Патенты с меткой «автоионном»

Способ исследования образцов в автоионном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 852101

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Бобков, Суворов

МПК: H01J 37/285

Метки: автоионном, исследования, микроскопе, образцов

...автоионизации сталкивающихся с поверхностью образца атомов изображающего 35газа. Однако указанная пленка располагается на поверхности образца случайным образцом, зависяцим одновременно от многих факторов, и в эксперименте не контролируется. Использованне десорбирующих импульсов удаляющих содействуюцие автоионизации адсорбированные атомы изображающегогаза, обычно не позволяет изменитьхарактер последуюцей адсорбции, т,е.улучшить качество микроскопическогоизображения.Это особенно относится к материалам с низкой и средней температурами.плавления (относительно меньшимиэнергиями связи атомов в кристаллической решетке) . Если для тугоплавкихметаллов (таких, например, как вольфрам, молибден, рений) указанное явление обусловливает простое...