Способ контроля качества соединений элементов конструкции полупроводниковых приборов

Номер патента: 1636879

Опубликовано: 23.03.1991

Авторы: Гарбер, Квурт, Наибов, Файнбойм

МПК: H01L 21/50

Метки: выводом, кристалла, полупроводникового, прибора, соединения

...на металлическом облуженном выводе и на полупроводниковый кристалл подают серию импульсов от генераторов измерительного и разогревающего токов. Первый импульс измерительного тока фиксирует в амплитудном детекторе с памятью величину прямого падения напряжения на разогретом кристалле. Измеритель амплитуды огибащей импульсов измерительного тока (детектор) отслеживает изменение прямого падения напряжения на кристалле при протекании через него импульсов от генера 5 10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 тора измерительного тока. Вычитающее устройство вычисляет разность между напряжением с детектора с памятью и напряжением с измерителя амплитуды огибающей. Эта разность является изменением падения напряжения на кристалле в процессе разогрева. Она...

Номер патента: 324515

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бинский, Двухименный, Пронтарский

МПК: G01L 1/04

Метки: грунта, деформации, прибор

...якорем электромаг ита.На чертеже изображен предлагаемый прибор для измерения деформации грунта.Прибор состоит из корпуса 1 с опорной базой 2, мембраны 3, гибкой пластины 4, с наклеенными на нее датчиками б. Верхний конец пластины 4 шарнирно соединен с мембраной д, а ее нижний конец соедиаен с якорем б электромагнита 7, монтированного на опорной базе 2 корпуса прибора. Под воздействием,внешней нагрузки мембрана д прибора прогибается, и расстояние между ней и электромагнитом 7 изменяется. Для того чтобы измерить величину этого расстояния, включается электромагнит 7, который притягивает якорь с закрепленным на нем нижним концом гибкой пластины 4, которая деформируется пропорционально этому расстоянию; величина деформации определяется по...

Номер патента: 1448313

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Антюхин, Лаужа, Узарс, Феоктистов, Храмцов, Чаусов

МПК: G01R 31/04, G01R 31/26, G01R 31/28

Метки: качества, модуля, полупроводниковым, прибором, сборки, силовым

...генерируется в моментзапуская счетно-решающий блок 9, который вычисляет величину2Эта величина является показателем качества сборки модуля 1, Ее сравнивают с допусковым значением ЭА при Э З,модуль бракуют, а при Э ЭА,и, считают прошедшим испытания.Для обоснования представительности величины Э на Фиг. 3 рассмотрен процесс нагрева структуры импульсом тока 1 и ее последующее остывание, На Фиг.3 с показан импульс Е длительностью , а на Фиг. 3 - процесс изменения температуры О структуры при действии этого импульса и после него для "хорошего" и "плохого"модулей, В хорошем модуле полупроводник имеет низкое тепловое сопротивление "корпус-охладитель" и хорошие тепловые контакты внутри полупроводникового прибора. Поэтому из-за хорошей отдачи...

Номер патента: 80258

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Марковец

МПК: G01B 5/30, G01N 3/06

Метки: деформации, испытании, ползучесть, прибор

....а на фиг. 2 разрез ,по АБ. Корпус прибора выполнен в виде втулки 1, имеющей осевое отверстие и три отверстия по окружности. В нижней части осевое отверстие увеличено и имеет резьбу для крепления образца.Через все отверстия пропущены кварцевые стержни 2 и 4, Стержни 2 нижним концом опираются через фланец 3 на испытуемый образец, а на верхние концы стержня 2 опирается тарелочка 5, связанная с рычагом 6, один конец которого опирается в плечо рычага 7, связанного с ножкой 8 индикатора.Общее передаточное число от стержня 2 к ножке 8 равно 1: 10.Стержень 4 одним концом входит в глухое отверстие в головке образца, а вторым упирается через коробочку 9 в корпус 10 индикатора. Индикатор посредством пластинчатых пружин 11 и угольника 12 укреплен...

Номер патента: 191192

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Репко, Центральный

МПК: G01B 7/16, G01L 1/20

Метки: автоматический, деформаций, измерений, прибор

...мосту подключен генератор импульсного питания, а между усилителем импульсов сигнала разбаланса и реверсивным двигателем включен фазочувствительный преобразователь.Такое отличие прибора позволяет автоматически измерять деформации на материалах, обладающих малой теплопроводпостью.На чертеже показана электрическая схема описываемого прибора.Автоматический прибор содержит тензометрический мост 1 с реохордом 2, усилитель 3 импульсов сигнала разбаланса и реверсивный двигатель 4, вал которого соеднпен с подвижным контактом реохорда 2, К тензометрнческому мосту подклночен генератор б импульсного питания, а между реверсивным двигателем 4 и усилителем 8 импульсов сигнала разбаланса включен фаобразователь б, преднаразовання усиленныхса...