительных перемещений детали и измерительного щупа.Способ осуществляют следующим образом. Строят сферические отображения теоретических номинальных профилей контролируемых площадок поверхности с целью определения центра кривизны, положения соприкасающейся плоскости, направлений главной нормали и бинормали к каждой площадке. По полученным данным разрабатывают программу относительных перемещений контролируемой поверхности и измерительного щупа измерительной головки. Приводят поверхность и щуп в относительное перемещение до их контакта таким образом, чтобы ось наконечника совпала с направлением бинормали в каждой площадке. Фиксируют ЯО 1580142 измерения поверхностен сложной форм ы, Цель изобретения - повышение точности измерения. Поставленная цель достигается тем, что в каждой площадке поверхности строят сферическое отображение теоретического номинального профиля. Настроенными перемещениями вводят контролируемую площадку в контакт с наконечником измерительной головки так, чтобы его ось совпала с бинормалью соответствующего сферического отображения. Сравнивают полученные результаты с теоретическими и по полученным данным судят о точности профиля поверхности. Способ измерения профиля сложной поверхности, по которому выделяют площадки поверхности, определяют теоретический номинальный профиль каждой площадки, приводят поверхность и наконечник измерительной головки в относительное перемещение до их контакта, фиксируют результаты измерениясравнивают их с теоретическими и по полученным данным судят о точности профиля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, теоретический номинальный профиль каждой площадки определяют методом сферического отображения, определяют при этом направление соответствующей бинормали, а наконечник при измерении располагают таким образом, чтобы его ось совпала с направлением бинормали.
СмотретьЗаявка
4195849, 17.02.1987
ДНЕПРОДЗЕРЖИНСКИЙ ИНДУСТРИАЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. М. И. АРСЕНИЧЕВА
РАДЗЕВИЧ СТЕПАН ПАВЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/20
Метки: поверхности, профиля, сложной
Опубликовано: 23.07.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1580142-sposob-izmereniya-profilya-slozhnojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения профиля сложной поверхности</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля поперечного сечения волнистых листов
Следующий патент: Способ определения координат оси деталей, изогнутых в пространстве
Случайный патент: Термопечатающее устройство