Цирикидзе

Номер патента: 1732251

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Гогичаишвили, Каландадзе, Картвелишвили, Надирадзе, Стефаниди, Цирикидзе

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскоп, неразрушающего, протяженных, ферромагнитных

...блока 20 регистрациисплошности разразобщены; первая расположе- результатов измерений,им обна в воздушных зазорах полюсныолюсных наконеч- Дефектоскоп работает следующников намагничивающей системы, а вторая разом,- в межполюсном простространстве, что сложно Через намагничивающую систему 1 с15 отверстиями в полюсных наконечниках пров эксплуатации,ении - 2 кото оеПри любом искривлениивнии контролируе- ходит контролируемое изделие, рт фмого изделия или смещения послоследнего от намагничивается до насыщения частьюоси намагничивающей системы демыдефектоско- полного магнитного потока системы (не попа, происходит перераспределение еление магнит- казан), Часть Ф полного магнитного потоного потока через изделие, вые вызывающее 20 ка в...