Способ определения распределения потенциала по поверхности образца
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Заявка
4092901/25, 20.05.1986
Всесоюзный электротехнический институт им. В. И. Ленина
Злобин В. А, Костышева У. В
МПК / Метки
МПК: H01L 21/66
Метки: образца, поверхности, потенциала, распределения
Опубликовано: 27.06.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1436785-sposob-opredeleniya-raspredeleniya-potenciala-po-poverkhnosti-obrazca.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения распределения потенциала по поверхности образца</a>
Предыдущий патент: Способ очистки хлорэтанов
Следующий патент: Способ получения изопрена
Случайный патент: Способ устранения поперечной разнотолщинности труб на редукционных станах