Патенты с меткой «решеткимонокристаллов»

Способ измерения периода решеткимонокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 828041

Опубликовано: 07.05.1981

Авторы: Имамов, Ковальчук, Ковьев

МПК: G01N 23/207

Метки: периода, решеткимонокристаллов

...пучки, производят поворот эталонного монокристалла и регистрируют угловые положения экстремумов в распределении интенсивности рентгеновского излучения при дифракции первичного и дифрагированного исследуемым монокристаллом пучков на эталонном монокристалле, производят разделение первичного монохроматического пучка на две части с помощью выреза в эталонном монокристалле, захватывающего часть сечения первичного пучка,Сущность изобретения поясняется чертежом.Рентгеновский пучок от источника излучения монохроматизируют путем отражения от кристалл-монохроматора 1 и направляют на исследуемый монокристалл 2. При этом эталонный монокристалл 3 с вырезом 4 расположен так, что рентгеновские лучи, отраженные монохроматором 1, прежде, чем попасть на...