Способ контроля качества микропроволоки для выводов полупроводниковых приборов
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1783674
Автор: Юкшинская
Описание
Способ может быть использован для изготовления изделий микроэлектроники. От каждой серии катушек исходной микропроволоки отбирают образцы. На отобранной от первой катушки микропроволоке определяют усилие разрыва, по которым устанавливают режим отжига. Проводят отжиг всей микропроволоки первой катушки. От отожженной проволоки отбирают образцы и определяют усилие разрыва. На отобранных от второй и последующих катушек проволоки определяют разброс легирующих элементов по длине. Проводят отжиг второй и последующих катушек. Отбирают образцы отожженной проволоки от второй катушки и определяют на каждом разброс легирующих элементов по длине. Оценивают изменение неоднородности распределения легирующей добавки по длине микропроволоки до и после отжига и по неизменности неоднородности судят о пригодности микропроволоки как материала для выводов изделий электронной техники. 3 табл.
Заявка
4634720/02, 09.01.1989
Производственное объединение "Альфа" им. 60-летия СССР
Юкшинская Л. А
МПК / Метки
МПК: B21B 37/16
Метки: выводов, качества, микропроволоки, полупроводниковых, приборов
Опубликовано: 09.02.1995
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1783674-sposob-kontrolya-kachestva-mikroprovoloki-dlya-vyvodov-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества микропроволоки для выводов полупроводниковых приборов</a>
Предыдущий патент: Способ обессоливания предварительно обезвоженной нефти
Следующий патент: Способ определения затухания
Случайный патент: Устройство для указания состояния элементов коммутации