Устройство для селекции изображений

/00, 1980.льство СССР9/00, 1986.ЛЯ СЕЛЕКЦИИ ИЗ Изобретение относит вычислительной технике пользовано в автоматизи мах технического зрени качества печатных плат и я к автоматике и и может быть исрованных систея для контроля фотошаблонов. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕ(54) УСТРОЙСТВО ДБРАЖЕНИЙ Цель изобретения - расширение области применения устройства за счет маркировки дефектов изображения,На фиг.1 представлена схема устройства; на фиг,2 - схема блока выделения связных областей; на фиг.З. - схема блока определения границ областей; на фиг.4 - схема селектора дефектных областей; на фиг,5-схема расширителя; на фиг.6-схема анализа; на фиг,7 а-г, 8 а-г и 9 а-г показаны возможные ситуации связности двух объектов дефектной областью.Устройство (фиг,1) содержит блок 1 ввода, блоки 2 и 3 анизотропной коррекции, дешифратор 4, блок 5 вывода, блок 6 зада(57) Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах технического зрения, Цель изобретения - расширение области применения устройства за счет маркировки дефектов изображения - достигается введением блока выделения связных областей, блока определения границ областей, селектора дефектных областей, элемента задержки.и дешифратора, что позволяет осуществлять маркировку дефектов изображения, 9 ил. ния параметров коррекции, элемент 7 задержки, блок 8 выделения связных областей, блок 9 определения границ областей,селектор 10 дефектных областей, выход 11устройства.взеЪБлок 8 выделения связных областей О(фиг.2) содержит три элемента 12-14 задержки, элемент НЕ 15, четвертый элемент 16задержки, три элемента И 17 - 19.Блок 9 определения границ областей С(фиг.3) содержит два элемента 20, 21 задер- Ожки, три элемента НЕ 22 - 24, три элемента 3И 25 - 27,.три элемента ИЛИ 28 - 30.Селектор 10 дефектных областей(фито) )фвсодержит три расширителя 31 - 33, две схемы 34, 35 анализа, шесть элементов И 3641, элемент ИЛИ 42,Расширитель (фиг.5) содержит элемент43 задержки, 1 элементов 44 задержки, элемент ИЛИ 45, два элемента И 46, 47, элементИЛИ 48, элемент 49 задержки.Схема анализа (фиг.б) содержит элемент ИЛ И 50, элемент 51 задержки, элемент И 52,Устройство работает следующим образом. Отсчеты бинарного изображения с блока 1 ввода бинарного изображения подаются с частотой в и раз выше частоты строчной развертки считывающего устройства блока 1 ввода на вход блока 2 анизотропной коррекции, а на информационный 5 10 вход этого же блока с первого выхода блока б подаются двоичные коды коэффициентов сжатия и код коэффициентов 1 направления. С блока 2 анизотропной коррекции на вход блока 3 анизотропной кар 15 рекции поступают отсчеты сжатого и расфокусированного изображений в одном направлении, на информационный его вход, в свою очередь, с второго выхода блока 6 подаются двоичные коды коэффициентов 20сжатия и код коэффициентов на,правления, С выхода блока 3 ани-зотропной коррекции отсчеты откорректированного изображения поступают на первый вход дешифратора 4, на второй вход 25 которого поступают отчеты бинарного изобракения с блока 1 ввода бинарного изображения с задержкой на время задержкипрохождения сигнала в блоках 2, 3 анизотропной коррекции, элементом 7 задержки, 30На выходе дешифратора оказывается ."1",если на первом входе "(У, а на втором ".1",Другими словами, на выходе дешифратора4 имеются отсчеты матрицы изображения,являющиеся разностью отсчетов исходного 35и откорректированного изображений. Значения коэффициентов сжатия и направления определяют размер минимальнодопустимого поперечного сечения проводника. 40Отсчеты откорректированного изображения с выхода блока 3 анизотропной коррекции также поступают на первый входблока 8 выделения связных областей и через вход блока 9 - на вход элементов 20, 21 45задержки, на вторые входы элементов И 25,27, на вход элемента НЕ 23, Элемент 20задержки задерживает отсчет на один такт,и сигналы через элемент НЕ 22 поступаютна первый вход элемента И 25, на выходекоторого выдаются отсчеты, соответствующие нижней границе откорректированныхизображений, показанных на фиг,7 г, 8 а - .г,9 а - г,С элемента 20 задержки импульсы поступают на первый вход элемента И 26,на второй вход которого поступают отсчеты с элемента НЕ 23. При этом навыходе элемента И 26 выделяются отсчеты, соответствук)щие верхней границе откорректированных изображений, показанных на фиг,в, 8 а,в, 9 а - г,С элемента 21 задержки импульсы, задержанные на и тактов и проинвертированные элементом НЕ 24 поступают на первый вход элемента И 27, на выходе которого формируются отсчеты, соответствующие левой границе отфильтрованных изображений, показанных на фиг.7 а-б, 8 б, 9 б.Импульсы с элемента ИЛИ 28, которые являются объединенным отсчетом с выходов элементов И 25, 27, поступают через первый вход блока 10 на второй вход элемента И 39, импульсы с элемента ИЛИ 29, которые являются объединением отсчетов с элементов И 26, 27, поступают через второй вход блока 10 на второй вход элемента И 28,. импульсы с элемента ИЛИ 30, которые являются объединением отсчетов с элементов И 25 - 27, через третий вход блока 10 поступа-, ют на второй вход элемента И 37,Отсчеты отфильтрованного изображения с первого входа блока 8 поступают на элементы 14, 16 задержки и на первый вход элемента И 18, отсчеты исходного бинарного изображения с второго входа блока 8, поступают на входы элементов 12, 13 задержки, на второй вход элемента И 17 и на третий вход элемента И 19, Сигнал, задержанный на и тактов, с выхода элемента 14 задержки поступают на первый вход элемента И 17, на выходе которого формируются отсчеты в случаях примыкания дефектной области к правой границе объекта, как показано на фиг.7 а-г,На выходе элемента И 18 формируется отсчет в случае примыкания дефектной области к нижней границе объекта, как показано на фиг,8 а - г, на выходе элемента И 19 формируется отсчет в случае примыкания дефектной области к верхней границе объекта в случаях, показанных на фиг,9 а-г.Расширитель (фиг.5) отслеживает дефектную область на всем ее протяжении.Случаи связности дефектной области с вторым обьектом анализируются элементами И 37 - 41, на выходе которых формируются сигналы маркировки дефекта, поступающие на соответствующий вход элемента ИЛИ 42, с выхода которого они подаются на блок 11 вывода,Формула изобретенияУстройство для селекции изображений, содержащее блок ввода, последовательно соединенные первый и второй блоки анизотропной коррекции, блок задания параметров коррекции, выходы которого соединены с управляющими входами перво 1697092го и второго блоков анизотропной коррекции, блок вывода, отл и ч а ю щее с я тем, что, с целью расширения области применения за счет маркировки дефектов изображения, оно содержит элемент задержки, дешифратор, блок выделения связных областей, блок определения границ областей, селектор дефектных областей,.выход которого соединен с входом блока вывода, первый - третий информационные входы селектора дефектных областей соединены с выходами блока определения границ областей, четвертый - шестой информационные входы соединены с выходами блока выделения связных областей, выход второго блока анизотропной коррекции соединен с первым информационным входом блока выделения связных областей, первым входом дешифра тора и информационным входом блока определения границ областей, выход дешифратора соединен с вторым информационным входом блока выделения связных областей и седьмым информационным входом 10 селектора дефектных областей, выход блокаввода соединен с информационным входом первого блока анизотропной коррекции и , входом элемента задержки, выход которого соединен с вторым входом дешифратора.1.697092Составитель А,Глотовэктор Б.Федотов Техред М,Моргентал Корректор Т,Палий аказ 4307 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10