Способ определения бикомплексных параметров материалов на свч

)4 С 01 И 2 ЕТЕНИ В.Р,Федоров,лоусов и Г,Г,Рах ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТГЮ ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЬГГИЯМПРИ ГННТ СССР ОПИСАНИ(71) Всесоюзный институт повьппенияквалификации руководящих и инженернтехнических работников в областистандартизации, качества продукцииметрологии(56) Авторское свидетельство СССРВ 573775 кле С 01 К 27/26 1976Иващенко П,А., Соколов ВЛ. Измерение электромагнитных параметровферритов на СВЧ методом сравнения.ИТ 1976, Р 3, с, 58-60,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ БИКОИПЛЕКСНЫХ ПАРАИЕТРОВ ИАТЕРИАЛОВ НА СВЧ(57) Изобретение относится к техникеизмерений на СВЧ. Цель изобретения "увеличение точности определения бикомплексных параметров материалов наСВЧ. В устройстве, реализующем данныйспособ, сигнал СВЧ-генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ-переключатель 5подается либо в канал измерения комнлексной диэлектрической проницаемости,либо в канал измерения комплексноймагнйтной проницаемости, В СВЧ-резонаторах 6 иразмещаются либо эталонные, либо исследуемые образцы. Сигналы из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают на формирователь 12 временныхинтервалов, измеритель 13 мощности иосциллограф 14. После измерения резонансных.частот и ширины резонансныхкривых осуществляется вычисление искомых параметров. 1 ил.Изобретение относится к техникеизмерений на СВЧ.Цель изобретения - увеличение точности,На чертеже приведена электрическаяструктурная схема устройства, реализующего способ определения бикомплексных параметров материалов на СВЧ.Устройство содержит СВЧ генератора 1, вентили 2"4, СВЧ переключатель 5,первый СВЧ резонатор 6 для измерениякомплексных диэлектрических параметров, второй СВЧ резонатор 7 для измерения комплексных магнитных нараметров; первый и второй СВЧ детекто"ры 8 и 9, первый переключатель 10,усилитель 11, формирователь временных интервалов 12, измеритель мощности 13, осциллограФ 14 с генераторомлинейно изменяющегося напряжения,эмиттерный повторитель 15, разделительный конденсатор 16, преобразователь частоты 17, частотомер 18,блок 19 вычислительный, источник 20 25напряжения смещения, второй и третийпереключатели 21 и 22,Способ определения бикомплексныхпараметров материалов на СВЧ реалиэу"ют следующим образом. ЗОСигнал СВЧ генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ переключатель 5 подает-.ся либо в канал измерения комплексной диэлектрической проницаемости,состоящий из последовательно соединенных СВЧ резонатора 6, вентиля 3 ипервого СВЧ детектора 8, либо в канал измерения комплексной магнитнойпроницаемости, состоящий из СВЧ резонатора 7, вентиля 4 и второго СВЧ 40детектора 9. В СВЧ резонаторах 6 и 7могут быть размещены либо эталонные,либо исследуемые образцы.Сигналыизизмерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступаютна формирователь временных интерва-.лов 12, измеритель мощности 13 и осциллограф 14, При определении резонансных частот и ширин резонансныхкривых с помощью частотомера 18 максимальное показание измерителя мощ" .ности 13 поддерживают постоянным,регулируя мощность на выходе СВЧ генератора 1.. При переключении с помощью переключателя 22 устройства в режим час 55тотной модуляции, которая осуществляется от генератора линейно изменяющего напряжения, входящего в составосциллографа 14, осуществляют измерения ширин резонансных кривых,Формирователь временных интервалов 12 вырабатывает гребенку импульсов, количество которых однозначно определяет ширину резонансной кривой по уровню половинной мощности.Для коррекции нелинейности модуляционных характеристик реализуют режим калиброванного смещения,подключая к СВЧ генератору 1 с помощью переключателя 21 источник 20 напряжения смещения. При этом уточненная ширина резонансной кривойидГ = --- ДГЛксмЯ Э где дГ - измеренная ширина резонансной кривой;ид Е - смещение частоты сигнала,возбуждающего СВЧ резонатор с исследуемым образ"цом;эйГ,- смещение частоты сигнала,возбуждающего СВЧ резонатор с эталонным образцом.По измеренным резонансным частотам и уточненным ширииам резонансных кривых с помощью блока 19 вычисляют иско мые параметры. Формула и э о б р е т е н и я и Исм-- дГ дзгде 4 й- смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ Способ определения бикомплексных параметров материалов иа СВЧ,. заключающийся в поочередном внесении эталонного образца с известными параметрами и исследуемого образца в полость СВЧ-резонатора, возбуждении СВЧ-резонатора, измерении резонансньпс частот, измерении ширины резонансных кривыхйЕ путем возбуждения СВЧ-резонатора частотно-модулированным сигналом, в последующем расчете искомых параметров, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения точности, ширину резонансной кривой определяют при постоянных уровнях мощности на выходе СВЧ-резонатора, дополнительно смещают частоту сигнала, возбуждающего СВЧ- резонатор, и измеряют ширину резонансной кривой йГ , а уточненную ширину дР резонансной кривой вычисляют по формулеЗаказ 6952/40 Тираж 789 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина, 101 резонатор с исследуемымобразцом;- смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ-ре 5 эонатор с эталонным образцом;ДГ - измеренная ширина резонансной кривой,