Способ измерения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков

Номер патента: 218307

Авторы: Крумин, Ордена, Фрицберг, Шктц

ZIP архив

Текст

ОП И САНИ Е 2183 О 7ИЗО ВРЕТЕ Н И Я,к ьвторскомю свидвтвпьству т " у.:"= .,ттот Союа Советских Социалистических РеспубликЗависимое авт. свидетельствал. 21 е, 36,10 аявлено 20.1.1967 ( 1152565/26-10) соединением заявкиПриоритет ПК 601 Комитет ло деламобретений и открытийри Совете МинистровСССР ДК 621.317.335:537,22 ,81088.8) ют тетень17 убликовано 17 Л.1968 ата опубликования описания 26.Л 11.19 авторы зобретения В. Я, фрицберг,. Э. Круминь и Э. Э. Шит Заявитель дена Трудовогогосударственный оного Знамени Латвииск иверситет им. П, Стучки ОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИОННЪХАРАКТЕР ИСТИ К СЕГ Н ЕОЭЛ ЕКТР И КОВ ения поляризается от извссгобразец и этагармоническос с различной ах напряжениякоторому суПредлагаемыи спосоо измер ционных характеристик отлича ного тем, что на испытуемый лонный конденсатор подают или импульсное напряжение скважностью и измеряют разм на эталонном конденсаторе, по дят об измеряемой величине. Благодаря этому повышает уменьшается время измерения.я точность Предлагаемый способ предназначен для исследования поляризационных характеристик сегнетоэлсктрических материалов в широком диапазоне температур и напряжений и относится к области электронной техники.В известных способах определения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков путем обработки гистерезисных кривых, получаемых на электроннолучевом осциллографе, синусоидальнос напряжение подают на после довательпом соединении испытуемого образца и эталонного конденсатора. Часть этого напряжения поступает на горизонтальные пла. стины, напряжение с эталонного конденсатора, пропорциональное поляризации испытуемого 1 образца, подают на вертикальные пластины осциллографа. На экране осциллографа регистрируется зависимость поляризации Р от напряженности электрического поля Е (петля гистерезиса). После градуировки осей кривую 2 фиксируют на фотопленку. Обработка изображения позволяет определить основныс поляризационные характеристики сегнетоэлск грического материала: полную поляризацию Р обратимую поляризацию Р. и остаточную 2поляризацию Ра Однако эти результаты не отличаются достаточной точностью и требуют большой затраты времени. На фиг, 1 приведена блок-схема установки для измерения поляризационных характеристик по предлагаемому способу, на фпг. 2 изображены осциллограммы напряжений на различных элементах блок-схемы.На фиг. 1 обозначено: 1 - источник высоковольтного напряжения синусоидальной формы, 2 - схема формирования сигнала, 3 измерительная схема, 4 - импульсный вольтметр, 5 - самопишущее устройство, 6 - схема управления режимамп измерения.Ь ряду А представлены осциллограммы напряжений (К Ьв и У), подаваемых на измерительную схему, а - спнусоидальный режим, б - импульсный режим со скважностью у=1; в - импульсный режим со скважностью у=2; в ряду Б - осциллограммы напряжений на эталонном конденсаторе при соответствующих режимах измерения; в ряду В - осцилло 218307граммы петель гистерсзпса, получаемых ПО известному способу.На измерительную схему 3, состоящую из последовательно сосдппеппых испытуемого образца емкости Си эталонного конденсатора емкости С подают папряжспис опрсдссСппой формы, сформированное из с)шусоидального сигпала с помощью схемы формировашя сигнала 2. Схема управления режимами измерения 6 осущсствляет автоматическое псрскл)счение режимов измсрспия. Напряжение 1 и эталонном копдспсаторе, пропорпиональпос поляризации испытуемого образца (прп условии Со С), измеряют импульсным вольтметром 4. Произведя градупровку вольтметра в значениях поляризации, можно измсрять зависимость поляризации от напря)кения и температуры, Самопишущее устроиство с) на выходе импульсного вольтметра позволяет записать измеряемую величину автоматически.В режиме а иа измерительную схему подают синусоидальпое напряжение и измеряют полную поляризацию образца Р в режиме б подают импульсы сипусоидальпой формы со скважностью у=1 и измеряют обратимую поляризацию Р. Остаточную поляризацию Р, определяют графически вычитанием значс- ииЙ, записа 1 Иых па лепте ся)10 писца,В РС)КИ )С В Па ПЗ)1 СОИТС,1 Ы Ю СХС. Г 10,1 с 1- ЮТ ИМПУЛЬСЫ СИПУСОПДс 1,1 Ы 10 Й ФОРМЫ СС скважностью ус 2 и измеряют сумму обратимой и рслаксирующсй поляризации Р Рс,гс 1 КСП 1)М 10 П)У 10 ПОГ 51 РИЗЛЦИ 10 ОПРСДС,51 ЮТ ГРс)- с 1)исСскп5Р;=-Р, - Р .)Предлагаемый способ позволяет определитьпс только характеристики, получаемые известным способом (полпую поляризацию Р обра И) УЮ ПОЛ 51 РИЗс 1 ЦИ 10 СИ ОС 1 аТОП 1 УЮ ПОЛЯРИ зацию Рг), ИО такжс и повыс характсристикп(обр;п и 1 о по,гяризацию Р, и рслаксирующ) ю полярпзаци)о Р,;).СопостаилшПс полярпзациоппых характеристик, записанных па врсмсппой диаграмме, с 15 сппхроппыми диаграммами тсмпсратуры Т цпапряжеопост 1 электрического поля Е позво- Л 51 СТ П с)ХОДИЬ За ВИСИ.ОСТИР=)(Т) при Е=-сопз( иР - (Е) прп Т=сопз(.20П р сдм ст изобрстспи я3Способ измерения поляризациоппых характсристик сспгстоэлскриков с использовапи см последовательно сос;шпеппых испытуемогоОбргЗца и ЭтаЛОНПОГО КОПДСПСатОра. Ог.гпгсгаго- ССССССССЯ 1 С)1, ТО, С ЦСЛЬО ПОБЫП 1 СПИ 51 ТОЧПОСТ И У)1 С 1 ЬПСПП 5 ВРС)1 СПП ИЗ)СРСПП 51, Пс 1 ИСПЫТС)Ь 1 И ООРаЗСЦ И Этс)ЛОПП 1 И КОП;1 СИСс 1 ОР ПОДаОГ 30 Гар.10 пичсскОс 1 Ли импульс 100 папряжсппс1)с 13 Л 1 чпой сквсжпОстью и измеР 51 ют Раз)ссх Ис)ПР 51 жСПИ 51 Па ЭТИЛОППОМ КсНДСПСЗТОРС) ПО к 010 ро)у суд 51 т 00 пз)сряс)ОЙ вслииве,218307 фы 2,Р Составитель В. Н. Фетина ейфиц Тскрсл Т. П, Курилко Корректоры: И. Л, Кириллов и Л. В, 1 Ошннляктор С. И. 362, 9 И Кьиитета по аказЦ 1 И Р инография. пр. Сапунова, 2 Тирани 530таги изобретений н открытий п 1 п Москва, Центр, пр. Серова, л. 4 11 олппсноеовете Министров СССР

Смотреть

Заявка

1152565

В. Я. Фрицберг, А. Э. Круминь, Э. Э. Шктц, Ордена Трудового Красного Знамени Латвийский государственный университет П. Стучки

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: поляризационных, сегнетоэлектриков, характеристик

Опубликовано: 01.01.1968

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-218307-sposob-izmereniya-polyarizacionnykh-kharakteristik-segnetoehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков</a>

Похожие патенты