Юкшинская

Номер патента: 1783674

Опубликовано: 09.02.1995

Автор: Юкшинская

МПК: B21B 37/16

Метки: выводов, качества, микропроволоки, полупроводниковых, приборов

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОПРОВОЛОКИ ДЛЯ ВЫВОДОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, преимущественно, изделий микроэлектроники, включающий определение механической прочности по условию разрыва неотожженной и отожженной проволоки и определение годности по заданному усилию разрыва отожженной проволоки, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, проводят дополнительную оценку микропроволоки по неизменности разброса содержания легирующего компонента по длине до и после отжига.Способ может быть использован для изготовления изделий микроэлектроники. От каждой серии катушек исходной микропроволоки отбирают образцы. На отобранной от первой катушки микропроволоке определяют...

Номер патента: 741065

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Солоп, Юкшинская

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, растворов, спектрального

...длиной 50 мм, диаметром 0,5 мм,заточенные на острие под углом 10с площадкой 0,1-0,2 мм.Анализ растворов на.примесь проводят следующим образсю,Адсорбируют стандартный растворкалия фосфорнокислого или бури наугольном электроде и снимают кинетическую кривую адсорбции для стандартного раствора при концентрации Фосфора 2,0 мг/мл и 6,0 мг/мл и бора0,1 мг/мл и 0,6 мг/мл, для этогоконец угольного электрода погружаютпримерно на 2-3 мм в 1 мп раствора, 60 65 определяют концентрацию примесей (Фосфора и бора) в растворе по градуировочному графику зависимости почернения спектральной линии фосфора и бора от логарифма концентрации примесей в стендартном растворе. помещенный в Фторпластиновый стаканс крышкой и отверстием для электрода;выдерживают...