Патенты с меткой «324570»

Номер патента: 324570

Опубликовано: 01.01.1972

МПК: G01N 27/24

Метки: 324570

...диэлектрического слоя; кроме того, излсние поверхностных дефектов даже на небольшой поверхности занимает значительное время (несколько часов), а оценка дефектов можс; носить субвскт 1 в, храктср.Цель изобретения - упрощение способа об царужения микродефсктов, повышение егопроизводительности црц возможности получения наглядной картин. распределения 1 естсктов.Цель достигается благодаря использованию 1 о в электропцтцчсском способе регистрирующегофотоматериала (фотоэмульоии) . На чертеже схсхатцческн показана сборка исследуетОго образца и применяемого прц осуществлении предлагаетОго способа приспособления перед 15 помещением ее в электролит. 11 олупроводнцковую (металлическую) подложку 1 с нанесенной на цсе диэлектрической плс кой 2...