Патенты с меткой «бикомплексных»

Номер патента: 1483394

Опубликовано: 30.05.1989

Авторы: Калачев, Матыцин, Розанов, Сарычев

МПК: G01R 27/26

Метки: бикомплексных, параметров, свч

...измого материала 2, представляющеплоскопараллельную пластину, пка 3, заполненного диэлектриком,в виде диэлектрических прокладоталлического экрана 4, причем визмерений металлический экран прчерез диэлектрические прокладки к)=1,2,Формула изобретения 1Кн) К(1 )1 г+; К(г)(,1 ) К(г)(Д 1 гп+гп гп 45 Изменением количества диэлектрических прокладок меняют расстояние между исследуемым материалом 2 и металлическим экраном 4. Измеряют коэффициенты отражения от такой структуры, например, при восьми различных значениях промежутка 3. Значения промежутка 3 выбирают так, чтобы зависимость коэффициента отражения от величины промежутка проходила через минимум. Во второй серии измерений между исследуемым материалом 2 и металлическим экраном 4 помещают...

Номер патента: 1522083

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Белоусов, Иващенко, Макаров, Рахимов, Федоров

МПК: G01N 22/00

Метки: бикомплексных, параметров, свч

...переключатель 5 подает-.ся либо в канал измерения комплексной диэлектрической проницаемости,состоящий из последовательно соединенных СВЧ резонатора 6, вентиля 3 ипервого СВЧ детектора 8, либо в канал измерения комплексной магнитнойпроницаемости, состоящий из СВЧ резонатора 7, вентиля 4 и второго СВЧ 40детектора 9. В СВЧ резонаторах 6 и 7могут быть размещены либо эталонные,либо исследуемые образцы.Сигналыизизмерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступаютна формирователь временных интерва-.лов 12, измеритель мощности 13 и осциллограф 14, При определении резонансных частот и ширин резонансныхкривых с помощью частотомера 18 максимальное показание измерителя мощ" .ности 13 поддерживают постоянным,регулируя мощность на...