Устройство контроля качествакристаллических линз

ОП ИСАН ИЕИ ЗОБ РЕТЕ Н ИЯХ АВТОРСКОМУ СВИДИЕЛЬСТВУ Союз Советски нСоциапистичесиикРеспублик п 836764(51)М. Кл. Н 03 Н 3/02 Ьвуднрстввнный квинтет СССР но делам нзабрвтений н открытий(5 З) УДК 621.372. .412(088.8) ка, Е.И. Лазорина, В.В. Сидоренко, А.В. Золотов 54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ТВА КРИС СКИХ Недостатком изве яется невысокая ества кристаллич ажений интерфере вязи с двойным л тного устройств чность контроля ких линз из-за Ф ционной картины епреломпениемк в св тройеркало Г 23Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано при изготовлении кварцевых резонаторов.Известно устройство контроля качества кристаллических линз, которое содержит последовательно размещенные источник света, диафрагму, кювету, наполненную иммерсионной жидкостью, с образцом, поляроид и экран, Источником света служит ртутная лама сверхвысокого давления с кварцеым .конденсором 13 .Недостатком известного устройства является сложность контроля и установки образца.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату является устройство контроля качества кристаллических линз, содержащее последовательно размещенные на оптической оси источник излучения, коллиматор, полупрозрачное линзе.Келью изобретения является повышение точности контроля качества кристаллических линз.Это достигается тем, что в ус Оство контроля качества кристаллических линз, введены расположенные за полупрозрачным зеркалом последовательно на оптической оси держатель для линз с приспособлением для их 5поворотов вокруг оптической оси;поляроид, негативная фотомаска и фотоприемник, регулируемый фотоэлектрический блок динамического запоминания уровня отсчетного сигнала, расположенный на расстоянии удвоенной апертуры от полупрозрачного зеркала, блок сравнения, к .выходу которого подключен индикатор качества крис"836764 5 10 15 20 25 чепреломления. 40 45 50 55 таллических линз, при этом входыблока сравнения соединены соответственно с выходами фотоприемникаи регулируемого фотоэлектрическогоблока динамического запоминания уровня отсчетного сигнала.На чертеже представлено предложенное устройство.Устройство содержит последовательно размещенные на оптической оси источник монохроматическаго плоскополяризованного света 1 (лазер);коллиматор 2, создающий световойпоток с площадью сечения, равнойплощади линзы; полупрозрачное зеркало 3, разделяющее световой потокна два равных потока и направляющееодин поток на исследуемую линзу 4,а другой - на регулируемый фотоэлектрический блок динамического запоминания отсчетного сигнала 5, а также держатель 6 линзы-резонатора обеспечивающий правильную установку исследуемой линзы, полмроид 7, преобразующий эллиптически поляризованный световой поток в линейно поляризованный; негативную фотомаску 8,служащую для сравнения интерференционных полей исследуемой и эталонной линз-резонаторов и для образования сигнала-отклойения; фотоприемник сигнала сравнения интерференционных полей эталонной и исследуемой линз 9, преобразующийсветовой сигнал в электрический;бпок сравнения сигналов 10, соответствующие входы которого подсоединены к выходам регулируемого Фото электрического блока 5 и фотоприемника сигнала сравнения интерференционных полей 9 и индикатор качествакристаллической линзы 11, измеряющий электрический сигнал, пропорциональный отклонению интерференционныхкартин исследуемой линзы от интерФеренционной картины эталонной линзы.Регулируемый фотоэлектрический блокдинамического запоминания уровняотсчетного сигнала 5 расположен напути оураженного от зеркала-делителя3 светового потока на расстоянии удвоенной апертуры полупрозрачного зеркала и обеспечивает регистрацию уровня отсчетного сигнала,Поляризационный монохроматическийлуч от источника 1 (ЛГ)проходитчерез коллиматор 2, Формирующий поток параллельных лучей заданного сечения, который падает на полупрозрачное зеркало-делитель 3 и делится им на два потока: отраженный и проходящий.Отраженный от зеркала-делителя пучок попадает на вход регулируемого фотоэлектрического блока динамического запоминания уровня отсчетиого сигнала 5 а проходящий пучок направляется на исследудемую линзу 4. В исследуемой кристаллической линзе 4 каждый световой луч вследствие двойного лучепреломления делится на два луча (обыкновенный и необыкновенный) с взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации и показателями пр ломления по и п соответственно. Проходя через линзу, эти когерентные лучи приобретают разность фаз, зависящую от длины 8 пройденного ими оптического пути в материале линзы, величины Ь п=пО пЕ и длины волны света 3 Поэтому в общем случае на выходе из линзы-резонатора каждый падающий плоскополярированный луч становится эллиптически поляризованным, причем эллиптичность лучей,прошедших различные участки линзы, будет различной. Для анализа лучей за линзой помещается поляроид 7,который проектирует колебания световых векторов всех лучей в одну плоскость, в результате чего за поляроидом 7 наблюдается интерференционная картина, зависящая от разности фазЬЧ когерентных лучей, обЗ 5 раэующихся в результате двойиого луУ- Е(И 0-).Если главное сечение кристаллической линзы, направление которого должно быть отмечено реперной точкой на краю линзы, составляет угол 450 с плоскостью поляризации поляроида 7, что достигается соответствующей установкой линзы в держателе 6, .то интерференционная картина будет состоять из системы темных и светлых колец. Изменения геометрической Формы линзы-резонатора по апертуре светового пучка и ее ориентации относительно кристаллографическйх осей, а также наличие внутренних неоднородностей в материале линзы будут приводить к измерениям величин Р и (п 0-п 0) соответственно в различных точках световой апертуры, т.е. к изменениям ЬЧ, а следова836764 Формула изобретения Составитель Т. ПанинаРедактор Е. Бватчикова Техоеп С.Мигунова Корректор Ю, МакаренкоЗаказ 3204743 Тираж 988 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва, ЖРаушская наб. д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Устройство контроля качества крис" таллических линз, содержащее после довательно размещенные на оптической оси источник излучения, коллиматор, полупрозрачное зеркало, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения. точности контроля качества кристаллических линз, в устройство введены расположенные за полупрозрачным. зеркалом последовательно на оптической оси держатель.для линз с приспособлением для их поворотов вокруг оптическойлоси поляроид, негативная фотомаска и фотоприемник, регулируемый фотоэлектрический блок динамического запоминания уровня отсчетного сигнала, расположенный на расстоянииудвоенной апертуры от полупрозрачного зеркала, блок сравнения, квыходу которого подключен индикатор качества кристаллических линз,при этом выходы блока сравнениясоединены соответственно с выходами фотоприемника и регулируемогофотоэлектрического блока динамичес кого запоминания уровня отсчетногосигнала. Источники информации, принятые во внимание прн экспертиеМеланхолии Н.М. Методы иссле" дования оптических свойств кристаллов. И., Наука, 1970.2. Дитчберн Р. Физическая оптика, И., Наука, 1965, с. 249.