Анисович

Номер патента: 580294

Опубликовано: 15.11.1977

Авторы: Анисович, Жигалкович, Короткевич, Леткевич, Плященко, Свистун, Скребец

МПК: E04F 15/02

Метки: животноводческих, зданий, пола, решетка

...имеет место травмирование конечностей животных.Наиболее близким техническ;м решением к предлагаемому является решетка пола животноводческих зданий, включающая обвязку и соединенные с ней планки треугольного поперечного сечения 2).Недостатком решетки является прилипанцс экскрементов к боковой поверхности планок ц к забивацию щелей.Целью изобретения является уменьшение забивания щелей решетки экскрементами.Достигается это тем, что боковые поверхности планок выполнены вогнутымп,На фцг. 1 зображеца решетка в плане; на фиг. 2 - сечсццс А - А фиг. 1,Решетка пола животноводческих здаццй включает .панки, которые цмсют раоочую поверхность 1 и боковые вогнутые поверхности 2. Ьлагодаря вогцутостц уменьшается забивание целей между цлацкамц. 1(рос...

Номер патента: 528994

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Анисович, Камин, Митрошкин, Шатагин

МПК: B22D 11/08

Метки: затравка

...этого подвижное соединение головки скорпусом через стержень расположено в хвостовойчасти загранки.11 а фиг. 1 показана предлагаемая заг 1 гавка; нафнг. 2 - разрез Л Л на фнг. 1; на фиг. 3 узел Х Дб соединения головин со сгсржнем; на фгн. 4 схемаРазпЦ 1 ТЯЦУЩЕГС У( ИЯИЯ Цт)И ОДЦ:КОВОМО(КЯО)СЦ( (Х)СЦО(ЛИ Ц РазиХ 3;ТРЗВ(тк,Сгреяьз Гт показывает цзпрзт)пенне Вьгтя.Гванн) СТОЕЛКИ 8 токазЬВЗТ 1(ЗПСъав)теццв ПЕ 17 Е"МЕЩЕЦИИ СТЕР)ЬЯЯ,Г - (цла, ломающая корочку с)цкз, В цзвесг.цьх схемах затрзвок,Д - сила, ломаюази корочку слитка, В пред.зз травкеа117 ВлзЗех 55 3 З оьзка соединяет крисилГВ зато 7 1 и тацчцуО клеть и состо)т из,ГО;(75)кц 3, Ввотпгмой В коистзллизатор 1 иЦМЕОО;. й .)7 ОЬГУ Е О Гт)паЕЦГО СЕЧЕЦЦЛ; КОРДУ.Са 4 З;,(ц;,1(ЕЬОО т ЯцуНЕЦ...

Номер патента: 495147

Опубликовано: 15.12.1975

Авторы: Алексеев, Анисович, Крутова, Павленко

МПК: B22D 15/00, B22D 27/04

Метки: кокиле, отливок, чугунных

...в металле структурно свободного цемента (отбела).Такие отливки имеют высокую твердость и хрупкость, не поддаются механической обработке. Для устранения отбела отливки подвергают отжигу, что удлиняет технологический цикл литья, ухудшает структуру металла и износостойкость изделий.С целью повышения качества отливок путем уменьшения отбела по предлагаемому способу процесс охлаждения осуществляют регулируемым экранированием теплоты, излучаемой отливкой.Способ осуществляют следующим образом.Жидкий металл при 1300 С заливают в кокиль, выдерживают до образования поверхностной корки, обеспечивающей сохранение конфигурации отливки, после чего раздвигают сектора кокиля и создают искусственный регулируемый воздушный зазор Л=4+12 мм между...

Номер патента: 380172

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Анисович, Ком

МПК: G01N 23/223

Метки: анализатор

...уменьшения углов отбора.При увеличении расстояния между излучателями увеличивается угол отбора и соответственно светосила, ио ухудшается спектральная характеристика.В зависимости от стоящей задачи может быть использована как одна, так и другая возможность.Излучатели 2 основного канала Окружены преимущественно аксиально-симметричной конструкцией детектора 3 осцовцого канала. Наиболее техиологичцой представляется конструкция с квадратным в плаце сечением, хотя существо изобретения це меняется и ири выполнении детектора в форме кругового цилиндра, гексагоцальным и т. п.Форма детектора основного канала может быть це только прямым цилиндром (призмой), как показано иа фиг. 1, по и усечеииым конусом (пирамидой) и т. п. 25 30 35 40 45 50 55 11...

Номер патента: 368535

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Анисович, Ком

МПК: G01N 23/223

Метки: рентгеновский, спектрометр, флуоресцентный

...содержащая микрофокусныйисточник 1 рентгеновского излучения, кристаллический фильтр 2, исследуемый объект 3,кристалл-анализатор 4, детектор 5 рентгеновского излучения,На фиг. 2 изображен участок спектра, регистрируемый детектором ври повороте кристалла-анализатора: а в при наличии кристаллдифракционного фильтра; б в п его отсутствии.На фиг. 3 показаи фильтр, состоящий из 10кристалл-дифракционных фильтров А и ооычных рентгеновских фильтров Б.,Излучение от микрофокусной рентгеновскойтрубки 1 (фиг. 1) проходит через сферическиили цилиндрически изогнутый кристалл, расположенный так, чтобы угол между всеми падающими из точечного фокуса трубки рентгеновскими лучами и сферически изогнутымиплоскостями кристалла равнялся О.Толщина пластины...

Номер патента: 246697

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Анисович, Ком, Фонд

МПК: G01T 1/16

Метки: детектор, излучения, рентгеновского

...конуса, усеченная вершина которого образована фильтром, боковая поверхпость - счетчиком излучения, а основание - излучателем, причем излучатель выполнен в виде ряда слоев, параллельных друг другу и основанию по всему объему детектора.На фиг, 1 схематически изображен предлагаемый детектор рентгеновского излучения с излучателем в виде одной пластины; на фиг. 2 - то же, с составным излучателем.Детектор состоит из фильтра 1, излучателя 2 и счетчика 3 рентгеновского излучения, Флуоресценция излучателя регистрируется счетчиком.При конструкции детектора, изображенной на фиг. 1, происходит отбор излучения только с одной стороны излучателя. Расчеты показываот, что повышение светосилы детектора за счет регистрации флуоресценции...

Номер патента: 212377

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Анисович

МПК: G01T 1/20, H01J 40/18

Метки: детектор, излучения, рентгеновского

...детектор, на фиг. 2 - график зависимости коэффициента поглощения рентгеновского излучения, на фиг. 3 - график зависимости эффективности детектора отволны рентгеновского излучения,Детектор рентгеновского .излучения состоитиз фильтра 1, вторичного излучателя 2 и счетчика излучения 3.Зависимость интенсивности рентгеновскогоизлучения пучка, прошедшего фильтр, от длины волны выражается формулой11 - 10егде 1(л.) - интенсивность излучения дофильтра,- коэффициент поглощения материала фильтра,а - толщина фильтра.рафик зависимости т,(Х) приведен наф 2 ак как коэ ициент поглощения 20 имеет скачок при 1=К то и отношенкак Л скачки, так и 1. скачки.Под действием падающего излучения во вторичном излучателе 2 возникает вторичное флюоресцентное...