Феранчук

Номер патента: 1032376

Опубликовано: 30.07.1983

Авторы: Барышевский, Данилов, Феранчук, Шадыро

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, кристаллов, рентгеноструктурного

...при двух различных его ориентациях от" носительно пуаса, и по измеренным 76 2интенсивностям определяют величинуи фазу структурных амплитуд,Способ осуществляют следующимобразом,На исследуемый кристалл направляют пучок заряженных частиц, привзаимодействии которых с периодической решеткой кристалла образуетсяинтенсивное рентгеновское излучение.При этом испускаемое частицами из"лучение имеет пики интенсивности какв угловом,.так и в спектральном распределении, образуя дифракционныйспектр кристалла, Интенсивность излучения в каждом пике пропорциональна квадрату соответствующей, структурной амплитуды, Частота излучения,сосредоточенного в этих пинах, зависит от одного из периодов решеткии угла влета цастиц...

Номер патента: 482834

Опубликовано: 30.08.1975

Авторы: Барышевский, Винокуров, Толкач, Феранчук, Шушкевич

МПК: H01J 35/08

Метки: излучения, рентгеновского

...изобретения заключается в том, чтобы обеспечить возможность регулирования длины волны монохроматического излучения при использовании анода постоянного состава.Для этого пучок электродов направляют на монокристаллический анод и отбирают рентгеновское излучение за анодом в направлениях аномального происхождения.Сущность изобретения заключается в следующем.В качестве анода рентгеновской трубки используют монокристалл, свойства которого обеспечивают наличие в нем эффекта Бормана. При торможении на аноде пучки ускорен 20ных электронов образуется рентгеновское излучение, распространяющееся в различных направлениях.В результате дифракции излучения на кристаллической решетке анода будет иметь место аномальное прохождение излучения с длиной...