Патенты с меткой «микроизделий»

Номер патента: 973575

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Бабич, Косиюк, Кошель, Мандзюк, Стадник, Эльгорт

МПК: C08L 63/00

Метки: аппаратуры, герметизации, микроизделий, радиоэлектронной

...москва, ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Филиал ППП Патентф, г.Ужгород, ул.Проектная, 4 вами данного способа являются сокра.щение затрат времени на отверждение смолы и повышение производительности труда (21.Недостатками этого способа являются дополнительные операции по изготовлению полимерной крышки и ее фиксации в корпусе необходимость синтеза эпоксидных смол или введение в их состав соединений с реакционноф способными группами, инициирование котсрых осуществляется УФ излучением; изменение параметров некоторых герметизируемых изделий под действием УФ излучения.Цель изобретения - повышение производительности процесса.Эта цель достигается тем, что сог" ласно способу, включающему установку микроизделия в капсулу, заливку его...

Номер патента: 1173298

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Богданов, Воробьев, Степанов, Федоров

МПК: G01N 29/00

Метки: добротности, колебаний, методом, механической, микроизделий, свободных

...подключенык,выходам компараторов 6 и 7, и измеритель 9 длительности импульсов, атакже последовательно соедйненные пиковый детектор 10, вход которого соединен с выходом усилителя 4, и Формирователь 11 пороговых уровней, выходы которого соединены с пороговымивходами компараторов б и 7.Устройство работает следующим об 30разом.ьГенератор 1 вырабатывает испытательный сигнал в виде последовательности радиоимпульсов с прямоугольнойогибающей и синусоидальным заполнением, Этот сигнал преобразуется излучающим преобразователем 2 в механические колебания, которые черезвоздушную прослойку "раскачивают"контрольный образец. После окончания радиоимпульсов образец соверша"ет свободные затухающие колебания,убывающие по законуА = А е45где Л - амплитуда...

Номер патента: 1619016

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Касюга, Малыхин, Носков, Шаповалов

МПК: G01B 11/10

Метки: микроизделий, поперечных, размеров

...микро- изделий путем исключения влияния преломленного пучка на формирование дифракционной картины. Пучком лазера освещают контролируемое микроизделие, наклоняют изделие в плоскости, проходящей через освещающий пучок и контролируемое микроизделие, на угол а50 и анализируютдифракционную картину контролируемого микроизделия, после чего судят о поперечном размере контролируемого микроиэделия. 1 ил,ракции Фраунгофера устанавливается пространственный фильтр 3, представляющий собой негативное изображение дифракци- Я онной картины микроизделия с возможностью перемещения вдоль оси пучка лазера 1. Держатель 2 оптического волокна наклоняют на угол а50 в плоскости, проходящей через пучок лазера 1 и оптическое волокно, при этом преломленная...