Патенты с меткой «182250»

Номер патента: 182250

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: C23C 14/30

Метки: 182250

...и регулируют фокусирующие линзы так, чтобы получить макси з мальное значение тока термоэмиссии,2. Способ по п, 1,с целью исключениячуч электрическогомой измерения тока отличающийся тем, что, влияния на электронный поля, создаваемого схетермоэмнссии, и нсклюПри размерной импульсной электроннолучевой обработке материалов необходимо сфокусировать электронный пучок так, чтобы на обрабатываемой детали получилось электронное пятно минимального диаметра.Предлагается для обнаружения момента острой фокусировки пучка использовать термоэлектронную эмиссию с обрабатываемой детали или (если материал обрабатываемой детали не позволяет получить значительную эмиссию) со специальной контрольной пластины, вводимой вместо детали. Известно, что при...