Способ анализа случайных процессов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 132867
Автор: Венчковский
Текст
132867 Класс 42 тп, 36 СССР 5 ЕД 1 Р ПИС К АВТ НИЕ ИЗОБРЕТЕНИ РСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная группа М 174 Л. Б. Венчковский СПОСОБ АНАЛИЗА СЛУЧАЙНЪХ ПРОЦЕССОвлсно 12 февраля 1960 г. за655514/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРтений20 за 19 публиковано в Бюллетене нзо аспределений случайного про 1 е многоканальные анализато й анализ, требующий больши Для исследования вероятностных рцесса обычно используют либо сложньры, либо осуществляют последовательньзатрат времени,Предлагаемый фотографический способ свободен от этих недостатков и характеризуется сочетанием достаточно высокой точности (порядка нескольких процентов) со сравнительной простотой аппаратуры 1 стандартный осциллограф и фотоприставка) и быстродействием. Способ заключается в том, что исследуемое напряжение подают на отклоняющие пластины электронно-лучевой трубки (на одну пару пластин, если исследуется одномерный закон 1 распределения, и на обе пары пластин, если исследуется двумерный закон распределения), При этом яркость засветки различных точек экрана трубки оказывается пропорциональной частоте попадания электронного луча в эти точки или в конечном итоге плотности распределения вероятностей исследуемого напряжения. Полученное на экране напряжение фотографируют на фотопластинку. Почернение фотоэмульсии анализируют с помощью микрофотометра. Для устранения погрешностей, вызванных нелинейностью характеристической кривой фотографической эмульсии и непостоянством ее при изменении условий съемки и обработки фотоматериала, на ту же пленку фотографируют с экрана осциллографа изображение калибровочного напряжения, изменяющегося по известному закону. В качестве напряжения можно использовать линейное пилообразное напряжение с несколькими наклонами с известным соотношением тангенсов углов наклона или же экспоненциальное напряжение.
СмотретьЗаявка
655514, 12.02.1960
Венчковский Л. Б
МПК / Метки
МПК: G06G 7/52
Метки: анализа, процессов, случайных
Опубликовано: 01.01.1960
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-132867-sposob-analiza-sluchajjnykh-processov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа случайных процессов</a>
Предыдущий патент: Оптический собиратель строки для устройства вывода информации
Следующий патент: Прибор для определения процентного состава взаимных систем
Случайный патент: Устройство для охлаждения валов