G01B 7/04 — для измерения длины или ширины движушихся объектов
Устройство для измерения длин материалов методом обкатывания
Номер патента: 1805280
Опубликовано: 30.03.1993
МПК: G01B 7/04
Метки: длин, методом, обкатывания
...корпусе 3 промерачнаго стола, накотором перемещается измеряемый материал, устанавливается измерительный ролик 1. При вращении ролика магнитное полерассеяния постоянных магнитов 4 замыкается контактами магнитоуправляемых элементов - герконов 5, которые, срабатывая,подают на вход формирователя 6 сигналы.Формирователь 6 формирует импульсы прямоугольной формы с крутым фронтом (диаграммы "а", "б").Далее импульсы поступают на блок 7различения направлений, где прямоугольные импульсы дифференцируются цепямиСВВ 2 и С 2 ВзВ 4(фиг,2), отрицательные дифференцированные импульсы (диаграммы "в", "г") выделяются цепями смещения В 1 В 2 и ВЗВ 4, инвертируются элементами 001, 002 и поступают на входы логических элементов ООз, РО 4)диаграммы "д",...
Способ измерения линейных перемещений и устройство для его осуществления
Номер патента: 1820198
Опубликовано: 07.06.1993
Авторы: Милютин, Николаенко
МПК: G01B 7/04
Метки: линейных, перемещений
...напряжения - в виде логического "0". Указанные сигналы поступают на управляющие входы 39 и 40 двух коммутаторов, осуществляя коммутацию кода, зарегистрированного.счетчиками таким образом, что.в моменты положительных значений напряжения, снимаемого с подвижного вывода 35, коммутатор передает на свой выход пря 20 30. такта интегрирований, Одновременно в ука 35 занный период с выхода 22 на вход счетчика 40 50 5 10 мой код, зарегистрированный счетчиками 29 и 31, в моменты отрицательных значений напряжения, снимаемого с подвижного вы- . вода 35, коммутатор передает на свой выход инверсный код, зарегистрированный счетчиками 29 и 31. Регистрация кода счетчиками осуществляется следующим образом, При включении питания, на выходе интегратора...
Устройство для измерения неровноты длинномерных материалов
Номер патента: 1820199
Опубликовано: 07.06.1993
Автор: Жабеев
МПК: G01B 7/04
Метки: длинномерных, неровноты
...аг. регатом 1 нить 2 протягивается с помощью механизма 3 через щель измерительного конденсатора 5. Протягиваемая нить 2 изменяет емкость конденсатора 5, являющегося другим плечом трансформаторного моста преобразователя 4 толщины нити, что способствует компенсации разбаланса трансформаторного моста, В результате с выхода балансирующего потенциометра .10 на вход 30 согласующего блока 12 подается сигнал разбаланса, соответствующий разности между фактическим значением линейной плотности протягиваемой нити 2 и номинальным значением, заданным эталонным телом, введенным в зазор эталонного конденсатора 6, Сигнал разбаланса через интегратор, реализованный на базе резистора 26, конденсатора 29 и усилителя 28 согласующего блока 12 поступает на...
Способ измерения диаметров методом обкатывания детали измерительным диском
Номер патента: 1825963
Опубликовано: 07.07.1993
Автор: Иванов
МПК: G01B 7/04
Метки: детали, диаметров, диском, измерительным, методом, обкатывания
...в прямоугольной системе координат 1. и а на участке л Рс, соответствующем при контро ле.одному обороту детали, то для определе ния Ос необходимо: измерить длину г 1 лоской кривой, по формуле (1) вычислить5 10 20 30 40 50 измерить а 1,а 2,аз,.а, вычислить Хаг .1Имея эти данные, можно по формуле (2) вычислить Ос.Длина профиля поперечного сечениядетали (периметр) измеряется при помощиизмерительного диска, датчика угла его поворота и старт-стопного преобразователя.На выходе преобразователя получают числопу импульсов, соответствующее Оу. АмплитудЫ а 1,а 2 ап И аяаиб НЕтрудНО ОПрЕдЕЛИтЬпри помощи датчика линейных перемещений каретки, на которой установлен измерительный диск, Остальные операции,связанные с вычислениями О, могут осуществляться...
Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на подложках в процессе осаждения
Номер патента: 1487619
Опубликовано: 10.06.2001
Авторы: Милешко, Никитенко, Сорокин
МПК: G01B 7/04
Метки: диэлектрических, осаждения, подложках, покрытий, процессе, толщины
Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на подложках в процессе осаждения, заключающийся в том, что строят анодную поляризационную кривую контролируемой структуры в электролите при заданной скорости увеличения потенциала подложки, находят пороговое напряжение, соответствующее началу линейного участка на указанной кривой, по которому определяют толщину слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, построение анодной поляризационной кривой проводят при скорости увеличения потенциала подложки от 0,2 до 12 В/с в электролите с электропроводностью от 50 до 400 мкСм/см.