Способ определения содержания некаля в водных растворах в процессе его электрохимической деградации

Номер патента: 982482

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Сазонов

МПК: H01J 25/10

Метки: волн, диапазонов, длин, клистрон, миллиметрового, многорезонаторный, субмиллиметрового, усилительный

...Аокусирующем открытом резонаторе, 20и соответствии с принципом его работы,образуется каустика, т.е. конусообразная поверхность, за пределы которойф электромагнитные колебания практическине проходят, Из теории краевых волнследует, что при расстоянии, большемдлины волны от края рупора, поля практически нет, Если размеры конусообразной оболочки из материала, хорошо поглощающего электромагнитные волны,выбрать так, чтобы у рупора ее внутренний диаметр был больше диаметра раскрыва рупора й, а у зеркала большедиаметра раскрива Р, на 1-2 рабочиедлины волны резонатора, то указаннаяоболочка не будет оказывать существенного влияния на электромагнитное нолерабочего вида колебаний внутри резонатора, 1(олебания побочных,. нерабочихвидов...

Номер патента: 255684

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Пантелеев

МПК: G01H 5/00

Метки: волны, длины, лзовый, ультразвука

...изобретение относится к измерительной технике и может быть применено при измерении скорости ультразвука в жидкостях и твердых телах.Известные способы измерения длины волны ультразвука в жидкостях, основанные на использовании стробоскопического эффекта при помощи двух бегущих ультразвуковых волн, не позволяют достигнуть высокой точности измерения длины волны.По предложенному способу для повышения точности модулируют одну из бегущих волн, освещаемых пучком света, по фазе, наводят последовательно ось фотоэлектрического микроскопа на максимум освещенности видимого изображения и по расстоянию между соседними максимумами судят о длине ультразвуковсй волны.На чертеже изображена схема устройства, реализующего данный способ.Устройство содержит...

Номер патента: 293502

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Булыгин, Виноградов, Гугель, Днанов, Ирисова

МПК: H01S 3/02

Метки: волн, диапазонов, длин, миллиметрового, открытый, резонатор, субмиллиметрового

...в эгом диапазоне длн волн (измерение величщы фазовых сдвигов и степени прозрачности твердых образцов из различных веществ) предусмотрена раздвижная рамка, позволяющая помещать исследуемые образцы внутри резонатора.Раздвижная рамка может быть расположена в л 1 обой точке внутри резонатора, может вращаться вокруг двух взаимно перпендикулярных осей. В ней могут закрепляться образцы различных геометрических размеров.На фиг. 1 представлен открытый резонатор типа интерферометра Фабри-Перо; на фиг. 2 - съемный держатель образцов.Резонатор состоит из двух отражателей: переднего 1 и заднего 2, которые закреплены в оправах 3 при помощи постоянных магнитов 4.В качестве переднего отражателя применяется сетчатый элемент; в качестве заднего...

Номер патента: 391386

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Брызжев, Мирошниченко, Химченко

МПК: G01B 9/02

Метки: волн, длин, сравнения

...Д, Брызжев, О. Н. Мирошниченко и В, П Изобретение относится к области точных измерений длины волны светового излучения и может быть использовано для изучения стабильности излучения монохроматических источников света, метрологического сравнения длин волн монохроматических излучений.Известные устройства измерения длины волны света с помощью перемещающегося зеркала интерферометра, которое установлено на движущуюся каретку, обладают недостаточной точностью ввиду косвенного сравнения измеряемой длины, волны с эталонной через промежуточную шкалу.Цель изобретения - повышение точности измерения.Это достигается применением предлагаемого устройспва, особенностью которого является непосредственное автоматическое компарирование измеряемой...

Номер патента: 471634

Опубликовано: 25.05.1975

Авторы: Воробьев, Крушеницкий, Федорцев

МПК: H01S 3/08

Метки: волны, длине, интерферометр, репесматриваемый

...параллельна поверхности пластины. При этом хотя бы одна из областей пластины легируется донорной примесью до такой степени, что в Диэлектрическая проницаемость полупника в определяется по формулам; в . - высокочастотная диэлектрическая проницаемость полупроводника в отсутствие свободных носителей тока;е - заряд электрона;Р - концентрация свободных электронов в и-материале и дырок в р-материале;аказ 999,"1421ЦНИИПИ Изд Лв 8 осуда рственногого делам изоМосква, Ж-З 5,Тираж 833омитета Совета Минисетений и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеСССР Тип. Харьк. фил Патент(,о - длина волны инфракрасногосвета;иг" (и - эффективные массы электрои рнов и дырок;С - скорость света.В области объемного заряда р - п перехода диэлектрическая...