Калеганов

Номер патента: 1377692

Опубликовано: 28.02.1988

Автор: Калеганов

МПК: G01N 25/14

Метки: выделения, газов, инертных, минералов, реактор

...откачки с одновременным его внешним и внутренним прогревом до достижения низкого фона реактора по определяемым инертным газам в холостой плавке (без образца), Затем в тигель из прободержателя сбрасывают один обра-. зец, Для быстрого удаления сорбированных на образце и его упаковке газов путем их откачки тигель предварительно нагревают до 200-250 С. Указанная температура может быть иной в зависимости от степени сохранности инертных газов в образцах при их нагревании.После прекращения откачки десорбированных с образца газов производят подъем температуры нагревательного элемента до значения, на 150-200 С превьппающего температуру плавления образца, но не ниже чем до 1400 С, что необходимо для нормальной работы газопоглотителей....

Номер патента: 1032378

Опубликовано: 30.07.1983

Автор: Калеганов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, рентгенофазового

...текстувирования, 8 силу этого дифрагированное мешающей Фазой излучение бу дет только по одну сторону от на10 5 20 25 40 45 50 55 З 10правления первичного пучка - под углом 2 6 к этому пучсу. На другомвозможном направлении (-26) указанное излучение будет отсутствовать.Частицы же определяемой фазы, расположенные хаотично, будут создавать дифракционное излучение по всемнаправлениям, лежащим на поверхностидифрасционного конуса, в частности ив направлении -29, которое, следовательно, будет свободно от наложенияизлучения мешающей фазы.Рассмотрим общий случай, когдаотражающее семейство плоскостей мешающей фазы расположено под некоторым углом к плоскости текстурирования, т.е. к внешней плоскости ца"стиц этой Фазы, параллельных плоскости...

Номер патента: 857817

Опубликовано: 23.08.1981

Автор: Калеганов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, образцов, порошкообразных, рентгеновского, фазового

...интенсивностей аналитических линий фазы в образце и эталоне, эталон выполняют в виде плоскопараллельной пластинки, укрепляют его на поверхности образца и прн облучении857817 Формула изобретения Составитель Е.Сидохин едактор О.Малец ТехредМ, Рейвес Корректор Е,Рошк07 П енного комитета етений и открыти Раушская наб,7231/71 Т ВНИИПИ Госудпо делам 13035, Москва сноеР ж ак зобрЖлиал ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проек располагают эа образцом по ходу первичного луча.На чертеже схематически показан ход рентгеновских лучей при осуществлении рентгеновской съемки 1 на просветф.Первичный рентгеновский луч 1 и луч 2, возникающий врезультате дифракции от определяемой фазы в образце 3, образуют одинаковые углы 8 с нормалью 4 к поверхности образца 3...