H01J 37/29 — зеркальные (отражательные) электронные микроскопы

Номер патента: 124990

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Дер-Шварц

МПК: H01J 29/56, H01J 37/29

Метки: микроскоп, отражательный, электронный

...и направлению. Меняя напряжение на электродах пр(электростатическая призма) или ток в обмотках (электромагнипризма), можно менять ее корректирующее действие. Меняя ориентаполя призмы в плоскости, перпендикулярной оптической оси, можноти направление коррекции. Принцип работы призмы ясен из схем,веденных на фиг. 1 (электростатическая призма) и фиг. 2 (электронитная призма). ые электро наличиехка- стиизобретен Предм Йся тем, вки, за его статическая ярное оптиполе изобй электрон анения хро ображение ная призма копя, и кор тлич ающ ции юстиро на электро ерпендикул мметричное ныи микроскоп, оматической аберралинзами установлсоздающая поле,ректпрующая осес Отр ажател ьнчто, с целью устформирующими иили электромагниеской оси микроражения. Г. В....

Номер патента: 184365

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Абалмазова, Иванов, Чил

МПК: H01J 37/29

Метки: зеркальный, микроскоп, электронный

...жестко.В предложенной конструкции объектив за креплен в колонне микроскопа с помощью амортизирующей подвески, что позволило значительно снизить астигматизм электронно-оптической системы и, таким образом, повысигь разрешающую способность микроскопа. 10На чертеже изображен микроскоп в разрезе, Плато 1, на котором крепится и предварительно юстируегся пятиэлектродный иммерсионный объектив 2, опирается на выступы колонны 3 с помощью болтов 4, закрепленных 15 х пружин 5. Это ручками б с эксц под углом 90 от ть угол наклона ческой оси микро внутри возврати можность двумя расположенными друг друга, мен относительно опт дает возентриками, носительно объектива скопа до 7. едмет изобретения Зеркальный электрон жащий колонну с пяти онным...

Номер патента: 210959

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Кушнир, Розенфельд

МПК: H01J 37/29

Метки: изображения, микроскопе, отражательном, электронном

...поперечного сечения к наименьшему ошению синуса угла наблюдения к ла скольжения освещающего пучка,При обычно используемых зн лов а 1=1 и ив=20 протякенн ного участка оказывается в 20 чем это необходимо для наблюде водит к бесполезному нагреву оПредлагаемый способ получен ния в отражательном электронн пе отличается от известных тем, снижения мощности, выделяемой жения осве Для набл ка объекта сти, перпенд ка), необхо облучать эл щий форму 4 р наачениях угсть освещенраз больше, ния, что приразца.ия изображеом микроскочто, с целью электронным О Сущностом, чтоный пучили промлоперечно5 образом,ка в плосся наимеразмераравно отнО синусу уг формируют освещающиинекруглого сечения и и образом, чтобы проектка объекта на плорную оптической оси...

Номер патента: 255430

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Артамонов, Бродский

МПК: H01J 37/29

Метки: зеркальный, микроскоп, электронный

...электронныймикроскоп представляет собой сферический 10 конденсатор, часть внешней полусферы 1 которого покрывается с внуреннней стороны люминесцентным экраном 2; противоположная полусфера 3 делается прозрачной, например из металлической сетки. В середине экрана 2 15 на полусфере 1 имеется отверстие 7 для влетапучка электронов пз источника электронов 4.Внутренней сферой служит поверхность мишени 5, укрепленной на держателе б,Все устройство помещается в вакуум, Воз можен также вариант, когда внешняя сфераизготовляется из стекла и является одновременно вакуумным объемом.Принцип действия предлагаемого устройства состоит в следующем.25 Из источника электронов 4 пучок электронов через отверстие 7 попадает в сферический конденсатор, где...