Способ контроля качества микропроволоки для выводов полупроводниковых приборов

Номер патента: 1783674

Автор: Юкшинская

Описание

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОПРОВОЛОКИ ДЛЯ ВЫВОДОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, преимущественно, изделий микроэлектроники, включающий определение механической прочности по условию разрыва неотожженной и отожженной проволоки и определение годности по заданному усилию разрыва отожженной проволоки, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, проводят дополнительную оценку микропроволоки по неизменности разброса содержания легирующего компонента по длине до и после отжига.
Способ может быть использован для изготовления изделий микроэлектроники. От каждой серии катушек исходной микропроволоки отбирают образцы. На отобранной от первой катушки микропроволоке определяют усилие разрыва, по которым устанавливают режим отжига. Проводят отжиг всей микропроволоки первой катушки. От отожженной проволоки отбирают образцы и определяют усилие разрыва. На отобранных от второй и последующих катушек проволоки определяют разброс легирующих элементов по длине. Проводят отжиг второй и последующих катушек. Отбирают образцы отожженной проволоки от второй катушки и определяют на каждом разброс легирующих элементов по длине. Оценивают изменение неоднородности распределения легирующей добавки по длине микропроволоки до и после отжига и по неизменности неоднородности судят о пригодности микропроволоки как материала для выводов изделий электронной техники. 3 табл.

Заявка

4634720/02, 09.01.1989

Производственное объединение "Альфа" им. 60-летия СССР

Юкшинская Л. А

МПК / Метки

МПК: B21B 37/16

Метки: выводов, качества, микропроволоки, полупроводниковых, приборов

Опубликовано: 09.02.1995

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1783674-sposob-kontrolya-kachestva-mikroprovoloki-dlya-vyvodov-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества микропроволоки для выводов полупроводниковых приборов</a>

Похожие патенты