Ходовой

Устройство для измерения толщины пленок на подложках

Загрузка...

Номер патента: 748131

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Сафронов, Скроботова, Ходовой

МПК: G01B 19/38

Метки: пленок, подложках, толщины

...для материала 50 на кремниевой подложкедля углов падениями, у,соответственно равных 17 о, 40, 55, чтопозволяет измерить, толщину пленкис погрешностью 10 А , если коэффициент отражения измерен с погрешностью 1. Для любого типа пленки(510, 5 К 4, Фосфорсиликатного стекла) всегда имеются оптимальные углы,при которых обеспечивается равномерность и однозначность измерений, Если дискретность отсчета толщины выбрана 1 А , то номер сектора в точности равен толщине плевки. Например,сектору 11220 осоответствует толщинапленки 11220 А, Если дискретностьпреобразования равна 10 К; .чего вполне достаточно для удовлетворенияпотребности практики, то триады записываются в 10, 20, 30 и т.д. (каждый десятый) секторы, а общее числосекторов определяется...

Машина для очистки горизонтальных отстойников

Загрузка...

Номер патента: 372179

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Двум, Дружинин, Конвейер, Которой, Например, Насаженными, Обеспечени, Отличающа, Рабочий, Смонтированные, Ходовой, Целью, Что

МПК: B01D 21/02, B01D 21/24, C02F 11/00 ...

Метки: горизонтальных, отстойников

...несущей ферме, и рабочий ор ган, снабженный загрузочным механизмом. Однако известное устройство не обеспечивает удаления осадка по всей площади отстойника в один прием.С целью снижения трудоемкости и 15 обеспечения непрерывности процесса очистки в предлагаемой машине рабочий орган снабжен элеватором, двумя симметричными шнеками, насаженными на вал загрузочной части элеватора 20 и на ходовой тележке установлена шарнирно-поворотная направляющая рамка, в которой перемещается рабочий орган при помощи механизма подьема, например гидроцилиндра, 25На фиг. 1 показана предлагаемая машина, вид сбоку с продольным разрезом.отстойника; на фиг, 2 - вид сверху (без козырька на шнеках).Машина состоит из специальной 30 несущей формы 1 с...

Способ измерения модуля и направления вектора напряженности малых магнитных полей

Загрузка...

Номер патента: 176976

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Александров, Бонч, Ходовой

МПК: G01R 33/02

Метки: вектора, магнитных, малых, модуля, направления, напряженности, полей

...экранирования и при косопческих исследованиях возникает задача измерения магнитных полей еще меньших напряжеппоСтЕй - дО 1 О - 1 е гС.Предложенный способ отличается от известных тем, что в нем сравнивают эффективность ьоздействия измеряемого магнитного поля и света известной интенсивности на парамагнитные атомы, и напряженность магнитного поля определяют по интенсивности ориентирующего света. Это значительно расширяет пределы измерений напряженности магнитного поля в область малых полей и позволяет измерять напряженность поля до 10 - 1 в гс,Предложенный способ включает обычную схему оптической ориентации, содержащую лампу резонансного излучения, линзу, фильтр циркулярный поляризатор, резонансный сосуд с парами рабочего парамагнитпого...