Пирозерский

Номер патента: 1783394

Опубликовано: 23.12.1992

Авторы: Занадворов, Лебедева, Норматов, Пирозерский, Серебряков

МПК: G01N 21/88

Метки: качества, кристаллов, оптический

...лазерного излучения. сталлом. Измерение сигнала разности поЭОДиФГЭеозникаютвследствиеквад- тенциалов на обкладках конденсатора приратичной нелинейности, допускаемой 20 воздействии светом в различных кристаллокристаллическими классами, в которых от10 20 результаты конкретных примеров контроля, 25 30 на вход стробЬскопического осциллографа 357; на другой его вход поступает сигнал от днюю грань кристал а (у-срез) устанавлива определяется для разных кристаллографи ческих направлений, 0 качественных характеристиках кристаллов судят по.эталонным зависимостям в сравнении с полученными кривыми, форма зарегистрированного сигграфических направлениях дает возможность определить все компоненты тензора нелинейной восприимчивости, что позволяет судить...