Патенты с меткой «закритических»
Способ определения параметров кривой размагничивания постоянных магнитов из закритических магнитотвердых материалов
Номер патента: 1149195
Опубликовано: 07.04.1985
Авторы: Гершман, Константинов
МПК: G01R 33/14
Метки: закритических, кривой, магнитов, магнитотвердых, параметров, постоянных, размагничивания
...Р . В зазоре о в нейтральном сечении составного магнита расположен датчик Холла 2 - при иэмере.нии индукции в нейтральном сечении с помощью датчика Холла, на фиг. 2- изображена схема замещения составного магнита в свободном состоянии: М в .источник магнитодвижущей силы (М = Н1 2), К - магнитное сопротивление внешней среды, К- внутреннее магнитное сопротивление магнита, К - магнитное сопротивление.воздушного зазора д под дат О чик Холла (при измерении индукции в нейтральном сечении составного магнита веберметром с измерительной обмоткой д"= О и К, = О).Для пояснения сущности предлагаемого способа дополнительно введены следующие обозначения;Л - проводимость внешней средыдля составного магнита всвободном состоянии, 20ф - магнитный поток...