Способ контроля линейных размеров пространственно-сложных поверхностей деталей

Номер патента: 240276

Авторы: Кобринский, Колискор, Коренд, Левковский, Сергеев

ZIP архив

Текст

240276 Секта Соеетскик Социалистическик Республик.Х 1.1966 ( 1114659/2 ч, 42 Ь, 26/О аявле с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 21.111,1969. Бюллетень1 МПК Ст Комитет по делам изобретений и открыт лри Совете Министра СССРУДК 531.717.2: :624.023.87 (088.8) ткования описания 5.И 11.1 Дата оп Авторыизобретения инский, А. Ш, Колискор, А. И. КорендясевЕ, И. Левковский и В, И, Сергеев А. Е Заявител СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ПРОСТРАНСТВЕННО-СЛОЖНЪХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ДЕТАЛЕЙИзвестен способ контроля линейных размерев пространственно-сложных поверхностей деталей измерительным устройством, заключающийся в том, что корпус измерительного устройства перемещают по траектории, определяемой теоретической поверхностью детали, измеряют перемещения щупа устройства относительно корпуса и сравнивают результат с величиной допуска.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что щуп прибора устанавливают в каждой точке контролируемой поверхности по одному и тому же направлению, а результат измерения определяют как произведение величины перемещения щупа на коэффициент, который в каждой точке поверхности равен отношению величины допуска к длине отрезка, заключенного между поверхностями, ограничивающими поле допуска, и проходящего через контролируемую точку в направлении перемещения щупа.Зти отличия позволяют упростить процесс контроля и повысить его точность.На чертеже изображена схема измерения по предложенному способу.Для,контроля линейных размеров пространственно-сложенной поверхности детали по предложенному способу измерительное устройство устанавливают так, что осью измерения его щупа является некоторая линия, проходящая через контролируемую точку а. Линия ттъп в общем случае,не совпадает с нормалью вс к теоретическому профилю А детали.Если ось измерения не совпадает с нор малью к теоретическому профилю, то допустимое отклонение размера детали в направлении оси измерения определяется уже не допуском б, задаваемым по нормали, а величиной отрезка Л, заключенного между профи лями Л и В, ограничивающихти поле допуска.Величины отрезка Л при постоянном направлении оси измерения имеют различные значения для различных точек теоретической поверхности. Так, например, для точки 0 15 при,неизменном направлении оси измерения(ии(,."ип) этот отрезок будет определяться величиной Л+Л. Таким образом, в случае постоянства направления оси измерения каждой точке теоретического профиля должно соот ветствовать свое допустимое отклонение Л,а 1 не постоянный для всех точек допуск б как при измерении по нормале к теоретической поверхности изделия.Для того чтобы при постоянстве направле ния оси измерения сохранить для всех точекодну и ту же величину б в качестве критерия годности детали, необходимо результат измерения детали в каждой точке Й умножить набкоэффициент, вычисляемый как отношение 30 Ь240276 Предмет изобретения Составитель М. Б. Нанкинедактор Т, В. Данилова Техред Л. Я. Левина Корректор И. Л. Кириллова аказ 179512НИИПИ Комитета п Тираж 480 Подписное тений и открытий при Совете Министров СССР ентр, пр. Серова, д. 4 ам изоМосква,пография, пр. Сапунова,Если Р - )о илиР - (О, то в контролируемойЛЛточке размер детали выходит за пределы поля допуска. Способ контроля линейных размеров пространственно-слоиных поверхностей деталей измерительным устройством, заключающийся в том, что корпус измерительного устройства перемещают по траектории, определяемой теоретической поверхностью детали, измеряют перемещение щупа устройства относителыно корптуса и сравнивают результат измерения с величиной допуска, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля и повышения его точности, щуп прибора устанавливают в каждой точке контролируемой поверхности по одному и тому же направлению, а результат измерения определяют как произведение величины перемещения щупа,на коэффацпент, который в каждой точке поверхности 10 равенн отношению величины допуска к длинеотрезка, заключенного между поверхностями, органичивающими поле допуска, и проходящего через контролируемую точку в направлении перемещения щупа.

Смотреть

Заявка

1114659

А. Е. Кобринский, А. Ш. Колискор, А. И. Коренд сев, Е. И. Левковский, В. И. Сергеев

МПК / Метки

МПК: G01B 5/20

Метки: линейных, поверхностей, пространственно-сложных, размеров

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-240276-sposob-kontrolya-linejjnykh-razmerov-prostranstvenno-slozhnykh-poverkhnostejj-detalejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля линейных размеров пространственно-сложных поверхностей деталей</a>

Похожие патенты