G01N 23/08 — с помощью электрических средств обнаружения

Страница 2

Томографическое вычислительное устройство

Загрузка...

Номер патента: 950204

Опубликовано: 07.08.1982

Автор: Йоханнес

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительное, томографическое

...которой определено измеренноезначение (г,81). Функция )(г) является симметрйчной функцией (см.формулу 2), т.е. а(д)=ц(-д). Весовые мно,жители о(д) определяются с помощьюформулы (2), причем вычисляется интеграл в границах -Ки +К, где Вп определено шириной измерительной траектории, вдоль которой определена измеренная величина. Если а - наибольшее расстояние между центрами двух 5 параллельных измерительных траекторий, й может быть выбрано равным 0,5 а. Из (2) далее следует, что.ВМЩ 1, УЩ Вб (ц(.Ч, -3 д), 10Таким образом, величина поглоце;ния в точке (г, ч ) может быть рассчитана из выражения3 15% (,г, Ч) = 233- И(фю ч ) ф 1 Юг=О В =О (Я в котором величина поглощения Ф(г,Ч) выражена как сумма всех вкладов аЧ, причем каждый вклад равен...

Устройство для автоматической отбраковки сварных соединений при радиационном контроле

Загрузка...

Номер патента: 962796

Опубликовано: 30.09.1982

Авторы: Балдаков, Валевич, Довженко, Троицкий

МПК: G01N 23/08

Метки: автоматической, контроле, отбраковки, радиационном, сварных, соединений

...7, дешифратор 8, преобразователь 9 путьколичество импульсов, одновибраторы 10, логический элемент ИЛИ 11,схему 12 совпадения, преобразователь 13 амплитуда-длительность,регистратор 14, источник 15, контролируемое изделие 16.Устройство работает следующимобразомПри перемещении контролируемогоизделия 16 дефект пересекает узкий коллинированный пучок источника 15 ионизирующего излучениядва раза, при этом на выходетриггера 5 Формируется нормированный импульс, передний фронткоторого соответствует установкетриггера в "1" состояние от компаратора 3, а задний фронт соответствует сбросу. триггера в "0"состояние от компаратора 4. -Приэтом длительность импульса Т навыходе триггера соответствует времени Т=й 1-1 между моментами срабатывания...

Вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 972346

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Вайнберг, Казак, Клюев, Курозаев, Плоткина

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительный, томограф

...4 датчиков пространственных коор 46 4динат, блок 5 предварительной обработкиизмерительных данных, блок 6 дифференцирования второго порядка, представляющий собой блок пространственно-частотнойфильтрации блок 7 обратного проецирования и суммирования фильтрованных величин, блок 8 памяти изображения, исследуемый объект 9, установленный на держателе, механизм 1 О многооборотного вращения, механизм 11 однократного перемещения,Источник 2 излучения" и блок 3 детекторов расположены в плоскости контролируемого сечения по разные стороны отобъекта 9 контроля. Сканирующая система 1 и составляющие ее механизмы 10и 11 определяют относительное положениеблоков 2, 3 и 9 в процессе сканированияи механически связаны с блоком датчиковпространственных...

Устройство для радиационного контроля стержневых твэлов

Загрузка...

Номер патента: 972347

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Васильева, Косарев, Кузелев, Майоров

МПК: G01N 23/08

Метки: радиационного, стержневых, твэлов

...спект-рометрические каналы регистрации, выходы 2которых связаны с ЭВМ, и подключенноек ЭВМ устройство визуализации, введенысредства получения коллимированных пучков собственного излучения контролируемого ТВЭЛа по двум наборам взаимноперпендикулярных траекторий, проходящихчерез сечение ТВЭЛа, причем каждый набор детекторов включает, по меньшей мере, два установленных с противоположныхсторон держателя ТВЭЛа детектора, подключенные.к выходу каждого спектромет 35рического канала сумматор и запоминающее устройство, подключенный к выходамсумматора и запоминающего устройства, для каждого спектрометрического канала4 Оделитель для получения отношений измеренных сигналов для каждой из траекторий одной совокупности к суммарной интенсивности...

Нейтронный влагомер

Загрузка...

Номер патента: 1004831

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Авдеев, Карманов, Муканов, Мышляев

МПК: G01N 23/08

Метки: влагомер, нейтронный

...плотности медленных нейтронов.Задатчиком б интенсивности излучения задается сигнал, пропорциональный интенсивности источника 1излучения. Этот сигнал поступаетна модель 7 объекта контроля, которую в рабочем диапазоне измененийвлажности кокса можно представить,в частностк., в ниде зкспоненциальной зависимости, т,е.1 (с) = 1 Е. Ргде 1 Р(1) - сигнал на ныходе модели объекта контроля в 1-ый момент времени; 6 1 - выходной сигнал задатчика б;1(С) вкоэффициент, характеризующий влажность кокса,Сигнал 1 в блоке 7 .преобразуется по укаэанной зависимости и поступает на вход модели 10 измерительной цепи, например, в ниде инерционного звена первого порядка, которое описывается выражениемД 1 Ю1 ж + 1 = К 1 (С)где К - коэффициент усиления;Т -...

Радиоизотопный прибор

Загрузка...

Номер патента: 854141

Опубликовано: 30.06.1983

Автор: Теснавс

МПК: G01N 23/08

Метки: прибор, радиоизотопный

...вкотором преобразуется в поток электрических импульсов, Этот поток электрических импульсов через устройство5 суммирования подается на вход дифференциального измерителя б среднейчастоты. На другой вход дифференциального измерителя б поступает огорНый сигнал (импульсный поток) от источника 7 опорного сигнала. Величинаопорного сигнала обычно выбираетсятакой, чтобы ее величина соответствовала величине сигнала, поступающего от блока 2 при номинальном значении измеряемой величины, напримертолщины.При этом, устанавливая требуемуюкрутизну статической характеристикидифференциального измерителя б средней частоты, на его выходе получаемсигнал, пропорциональный величине отклонения контролируемого параметра,Это справедливо в случае, если зависимость...

Рентгенорадиометрический анализатор состава вещества

Загрузка...

Номер патента: 873766

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Андрес, Варварица, Колесников, Мамиконян, Мельтцер, Моргенштерн, Мюллер, Ридель, Филатов, Шокин

МПК: G01N 23/08

Метки: анализатор, вещества, рентгенорадиометрический, состава

...сравнения связан с входом вт 9 рой схемы регулирования, выход второй схемы регулирования. соединен суправляющим входом второго регулируемого делителя напряжения, управляющие входы первого и второго электронных ключей и схемы сравнениясоединены с соответствующими выходами схемы согласования,На чертеже представлена схемаанализатора.Анализатор. содержит анализируе- .мый образец 1, форвакуумный насос 2,измерительную камеру 3, кольцевойисточник излучения. 4, окно 5, газовый сцинтиллятор 6, устройство газового питания 7, электронные Фотоумножители (ФЭУ) В и 9, переменныерезисторы 10 и 11, разделительныеемкости 12 и 13, регулируемые делители напряжения 14 и 15, схему сложения 16, регистрирующее устройство 17, ключи 18 .и 19, дифференциальные...

Рентгеновский вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 1052954

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Бачинский, Мишкинис, Парфенова, Рубашов, Шмидт

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительный, рентгеновский, томограф

...источника и параллельной осиосновного поворота рычага.На чертеже представлена схемарентгеновского вычислительного томографа,Рентгеновский вычислительный томограф содержит узкоколлимированныйрентгеновский источник 1, детектор 2соединительный рычаг 3, на протиноположных концах которого установлены источник 1 и детектор 2, держа"тель 4 исследуемого объекта 5. Трубка.(источник) 1 .устанонлена на пово"ротном элементе 6, .который приводится но вращение с помощью привода 7.Поворотный элемент 6 и привод 7 уста"новлвны на поворотной раме 8, приво"димой но вращение с помощью привода 9, Рама 8 совершает вращение вок"руг оси О, проходящей через исследуемый объект 5. Трубка 1 вместе срычагом 3 и детектором 2 совершаетповорот с помощью...

Способ исследования плотности материалов

Загрузка...

Номер патента: 1078296

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Асланян, Безирганян, Семерджян

МПК: G01N 23/08

Метки: исследования, плотности

...через образец и регистрации прошедшего через образец излучения, образец размещают в зазоре рентгеновского двублочного многокристаллического интерферометра с расстоянием между блоками, меньшим толщины каждого иэ блоков, ширину пучка в направлении, параллельном плоскости дифракции, выбирают большей размера образца в соответствующем направлении и о степени неоднородности распределения плотности судят по нарушению интерференционной картины от части пучка, прошедшей через об разец, относительно интерференционной картины от части пучка, прошедшей вне образца.На фиг, 1 показан рентгеновский двухблочный интерферометр; на фиг.2 65 рентгенооптическая схема предлагаемого способа,Способ реализуют следующим образом.Двублочный интерферометр...

Способ протонной радиографии

Загрузка...

Номер патента: 1080604

Опубликовано: 15.04.1985

Авторы: Алхазов, Белостоцкий, Воробьев

МПК: G01N 23/08

Метки: протонной, радиографии

...размером 1 мм.По совокупности измеренных углов рассеяния находится среднее значение 20 квадрата угла рассеяния 3 по формуле1где 1 - номер частицы, прошедшей через образец,Й - полное число частиц,номер участка. ЗОПри достаточно большомэкспериментально найденная величина Ц, близка к математическому ожиданию , квадрата угла рассеяния с Я которое(3)40где Е 5 = 21,2 МэВ;- импульс частицы, МэВ/с;3 - отношение скорости частицы к скорости света;авыражена в радиационных длинах, которые зависят от свойстврассеивающей среды и табулируются.Нри малых толщинах образцовФормула (3) достаточно точная иможет использоваться для практических целей, При больших толщинах образцов, когда становится существенным изменение энергии частицпри прохождении образца,...

Способ рентгеновской томографии и рентгеновский томограф для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1119438

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Вайнберг, Кантер, Моргенштерн

МПК: G01N 23/08

Метки: рентгеновский, рентгеновской, томограф, томографии

...информацию о структуре исследуемого слоя контролируемого объекта. Из описания способа видно, что его осуществление возможно только в том случае, если динамическая нерезкость, обусловленная перемещением контролируемого объекта, источника и регистрирующего элемента, меньше геометрической нерезкости, обусловленной меньшим из используемых фокусов. Это условие является критерием для выбора скорости указанного перемещеРентгеновский томограф содержит источники рентгеновского излучения 1 с двумя отличающимися по размеру фокусами 2 и 3, заключенную в светонепроницаемую кассету 4 электрорентгенографическую пластину 5 с металлической подложкой 6 и полулроводниковым слоем 7, который расположен в контакте с диэлектрической пластиной 8 с...

Рентгеновский вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 1168838

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Метальников, Мухин, Рубашов

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительный, рентгеновский, томограф

...- натуральное число, в качестве кольцевых счетчиков используют регистры сдвига с логической обратной щ связью в виде сумматора по модулю два.Быстродействие томографа достигается за счет обеспечения интегрального режима измерений при получении д топографического изображения, при котором каждым детектором регистрируют излучение, прошедшее через исследуемый объект одновременно от нескольких источников рентгеновского излучения. При последующей численной обработке результатов измерений и предложенном выборе одновременно включаемых источников рентгеновского излучения, удается разделить вклады каждого источника в результат измерения каждым детектором.Пусть интенсивность прошедшего через объект излучения от Б-го источника рентгеновского...

Плотномер

Загрузка...

Номер патента: 782488

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Калашников, Шереметьев

МПК: G01N 23/08

Метки: плотномер

...детектори регистрирующее устройство введеныконденсатор и резистор, образующиеразделительную 8 с-цепь, а такжекомпаратор и два одновибратора, выход детектора через разделительнуюС-цепь присоединен к входу компаратора, второй вход компаратора присоединен к общей шине, а к выходу компаратора последовательно подключеныдва,одновибратора, при этом длительность импульса первого одновибратораменьше длительности импульса детектора, а второго - больше.На чертеже приведена схема плотномера,Излучение от источника 1, проходячерез контролируемый объект .2, попада.ет в детектор 3, выход детектора 3через конденсатор 4 присоединен квходу компаратора 5, Второй входкомпаратора 5 присоединен к общейшине источника питания. Входы компаратора 5 соединены...

Фантом для контроля метрологических характеристик вычислительного томографа

Загрузка...

Номер патента: 1224685

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Блинов, Игнатов, Лейченко, Урванцова

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительного, метрологических, томографа, фантом, характеристик

...Тираж 778 Подписное ВНИИПИ 1 осударственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, 11 осква, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к рентгенотехнике, а именно к фантомам для контроля характеристик вычислительного томографа.Пель изобретения - повьшение точности и расширение функциональных возможностей контроля.Если в тканеэквивалентном материале создать систему отверстий, размеры которых меньше пространственного раз О решения томографа, то при восстановлении изображения такого материала в томографе это будет эквивалентно некоторому уменьшению плотности материала к рентгеновскому излучению. Для 15 создания зон с меньшей и большей плотностью...

Способ рентгеновской дефектоскопии изделий

Загрузка...

Номер патента: 1226207

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Валуев, Ефанов, Лютцау, Парамонов, Сарпов, Хакимьянов

МПК: G01N 23/08

Метки: дефектоскопии, рентгеновской

...напряжения на источнике рентгеновского излучения из условияЙ=сопз, где д - толщина изделия (путь прохождения излучения в бездефектном изделии по направлению на детектор); 1 Ц линейный коэффициент поглощения излучения, зависящий от эффективной энергии излучения, определяемой высоким напряжением на источнике рентгеновского излучения. Далее задают закон изменения анодного тока источника рентгеновского излучения из условия 1 Б сотай, гдеБ - высокое напряжение;- анодный ток. Просвечивание изделия производят сканируюшим пучком рентгеновского излучения при соблюдении указанных законов изменения высокого напряжения и анодного тока источника рентгеновс кого излучения. В результате этого при беэдефектном издепии сигнал детектора,...

Рентгеновский аппарат

Загрузка...

Номер патента: 1260782

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Блинов, Лейченко, Лясс, Муханов, Ставицкий

МПК: G01N 23/08

Метки: аппарат, рентгеновский

...введенного в исследуемый объект 15 изотопа, а анодный ток задают источни ком 3 таким образом, чтобы интенсивность рентгеновского излучения на выходе из объекта 15 была соизмерима синтенсивностью выходящего из негогамма-излучения. Это обеспечивает оди О,наковый режим работы гамма-камеры 4для обоих видов излучения. Фокусировка коллиматора 6 и гамма-камеры нафокус рентгеновской трубки 1 обеспечивает однозначную локализацию мест вы.15 хода гамма-излучения на траекторияхраспространения рентгеновского излучения, выделяемых каналами коллиматора 6.В наиболее простом режиме исследований трубка 1 и гамма-камера 4 пере мещаются линейным образом вдоль исследуемого объекта 15. В более сложном варианте добавляются и их ново"роты...

Фантом для контроля метрологических характеристик рентгеновских вычислительных томографов

Загрузка...

Номер патента: 1390549

Опубликовано: 23.04.1988

Авторы: Блинов, Волосюк, Игнатов, Лейченко, Яковлев

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительных, метрологических, рентгеновских, томографов, фантом, характеристик

...зависимости рентгеновской плотности материала тела фантома и вставок от высокого напряжения на рентгеновскойтрубке томографа.Фантом для контроля рентгеновскихвычислительных томографов представляет собой дискообразное тело иэ полистиролас пазами, в которые введены вставки 2 иэ полистирола с добавкой, в качестве которой использованпорошкообраэный графит,Вставки 2 с добавкой различныхколичеств порошкообразного графитаимеют аналогичную полистиролу энергетическую зависимость рентгеновскойплотности (фиг. 2), что позволяетосуществлять простой контроль метрологических характеристик вычислительных томографов во всем рабочем диапазоне высоких напряжений.Таким образом, использование порошкообразного графита полностьюсохраняет полезную...

Способ получения теневых проекций при томографическом исследовании объектов

Загрузка...

Номер патента: 1396021

Опубликовано: 15.05.1988

Авторы: Бачинский, Лелеков, Метальников, Розенталь, Семин

МПК: G01N 23/08

Метки: исследовании, объектов, проекций, теневых, томографическом

...из него, При этом формируемаякаждым детектором 4.1-4.И проекцияимеет "хвост", обусловленный послесвечением сцинтиллятора и искажающийистинную проекцию, 35Предлагаемый способ получения теневых проекций осуществляют путем двойного разнонаправленного сканированияисследуемого объекта 3 и дискриминации "хвостов" теневых проекций, фор- фмируемых каждым детектором 4,1-4.И.Двойное разнонаправленное сканирование исследуемого объекта 3 приводитк тому, что "хвосты отклика детекторов 4,1-4,И Формируются по разные сто 45роны от истинной проекции. В результате появляется возможность устранения1 хвостов" путем дискриминации на основе выбора минимального значения сигнала каждого детектора 4,1-4,И в зоне каждого "хвоста" из значений, соответствующих...

Способ получения теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения

Загрузка...

Номер патента: 1402871

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Митрофанов, Подурец, Соменков, Тюгин, Чистяков, Шильштейн

МПК: G01N 23/08

Метки: внутренней, излучения, картин, объекта, помощью, проникающего, структуры, теневых

...2, отражается от него под бреггавским углом и направляется на объект 3. Часть излучения проходит через объект 3 без преломления (показана сплошной линией на Фиг, 1), другая часть излучения преломляется на внутренних поверхностях раздела и падает на второй монокристалл 5 под углами, отличными от брегс говского (показаны штриховой линией на фиг. 1), Если это угловое отклонение больше эффективного угла коллимации, обеспечиваемой парой моно- кристаллов 2 и 5, то преломленное излучение не отражается вторым моно- кристаллом 5 в отличие от излучения, прошедшего через объект 3 без преломления, которое отражается монокристаллом 5 под углом Брегга и направляется в детектор 6, откуда информация передается в. блок 7 обработки (например, на...

Вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 1518744

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Вайнберг, Назаров, Файнгойз, Фельдман

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительный, томограф

...с вторым входом компаратора 27, Выходкомпаратора 27 связью 30 соединенс сицхровходом триггера 26. Выход 25триггера 26 связью 18 соединен свторым входом схемы И 25 и с управляющим входом мультиплексора 28,Блок 12 формирования координатлокальной зоны (фиг.З) состоит из памяти 31 и наборного поля 32. Входомблока 12 формирования координат является связь 16, идущая на первыйвход адреса памяти 31, Выходом блока 12 формирования координат является связь 13, идущая с выхода данныхпамяти 31 Выход наборного поля 32связью 33 соединен с вторым вхопомадреса памяти 31.В традиционной системе координат(фиг.4), используемой для описаниязадач реконструкции при проецировании (просвечивании) параллельнымилучами, двумерная функция с (Х,У)соответствует,...

Рентгеновский вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 1523977

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Ефанов, Лелеков, Петухов

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительный, рентгеновский, томограф

...коллимдторы 2 и 5 формируют ряд дискретных пучков, падающих на набор детекторов 4, т,е, между пучками образуются некоторые мертвые эоны. В соответствии с реализуемой программой блок 14 обработки и управления задает шаг линейного перемещения держателя 7 с исследуемым объектом 8 и направляет соот.- ветствующий сигнал на привод 10 линейного перемещения, под действием которого держатель 7 начинает перемещаться, При этом перемещении изменяется расстояние между зеркалом 13 и лазерным интерферометром 12. Когда сигнал на выходе последнего сравняется с задаваемым блоком 1 4 обработки и управления сигналом, привод 1 О отключится и блок 14 произведет очередное считывание сигналов с набора детекторов 4. При этом привязка по линейной координате...

Устройство для регистрации дефектов при радиационном контроле

Загрузка...

Номер патента: 1583807

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Белый, Довженко, Прокопенко, Токаревский, Троицкий

МПК: G01B 15/02, G01N 23/08

Метки: дефектов, контроле, радиационном, регистрации

...1 и 2 и ширококоллимирован- ный детектор 10. На выходе узкоколлимированных детекторов 1 и 2 появляются разнесенные по времечи электрические сигналы, амплитуда и длительность которых пропорциональнь. геомет.рическим размерам дефекта (фиг.5, сигналы 28 и 29), Линия задержки осуществляет синхронизацию поступлениясигналов с выходов уэкоколлимированных детекторови 2 на входы блока4 сравнения. В блоке 4 сравнения происходит "отстройка" от основной толщиы металла и толщины валика усиления и выделение амплитуд дефектов,,имеющих различную плотность по сравнению с плотностью основного материа 20 ла (фиг.5, сигнал 30),С выхода блока 4 сравнения аналоговый сигнал, амплитуда которого пропорциональна лучевым размерам дефектов, а...

Способ получения изображения исследуемого сечения томографируемого объекта при веерной геометрии проникающего излучения

Загрузка...

Номер патента: 1599731

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Уткин

МПК: G01N 23/08

Метки: веерной, геометрии, излучения, изображения, исследуемого, объекта, проникающего, сечения, томографируемого

...долженбыть в г 1 раз меньше, чем интервалследования реперных импульсов. Этонеобходимо для того, чтобы вся производная проекции быпа оцифрована доначала измерений следующего цикла. После того, как данные измерень 1,осуществляется восстановление проек-,ции в ЭВМ 20 по следующему алгоритму;Р (и) = Р .(п) + Р (и)О 0 9где и = 1,211 - номер отсчетав проекции;1Р п) - пространственная проВизводная проекции дляугла 6;Р 8(п) - проекция для угла .Исследование начальных нулевых условий Р (О) = О возможно в силу то 8го, что значение проекции по концам равно 0 (нулевь 1 е краевые условия).После того, как все проекции восстановлены, они логарифмируются и обрабатываются одним из возможных алгоритмов вычислительной томографии (например, обратного...

Рентгеновское вычислительное томографическое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1608526

Опубликовано: 23.11.1990

Автор: Турянский

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительное, рентгеновское, томографическое

...выходным окном источника 1, Через 2 - 4 с,в течение которых производится разгон истабилизация скорости вращения платформы 4, в электронные блоки 31-34 и ЭВМ 35выдается команда готовности к измерени 55 ям. Через промежуток времениЛ Т = Т/20(Т- период поворота платформы 4 в установившемся режиме) после поступления дофотодатчика 23 импульса с амплитудой 2 Апри прохождении через световой пучок щелевой зоны площадью 25 блоком 30 в блокивыдается команда начала измерений, льсы амплитудой А, поступающие от атчика 23 при прохождении через свепучок щелевых зон площадью Я, явля- запускающими для интегратора 32, овленное время интегрирования п. После окончания интегрирования в ие промежутка 0,1 Тй производятся ровка, ввод числа в память ЭВМ 35 и...

Вычислительный томограф

Загрузка...

Номер патента: 1608598

Опубликовано: 23.11.1990

Автор: Уткин

МПК: A61B 6/03, G01N 23/08, G01T 1/29 ...

Метки: вычислительный, томограф

...приводя к выборке значения,хранящегося по этому адресу. Полученное значение поступает на цифровойвход перемножающего ЦАП 23.1-23 Х,подключенного к данному блоку 22, 122 М. На аналоговый вход ЦАП 23.1-23 Мпоступает сигнал с выхода из одногодиФФеренциальных усилителей 4.1-4 И,чем обеспечивается перемножение.Сигналы гармонических колебанийи сигналы с выхода дифференциальныхусилителей 4.1-4 В, перемножившисьв ЦАП 23,1-230, суммируются в сумматоре 24, на выходе которого образуется сигнал, характеризующий фурьеобраз пространственной производнойпроекции,Сигнал с выхода сумматора 24 оцифровывает,я АЦП 7 по приходу стробирующих импульсов с генератора 6 стро 1608598в б р У Р д м п п п Р с в и через интерфейс 11 поступаетЭВМ 20, где...

Способ радиационной вычислительной томографии

Загрузка...

Номер патента: 1424480

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Васильева, Косарев, Кузелев

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительной, радиационной, томографии

...величине шага восстановленияизображения в ЭВИ. В частностивеличину шага изменяют по нормальномузакону с использованием нормированной функции распределения, получае" 1мой с помощью генератора случайныхчисел, Случайное изменение величинышага осуществляют в совокупностициклов линейного сканирования припостоянстве величины шага в одномпикле сканирования, причем изменение величины шага производят в диапазоне от одной до двух величин шага восстановления томографического изображения в ЭВМ.Как видно из фиг. 5-7, при постоянстве шага сканирования на всех проекциях зафиксировано смещение точки края объекта 1, Дефект 2, сонэ" меримый по размеру с шагом сканирования, усреднен и практически не виден на проекциях 0 и 180 . В то же время дефект 2...

Способ контроля изделий методом вычислительной томографии

Загрузка...

Номер патента: 1082119

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Васильева, Косарев, Кузелев

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительной, методом, томографии

...сравнению с необходимым, либо работать с переменнымивременами, что усложнило бы схему имогло бы явиться источником ошибок;Цель изобретения заключается в сокращении времени контроля.Поставленная цель достигается тем,что формирование набора измерительных 40величин осуществляют путем измерениясигналов при перемещении в пучке перед иили за контролируемым изделиемппастины из непрозрачного для излучения материала, толщина которой равна 45ширине указанных траекторий, и вычитания иэ сигнала, соответствующего отсутствию пластины в пучке, сигналОв,соответствующих каждому из положенийппастины в пучке,На чертеже представлена блок-схематомографа, реализующего укаэанныйспособ,Вычислительный томограф содержитпротяженный источник 1...

Способ неразрушающего контроля объектов

Загрузка...

Номер патента: 989952

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Васильева, Косарев, Кузелев, Майоров

МПК: G01N 23/08

Метки: неразрушающего, объектов

...излучения указанной компоненты.Цель изобретения - повышение точности при определении распределенияв контролируемом объекте радиоактивного материала.Это достигается тем, что в способенеразрушающего контроля объектов,заключающемся в том, что производятсканирование объекта пучком рентгеновского или гамма-излучения по заданной совокупности траекторий, лежащих в одной плоскости, измеряют интен-сивности прошедшего через объект излУ"55чения и излучения заданной компонентыобъекта, по сигналам измерения интен-,сивности прошедшего через объект излучения с помощью ЗВМ восстанавливают картину распределения плотности материала контролируемого объекта в указанной плоскости, по сигналам измерения интенсивности излучения, заданнойкомпоненты...

Способ радиационного контроля шаровых объектов

Загрузка...

Номер патента: 936697

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Васильева, Кузелев

МПК: G01N 23/08

Метки: объектов, радиационного, шаровых

...из одной точки коллимированных пучков ионизирующего излучения, производят перемещение контролируемых объектов, 55, по окружности с центром в указанной точке и их одновременное вращение вокруг своих осей, перпендикулярных плоскости расположения пучков иониэирующего излучения, измеряют интенсивности пучков ионизирующего излуче-ния, прошедших через контролируемыеобъекты, обрабатывают измеренныесигналы в ЭВМ и строят изображенияслоев контролируемых объектов, затемконтролируемые объекты перемещаютперпендикулярно плоскости, в которойлежат пучки ионизирующего излученияи повторяют измерения для полученияизображений других слоев каждого изобъектов, дополнительно формируютсигналы вхождения контролируемыхобъектов в пучки ионизирующего излучения и...

Способ радиационной вычислительной томографии

Загрузка...

Номер патента: 942502

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Васильева, Косарев, Кузелев, Майоров

МПК: G01N 23/08

Метки: вычислительной, радиационной, томографии

...сканирует слой иссле,уемогс изделия по за-. делие излучение, получают сигцлль,предстлвляощие собой величицпогло -щения излучения исследуеььь изде 1 ием по указанной совокупности трлекторий, обрабатывают полученные сигналы в ЭВМ и производят восстлцов.ееНеизображения слоя исследуемого изделия, облучение изделия производятплоским пучком, ширина ксгорого цомень 1 ией мере равна наибольшему лицейному размеру исследуемого сл эя рзделия, регистрацию прошедшего черезизделие излучения производят с омоцью протяженного детектора, изменяют ширину пучка первичного илп прошедшего через изделие излучецря в диапазоне межпу шириной пучкл, со - ответствуняией нлибэольиеыу срцейному ра.меру исследуемогс слоя, и лдянной мицимальной шириной Еучкл, це...