Станчиц

Устройство для измерения параметров магнитодиэлектриков

Загрузка...

Номер патента: 1659907

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Гассанов, Кошев, Красников, Лозяной, Прудкий, Станчиц

МПК: G01R 27/26

Метки: магнитодиэлектриков, параметров

...вращения вектора Н в области отверстия 12 связи, Это дает возможность не менять в процессе измеренийполярность подмагничивающего поля, создаваемого электромагнитом 10.Частота автогенератора 1, контролируемая с помощью частотомера 9, зависит отмагнитных параметров магнитодиэлектрика, устанавливаемого на отверстие 12 связи резонатора 2. Установив на отверстие 12связи эталон магнитодиэлектрика, фиксируют частоты автогенератора, меняя эталонна исследуемый магнитодиэлектрик, фиксируют уход частоты, по которому определяютискомый параметр.Устройство (фиг.2) состоит из первогоавтогенератора 1, идентичного описанномувыше, и второго автогенератора 13, состоящего иэ резонатора 2, общего для обоихавтогенераторов, первого и второго...

Двухчастотный генератор

Загрузка...

Номер патента: 1327262

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Кошев, Лозяной, Прудкий, Серко, Станчиц

МПК: H03B 25/00, H03B 5/18

Метки: генератор, двухчастотный

...относится к радиоэлектронике и может использоваться для возбуждения электрических колебаний.Цель изобретения - повышение стабильности частоты и расширение диапазона рабочих частот.На чертеже изображена структурная схема двухчастотного генератора.Двухчастатный генератор содержит два усилителя 1 и 2, первый 3 и второй 4, фазовращатели, резонатор 5 бегущей волны, невзаимный ферритовый фазовращатель 6, регулируемый Фазовращатель 7, введеные первый 8 и второй 9 направленные ответвители, элементы 1 О и 11 связи, выполненные в виде направленных ответвителей, нагрузки 12 и 13, первый 14 и второй 15 отрезки линии передачи. Двухчастотный генератор работает следующим образом.При подведении напряжения питания к усилителям 1 и 2 в резонаторе 5...

Способ испытания полимерных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1174834

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Макатрова, Протасов, Станчиц, Терегулов, Ямалеев

МПК: G01N 17/00

Метки: испытания, покрытий, полимерных

...металлической дорожки; на Фиг. 3 - калибровочный график для определения истинной скорости коррозии.15Устройство для реализации способа содержит держатель 1, в который ввинчивается многогранное диэлектрическое основание 2, на наружную поверхность граней которого наносят металлические дорожки 3, ширина которых должна быть меньше ширины грани, чтобы эти дорожки электрически не взаимодействовали между собой, Дорожки 3 наносят на грани основа ния 2 напылением или наклейкой их в виде металлической фольги. Таким же образом, с помощью вспомогательной подложки или непосредственно, наносятся эталонная дорожка 4 на внутреннюю поверхность полости 5 основания 2. Эталонная дорожка 4 и элностью,аналогична дорожкам 3. Полость 5 изолирована от...

Способ исследования противокоррозионных свойств полимерных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1019292

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Ведерникова, Низамов, Протасов, Станчиц

МПК: G01N 17/00

Метки: исследования, покрытий, полимерных, противокоррозионных, свойств

...на подложку вокругдополнительного электрода и замеряютизменение сопротивления напыленногослоя металла, по которому судят оскорости коррозии.43Кроме того, с целью исследованияпротивокоррозионных свойств многослойного полимерного покрытия, подкаждый слой покрытия напыляют слойметалла.На фиг.1 приведена схема устройства для реализации описываемогоспособа; на фиг.2 - схема размещениякоррозионностойкого электрода и размещенного вокруг него слоя напыленного металла на диэлектрической подложке.Устройство дг,я реализации способасодержит электролитическую ячейку 1 92 2с притертой крышкой 2, в которую вставляют электролитический ключ 3 и вспомогательный остеклованный электрод 4, краны 5 и 6 для заполнения ячейки 1 агрессивной средой и краны 7 и 8...

Бесконтактный способ измерения температуры полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 694774

Опубликовано: 30.10.1979

Авторы: Кораблев, Станчиц, Страковская

МПК: G01J 5/58

Метки: бесконтактный, полупроводников, температуры

...соответственно, при таком угле падения, большем главного, при котором угол Л имеет наибольший температурный коэффициент, причем этот угол падения предварительно определяют экспериментальным или расчетным путем.На фиг. 1 показаны температурные зависимости эллипсометрического угл а Л для образца йаАз/111/В для трех углов падения светового пучка на поверхность образца при длине волны 1=0,6328 мкм; экспериментальные кривые, измеренные прп углах падения 65 и 7740 соответственно; кривая, рассчитанная для этого же образца для угла падения-- 76. Расчет проводился на вычислительной машине по точ ным уравнениям Друде для следующей модели отражающей поверхности образца: поглощающая подложка (ЙаЛз) - поглоощающая пленка, толщиной =60 Л, исходя...