Патенты с меткой «годности»

Способ определения годности катушек сопротивления по старению

Загрузка...

Номер патента: 81943

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Носков, Штромберг

МПК: G01R 31/00

Метки: годности, катушек, сопротивления, старению

...катушку сонротиВ:ения, ирОНедную стар(ип( и ОоьИтьм спосооом нроверПТ- ную на тотенцтОметрчестОй установке, оерут в апач(ство тйгона; вс( тоследу 10 щие, Гак)к( 1 рошедпие старение. катушки, ИЗГОтовл(нн 1( нз того яе материала. сравнивают с нею Для зтого Проо;а катуни к со(- днняют В одной точк( н ото место нагреваот до )О. Если тактоп. а так;с другие физические и кимическт( свойства Проо;а во новь ттзгото- л.иной катушке еце не стандартпзировались. то месте нйгреа зтйлонной н испытуемой йтупек появится тор)озгеттро;нкийя снлй, кйк :)то воПодается в ооычной термотйре. При подключении такой термои,)- рь к Гй:нвйнометру стре,1 кй ПОс е;И 1 еГО Оудет Отк;ОП 5 тьс 5, 1.с;и 1 отк,О- енн( Пет, то кйтупкй состаретй ДОЛ)иным обрйздм.Работа с...

Устройство контроля годности монет в монетном автомате

Загрузка...

Номер патента: 544177

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Губренко, Иоффе

МПК: H04M 17/02

Метки: автомате, годности, монет, монетном

...контура.Предложенное устройство работает сле дующим образом.Прппятая в оплату монета 2 контролируется калиброванной приемной личиной на соответствие ее предельных размеров установленной норме и поступает на наклонный участок монетного канала 1, двигаясь по нему на выступах, образованных в стенке 8 наклонного участка монетного канала при вь- полнении в ней паза 9.Колебательный контур генератора 4 контрольного сигнала с помощью регулировочного порогового элемента 5 настроен так, чтобы эпектрический сигнал вырабатывался на выходе при прохождении годной монеты. Обычно этот сигнал несет информацше о разпичных свойотвах сплава монет, например ее эпектропроводности, магнитных свойствах, а также о размерах монеты и зазоре между монетой 2...

Способ определения посевной годности семян

Загрузка...

Номер патента: 982556

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Петренко, Петряев, Рухля, Шадыро

МПК: A01C 1/02

Метки: годности, посевной, семян

...годность семян.Концентрацию свободных радикалов измеряют методом электронного парамагнитного резонанса на приборе ЭПР-спектрометре.Установлено, что зерна даже одной и той же культуры имеют различную концентрацию радикалов, причем более сильными являются семена, у которых более высокая концентрация радикальных частиц. В период хранения семян кснцентрация радикалов в них уменьшается, прин:м с большей982556 формула изобретения Составитель Т. Лежнева Техред И. Верес Корректор И. Ватрушкина Тираж 699 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор С. ПатрушеваЗаказ 975511 скоростью это происходит при...

Способ контроля годности двухдорожечного блока записывающих магнитных головок для установки в магнитофон

Загрузка...

Номер патента: 1224824

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Бабинер, Епишкин, Исаев, Калабухов, Найкялис, Римкус

МПК: G11B 5/455

Метки: блока, годности, головок, двухдорожечного, записывающих, магнитных, магнитофон, установки

...записанных сигналов контрольным (образцовым) блоком 5 воспроизведения с последующим выставлением углового положения блока 1 по максимальному значению сигнала воспроизведения одной из головок окнтрольного блока 3. При этом рабочие зазоры40 1 и 2 испытуемого блока 3 соответственно образуют критические зоны 6 и 7, контрольный блок 5 воспроизводящих головок имеет рабочие зазоры 8 и 9 и носитель 4 содержит сигналограммы 10 и 11. Ксли измеренный угол отклонения магнитного штриха записи от нормали к направлению движения носителя 4 больше допустимого, то на втором этапе контроля изменяют угловое положение испытуемого блока 3 до момента равенства абсолютных величин угловых отклонений щтрихов записи по обеим дорожкам от нормали к направлению...

Способ контроля годности лампы накаливания с термобиметаллическим контактом

Загрузка...

Номер патента: 1378090

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Блинов, Жуков

МПК: H01K 3/00, H05B 37/03

Метки: годности, контактом, лампы, накаливания, термобиметаллическим

...6, В случае изменения упомянутого тока, вызванного возмущающими факторами, например изменением питающего напряжения или изменением сопротивления нити накала лампы 11, изменяется падение напряжения на резисторе 10, которое подается на инвертирующий вход операционного усилителя 7.Например, ток лампы 11 увеличился, что вызвало увеличение положительного напряжения на резисторе 10 отно-сительно общей точки. Поскольку это напряжение подается на инвер-.ирующжгвход операционного усилителя 7, наего выходе положительное напряжениеуменьшается, что вызывает запирание(увеличение) сопротивления регулирующего транзистора 9. Это в свою оче 5редь вызывает уменьшение тока, протекающего через лампу 11 накаливания,т,е, его стабилизацию при уменьшении...

Способ формирования карты годности для доменного запоминающего устройства

Загрузка...

Номер патента: 1531162

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Статейнов, Сухарев

МПК: G11C 11/14

Метки: годности, доменного, запоминающего, карты, устройства, формирования

...в катушках 3 индуктивности, блок 5 формирования импульсов записи и считывания информации, камера 6 тепла 35 и холода.Формирование карты годности для доменного запоминающего устройства осуществляют следующим образом.Осуществляют постраничную запись информации в одноименные позиции годных и дефектных регистров хранения запоминающих модулей, после чего считывают эту информацию при максимально допустимом температурном градиенте во внутреннем объеме запоминающих модулей.Устройство для реализации предлагаемого способа работает следующим образом.50После включения устройства с выхода термочувствительного элемента 2 поступает сигнал о температуре внут-, реннего объема модуля 1при этом формирователь 4 вырабатывает импульного способа содержит...

Способ определения годности цилиндрических резонаторов частотных датчиков давления

Загрузка...

Номер патента: 1597632

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Зотов, Панфилова, Шанин

МПК: G01L 11/02, G01L 27/00

Метки: годности, давления, датчиков, резонаторов, цилиндрических, частотных

...давления от минимального до максимального значения иобратно свидетельствует о правильнойработе резонатора.Искажение форм собственных колебаний основного тона проявляется в отсутствии узлов или в искривлении интерференционных полос и обусловлено,в основном, неравномерностью толщиныстенки резонатора в окружном и осевомнаправлениях, а также дефектами типавмятин, малых неоднородностей включений, царапин и т.п. и свидетельствует о низком качестве изготовлениярезонатора,У цилиндрического резонатора хоро"шего качества смещение узлов и пучностей не должно превышать четвертидлины волны в окружном направлении,т.е. смещаться на величину не более92 п, где и - число полных волн вокружном направлении.Наличие перескоков частоты (фиг,3)проявляется в...

Способ разбраковки полупроводниковых структур на пластине по группам годности

Загрузка...

Номер патента: 1704194

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Кузнецов, Лебедев

МПК: H01L 21/66

Метки: годности, группам, пластине, полупроводниковых, разбраковки, структур

...активной части структур, проверку электрических параметров указанных областей. маркировку структур по результатам проверки. о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения надежности разбраковки, контрольные области формируют на поверхности, свободной от защитных пленок, в количестве, соответствующем числу групп годности, а маркировку производят нанесением меток на зти области,2. Способ поп,1, отл ича ющийс я тем, что нанесение меток производят злектроэрозионны," путем. Составитель И.Петрова Редактор С,Патрушева Техред М.Моргентал Корректор С.ЧерниЗаказ 65 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035. Москва. Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,...

Способ определения годности сцинтилляционного материала на основе кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1402108

Опубликовано: 15.03.1993

Авторы: Долгополова, Кудин, Панова

МПК: G01T 1/202

Метки: годности, кристаллов, основе, сцинтилляционного

...лазерного микроспектральноскорости счета ЬБ имп/л при 233 Кго анализа определяют содержание200 имп/с (по ТУ на детекторы СДНталлия в них;, 200 имп/с) .Таким образом,при содер-" Р 1 - 3,9 10 мас.доли,жанни таллия и йодат-ионов в установ- Р 2 - 5,8 10 мас,доли 7ленных пределах:5 Спектр термостимулированной люми.б 10 фмас.доли %501,4-10 мас,до несценции соответствует, (Фиг1, 3) .ли Ж Вся кристаллическая буля пригодна-4Э ф 10 мас.доли %Т 1 сб 10 мас.до- для изготовления радиационно прочныхли 3 детекторо 6, работоспособных в широкойвся кристаллическая буля пригодна 20 области температур (СДН=43), соотдля изготовления радиационно прочных ветствующих ТУ с большим запасомДетекторов (СДН), работоспособных (Ы200 имп/с при 23 ЗК). ув области...