Патенты с меткой «158703»

Номер патента: 158703

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01J 9/00

Метки: 158703

...прибора устанавливают визуализирующую диафрагму, после чего в непосредственной близости исследуемой неоднородности устанавливают непрозрачную диафрагму.Полученное теневое дифракционное изображение неоднородности и непрозрачной диафрагмы измеряют фотоэлектрическим или фотометрическнм способом, измеряя интенсивности света в дифракционных максимумах, расположенных на изучаемой неоднородности и дополнительной диафрагме. Полученные результаты подставляют в формулу где 1 и 1 о - интенсивность света в сравниваемых дифракционных максимумах,2-,.к = -- волновое число, б - измеряемая разность хода. Теория способа основана на дифракционной теории теневых приборов. Способ может быть использован при измерении фазовых пластинок, газодинамических...