Способ измерения температуры начала кристаллизации примесей в жидком металле

Номер патента: 1258178

Авторы: Бочарин, Василевич, Сроелов

Описание

Способ измерения температуры начала кристаллизации примесей в жидком металле, включающий отбор пробы жидкого металла, охлаждение пробы жидкого металла и определение параметров движущейся пробы жидкого металла, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, на пробу воздействуют сильным магнитным полем, перпендикулярным направлению движения пробы, при этом величина магнитного поля выбирается из следующего условия:

где Во - величина магнитной индукции;
Dо - внутренний диаметр измерительного канала, по которому течет проба жидкого металла;
- коэффициент электропроводности жидкого металла;
- коэффициент динамической вязкости;
Re - константа, характеризующая соотношение сил вязкого трения и инерционных сил.

Заявка

3769126/21, 06.07.1984

Бочарин П. П, Сроелов В. С, Василевич Т. И

МПК / Метки

МПК: G01N 27/72

Метки: жидком, кристаллизации, металле, начала, примесей, температуры

Опубликовано: 10.11.2001

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1258178-sposob-izmereniya-temperatury-nachala-kristallizacii-primesejj-v-zhidkom-metalle.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения температуры начала кристаллизации примесей в жидком металле</a>

Похожие патенты