Устройство для испытания транзисторов

Номер патента: 693271

Автор: Быданов

ZIP архив

Текст

гаа е 1 п 15ол Союз СоеетскинСоциапистическин1 оеспубиик ИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М. Кл,б 01 Я 31/26 Государственный ноютет СССР оо делам нзоорвтвннй н открытей(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ Изобретение относится к области измерения и может быть использовано для испытания транзисторов на работоспособность типа короткого замыкания или обрыва цепи,Известно устройство для испытания транзисторов, содержащее генератор импульсов, испытательные зажимы и индикаторные элементы, позволяющие обнаруживать короткое замыкание транзи.1 О сторов, недопустимо высокий начальныи ток коллектора, обрыв или необычайно низкий коэффициент усиления по току 11. Не дос тат к ом устр ойс тва является то,15 .что подключение испытываемого транзистора необходимо осуществлять в строго определенные зажимы, а также вручную устанавливать переключатель в соответствии с типом проводимости подключенного транзистора. В результате требуется значительное время на испытание, а также возникает необходимоси обращени 5 к справочным материалам. 1 Лель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства.Поставленная цель достигается тем, что устройство для испытания транзисторов, содержащее генератор импульсов, входные зажимы, источник питания и индикатор, снабжено коммутатором, анализатором, элементом ИЛИ, блоком для запуска, ключом, триггером фиксации брака, эмиттерным повторителем, тремя диодами, семью резисторами, тремя транзисторами и тремя группами вентилей, Выходы первых вентилей каждой группы связаны с первым выходом коммутато ра, выходы упомянутых вентилей подключены соответственно через первый, второй и третий резисторы к первому, второму и третьему входным зажимам, причем каждый из последних связан соответственно через последовательно соединенные диод и второй вентиль каждой из вышеупомянутых групп с вторым, третьим и четвертым выходами коммутатора соответственно, вход третьего вентиля каждой группыООединен соответстВенно с ттятым ттел тым и седьмым Выходами коммутатот а,6 т 32 Е ВЫХОД СООТВЕТСТВЕттНО Чорзэ чЕТВЕртый, пятый и вестой резисторы подключен соответственно к базам первого,5второго и третьего транзисторотз, змиттеры которых подключены к первому,второлту и третьему входным зажилтам,а коллекторы упомянутых транзисторовсоединены со входом эмиттерного повторителя и через седьмой резистор с источником питания, выход эмиттерноготтовторителя подсоединен через анализатор тт двум входам элемента ИЛИ, третий вход которого связан с одним Выходом тоиггера фиксации брака, подключенного другим выходом к третьему Входуиндикатора, четвертый, пятый и тпестойвходы последнего соединены соответст.Венно с Восьмым, девятым и десятылт 20выходами комлтутатора, одиннадцатыйвыход которого подключен ко входу триггера фиксапии брака, нри этом выход эпеллента ИЛИ подсоединен ко входу блокедля запуска, первый выход которого связан с одним входом ко тмутатора, генератор импульсов через клточ соединенс другим входом коммутатора и с анализатором, а второй выход блока для запуска подсоединен к управлятошему Входу упомянутого ключе,Коммутатор содержит счетчики стремя устойчивыми состояниями, триггеры и формирователь, причем входысчетчиков подклточены к выходу первоготриггера, а выходы являются соответственно восьмым, девятым и десятымвыходами коммутатора, вход второготрит гера соединен с выходом одного из40счетчиков, а его выход является одиннчдцетым выходом коммутатора и черезформирователь связан с установочнымивходами остальных счетчиков,Лнализатор содержит триггеры, элементы И, инвертор и элемент задержки,45причем вход элемента задержки подключен черезключ к генератору илтпульсов, а выход - ко входам элементов И, выходы которыхсвязаны с тактовыми входами трттггеров50вход анализатора соединен через инвертор с 1 т -входом первого триггера иэлементами И, вторые входы которых подключены к выходам первого триггера, авыходы соединены с Д -входами второ 55го и третьего триггеров, Выхоцы которыхявляются выходами лттагтизаторе.На чертеже приведена функциональная схема устройства. 71Устройство содержттт генератор 1 импульсов, Входные зажимы 21 ндикатор 3, ключ 4, коммутатор 5, триггер фиксации бреке, блок пля запуска, сос; - тоятттий из триггера 7 запуска, формирттвателя 8 и кнопки 9 запуска, элемент 10 ИЛИ, вентили 11-19, резисторы 20- 22, диоды 23-25, резисторы 26-28, транзисторы 29-31, резистор 32, транзистор 33, резистор 34 и енаттизетор 35, Коммутатор 5 состоит из счетчиков 36-38, триггеров 3940 и формирователя 41, Лнализатор 35 содержит элемент 42 задержки, элементы 43-46 И-ИЕ, инвертор 47 и триггеры 48-50,Работает устройство следуюп:им ..- ре зом.При нажатии кнопки 9 срабатывает форМИрОВатЕЛЬ 8, КОтОрЫй ттЕрЕдттИМ фронтом устанавливает коммутатор 5 и триггер 6 В исходное состояние, а задним устанавливает триггер 7 в состояние, при котором открывается ключ 4, в рс-. зупьтате чего импульсы с генеретора 1 начинают поступать на вход колтмутатора 5 и вход элемента 42 анализатора 35. Кажцый из счетчиков 36 - 38 може г11 аходиться В трех разттичных состояниях соответствуюцттпс каждому из 3-х возможных типов электрода транзистора, подключеттного к зажиму 2, т.е. в зависимости от состояния счетчиков 36-38 не зажимы 2 через вентили 11-19 может поступать нулевой потенциал через диоды 23-25, потенциал источника питания - через ключи 29-31 и резистор 32 или переменный потенциал для управления базовым электродом испьггуемогс транзистора через резисторы 20-22 порядка 10 ком. С помотцью резисторов 20-22 задается минимальная величина коэффициента усиления испьттьтваемого транзистора, ниже которого фикгируется его брак, Сигнал с вентилей 11, 14 и 17 через резисторы 20-22 оказывает влияние на потенциал зажима 2 только в том случае, если дион и транзисторный ключ, соединенный с ним, находятся В закрытом состоянии, тз противном случае потенциал зажима 2 определяется состояниями остальных вентилей, Исходное состояние счетчиков 36-38 является различным, т,е. счетчик 38 сигналом с фо., - мироветеля 8 устанавливается В "ттуттт , счетчик 37 - в "единицу". а счетчик 36 устанавливаетгя В состояние "два В результате В процессе поступления ттйттульсов с генератора 1 на Выходе45 50 см, ,ПтгОя 5 будет вьряботячя следуонвя послед вяе,.ьпость состояний 210, 021, 1.02, 120, 201, 012, т,е. состояния коммутатора 5 будут соответствовать всем возможн 4 ям вариантам подключения электродов транзистора к зажимам 2, Переход коммутатора 5 из состояния 1.02 в состояние 120 осуцествляется с помоцью триггера 40 и формирователя 4 1.На каждой из комбинаций на предлагаемом базовом электроде испытуемого транзистора производится изменение потенциала с помощью триггера 39 через вентиля 11, 14 и 17, а результат этого изменения опв,",-еляется анализатором 35. Осуце 1 вляется зто следующим образом, Если состояние коммутатора 5 пе соответсгвует состояни:о подклсмченньх электров исньтыввемого транзистора, то изменение состояния триггера 39 не приводит к измененио сигналя на резисторе 32; который через повторитель на транзисторе 33 и резисторе 34 поступает Иа вход анализатора 35. А нализвтос 35 производи сравнение предыдущего сигналя 1 появившегося при первоначальном состоянии триггера 39) с вновь ГОстудивши м сигналом, Если сигналыаналогичными, то выходной сигнал со схемы анализа отсутствуети коммутатор 5 переключается в чодующее состояние. Если же состояние коммутатора 5 соответствует состоянию подключенных электродов испытьвяемого транзистора и испытываемый транзистор. исправен, то изменение триггера 39 вызовет изменение сигнала на входе схемы анализа и, следовательно, появление сигнала на выходе последней, который приведет к переключению триггера 7 черезэлемент 10 и, следовательно, к прекращению поступления импульсов нявходкоммутатора 5,Определение типа проводимости испытываемого транзистора в предлагаемомустройстве осуществляется за счет того,что транзистор типа и-р-и в процессепроверки оказывается вкшо енпы Посхем е с общим эмиттером, а тр анзистортипа р-и-р - по схеме с ОбнИм коллектором, следствием чего является то, чтотряизистоо еклОчен пьтй по схе хР с общим эмиттером, переворачивает .азувходного сигнала с одного из вентилей1 1, 14 и .17 д 1:,отивПО;жнуо, атранзистор, вкгпчепИй по: хос с общим коддекторо остапнотз;т вхог 10 15 20 25 30 35 40 ног сгнддя без изменениягогот фактор учитывается схемой анализа, чтовыряжается в формировании ня ее выходе двух различных сигналов. Последниепоступают на ин,цгкаторное устройство3, на табло которого высвечивается типпроводимости испытываемого транзистора,. тип электрода подключенного ккаждому из испытательных зажимов,Анализатор 35 работает следующимобразом.Каждый из импульсов с генератора1 через ключ 4 поступает на вход элемента 42. Последний предназначен дляустранения сбоев устройства в случаенеоднозначности переходных процессов.Имульс с выхода элемента 42 черезодин пз элементов 43 или 44 поступает на тактовые входы триггеров 48 -50 в зависимости от того, в каком издвух состояний находится триггер 39.Сигнал с испытываемого транзисторачерез инвертор 47 поступает на информационный 2-вход триггера 48, а такжечерез элементы 45 и 46 И-НЕ, вторыевходы которых связдны с выходамн триггера 48, па информационные З -входытриггеров 49 и 50, Когда триггер 39находится в первом состоянии, импульсс вьсхода элемента 42 проходит на тактовый вход триггера 48 и тем самымосуще ствдяет кратковременное запоминаниее входного сигнала, При появлениитактового импульса в момент, когдатриггер 39 находится во втором состоя;н этот импульс проходит нд тяктовые входы триггеров 49, 50 и темсамым устанавливает последние в определенное состояние в зависимости оттекущего и предыдущего (зафиксированного с помощью триггера 48) сигналовна входе анализатора,Б случае, если испытываемый транзистор оказывается неисправным, коммутатор 5, пройдя все шесть состояний,выдает сигнал на вход триггера 6. Последний срабатывает и остандвпвдетпбступление импульсов ня вход коммутатора 5, переключив триггер 7 в исходное состояние через элемент 10 11 ЛИ.Кроме того, сигнал с триггера 6 поступает на индикатор 3 и зажигает на таблопоследнюю надпись брак",.Устройство позволяет осуцестглятьконтроль без необходимости предварительного определения типа пх проводимости и расположения у них в,подт иодпеделять тип проводимости иопыт,па емого транс)истсрл и рлсТО)ссенис) с Го11 ек троп О в,т.р) 32 Р Д 1 Р Тв(Р ТПТ, П 51 ТЬИ и 11( Е Г "ГОЙ (ХОДЫпоследнего соедицепы состетстт(сцпсс гФормула изобре тония5 1. Устройство для испытания трацзтстОРоезр СОДеРжацее гецеРдтоР пмгУльсов, входные зажимы, источцек питания И ИЕДИКЯТО) О Т Л И Ч 11 Ю ЦТ Р Е С 51 тем, что, с цегп ю расширения функциональных возможностей, оцо сцябгкено к сммутдтором, яеЯТид)аторолл, мелее том ИЛИ) блоком для запускл, есгпочслр тт)иГГРрол фиксации брака, элитт(-;1)цыл ц)ВТОРитеи(Елр ТРемЯ диодами, сРл 110 резисторами, треля трдцдцсторлми и тремя группами вентилей, Входы первых зентилей кдждой группы ( Вязаны с первым ыходол коммутлтс)рл; Выходы упс)л 51 Ту"ьгх вецтТЛРЙ ГТГ)дклюОцы с:ООтВс)тст 1 енцо НГЗР(зз ИРРЕ(11 с ВтсРОЙ и т)с- тий )езисто)ы к пс)11лу, тзтс)(ол(у и ТРОТэРЛГУ ВХОДЕПГМ ЗЛЖИМЛМ, СРИЕМ к ГждьГЙ из 1 Осл(1 де 1 их сс) 5(ссл)с ГОР тетсзт 15 25 ТЗГЦЦО ЧЕРС)СЗ ПС)ИЕРДОВСТС.Сцц СОЕДИНЕ - цьР диод и Второй Вец Т 1 Ель 1 лждОЙ 11 з ВЕ)ГГССЕУПО(Л(5 ПУТТ)ТХ ГРУПП Г:ОГ)ТГ)ЕТГтЕНН СО Вторьлс третьим и четсртьл( вт;ходлли комФ мутя то)др ВХОД трРтьего Вопти;51 каек ДОЙ Г)зуппе сс)едицее состстстг(с)пцо с 115 ТЬГЛр ШЕСТЫМ И С;ЕДЬМЬЕМ ВЬГХОДЯМИ коммутатора, д выход соответственно через четвертый, пятый и сиестой ре;)истОры подключен с(от 1(етсттзеегно к базам 35 первого, Второго и третьего транзисторов, эмиттеры которых подключены к первому, ВТОРОлУ и тРетьемУ Тзходц,тм заеГплЯл(р д коллекторы упомяцутьгх транзисторов соединены со ходом эмиттерцого повторителя и через седьмсй резистор с источником питания, Вьгхд эмиттерного повторителя подсоединен чере:з 11 цлизлтор к двум входам индикатора и дул входам элемента ИЛ 11 р третий ход ко тОРОГО СВЯЗая С ОДЦИЛ ВЫХОД(М ТРИГлвзРд фиксации 6 Ракар поДключенного дРУ- гим выходом к тр(зтьему х(цу ипдцкдтовсзс)ьльгл, дегзятым и дес;ятьгм вьх(палл(ик(змлута тора, ОдинЯеНГТь)Р 1)1.ХГ)д котс)рого подклочен ко входу триггера фиксации брака, при этом выход элементаИ,И подсоединен ко Входу блокд длязапуска, первый Выход которого связанс одним входом коммутатора, генератор импульсов через ключ с(рединен сдругим ВходОл кс)ллуГЯТГя и с Гнали"щзато)омр Я ВтОРой Веход блсзкд дчя запуска подсоединен к угравляс)пГ)лгу Входу упомянутого ключа.2. Устройство по и. 1 р о т:1 и ч аю гц е е с я тем, что коммутатор со -держит счетчики с тремя устсинвьгмисостояниями, триггеры и формирсватель,причем входы счетчиков поеключецьг кВыходУ 1 ОРВОГО тРНГГРРЯ д тзыхоХы ЯВл 5 потся соотетстенцо ВГсе л 1,л девятыми десятым Выходами коммутдторд, Входвторого триггера( соедиеген с Выходом, ОДНОГО ИЗ СЧЕТЧИКОВ, Д ЕГО ВЫХ( Д ЯТЗЛЯется одиннадцатым выходом колмутатораи через формирователь связан с: устойчивыми Вхс)дами остальных счетчпксВ.3, Устройство по пп, 1 и 2, о т -л и ч а ео Ец е е с я тем, что анализатор содержит триггерь, элементы И, ицВертор и элелтеет задержки, причем входэлемента задержки подключен через ключк генеЗатору импульсов, а выход - ковходам элементов И, Выходы которыхсвязаны с тактовыми зходами триггеров,вход анализатора соединен через ицвертор с х.)-входол первого триггера ис элементами И, вторые Вхс)ет, к(торьгхпоДключены к выхоДам пеРвого тР 11 Ге)Я,Я ВЫХОДЫ СОЕДИНРНЫ С .1 -ХОДЯ ИвтоРого и тРетьего ТРиггеРс(, Тзтргхсдт,КОТОРЫХ ЯТЗХЯЮТС 51 ВЬХОДЯМИ С(11 ГССЗТт(З -ря,Источники ит(1)О 1)лСГИи 11,принятые во внимание пги эксп ртидР1, Патент СП 1 А,Л 3 Г)75 Г 3,кл. 601 Б 31 ГГ 22, Опубгц(к. 11;1прототип).693271 Скоробогатоваева Корректор,К 3 Составитель Техред Н, К Лыжов каренк Реда филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная з 6068/15 Тираж ЦНИИПИ Государственного по делам изобретени 113035, Москва, Ж, 73 Подписноекомитета СССРи открытийаушская набд. 4/5

Смотреть

Заявка

2306842, 04.01.1976

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4115

БЫДАНОВ ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: испытания, транзисторов

Опубликовано: 25.10.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-693271-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-tranzistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания транзисторов</a>

Похожие патенты