Венчковский

Номер патента: 132867

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Венчковский

МПК: G06G 7/52

Метки: анализа, процессов, случайных

...от этих недостатков и характеризуется сочетанием достаточно высокой точности (порядка нескольких процентов) со сравнительной простотой аппаратуры 1 стандартный осциллограф и фотоприставка) и быстродействием. Способ заключается в том, что исследуемое напряжение подают на отклоняющие пластины электронно-лучевой трубки (на одну пару пластин, если исследуется одномерный закон 1 распределения, и на обе пары пластин, если исследуется двумерный закон распределения), При этом яркость засветки различных точек экрана трубки оказывается пропорциональной частоте попадания электронного луча в эти точки или в конечном итоге плотности распределения вероятностей исследуемого напряжения. Полученное на экране напряжение фотографируют на фотопластинку....