Шктц
Способ измерения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков
Номер патента: 218307
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Крумин, Ордена, Фрицберг, Шктц
МПК: G01R 27/26
Метки: поляризационных, сегнетоэлектриков, характеристик
...сигнала, 3 измерительная схема, 4 - импульсный вольтметр, 5 - самопишущее устройство, 6 - схема управления режимамп измерения.Ь ряду А представлены осциллограммы напряжений (К Ьв и У), подаваемых на измерительную схему, а - спнусоидальный режим, б - импульсный режим со скважностью у=1; в - импульсный режим со скважностью у=2; в ряду Б - осциллограммы напряжений на эталонном конденсаторе при соответствующих режимах измерения; в ряду В - осцилло 218307граммы петель гистерсзпса, получаемых ПО известному способу.На измерительную схему 3, состоящую из последовательно сосдппеппых испытуемого образца емкости Си эталонного конденсатора емкости С подают папряжспис опрсдссСппой формы, сформированное из с)шусоидального сигпала с помощью...