Устройство для низкотемпературных механических испытаний образцов

Номер патента: 744272

Авторы: Абушенков, Ильичев, Чернецкий

ZIP архив

Текст

О Л И С А Н Й Е 744272ИЗОБРЕТЕЙИЯ Союз Советских Социалистических Республик)и,пкна(;) 3.(16,8. 1)1,1,(с;с(1, Л 24 173,28(8.8) по делан изобретений и открь Л,;1; Б 1 л 1 икБ;(нн 5 Оиис;11:11 3)0.0.8 2) ЛБторыизооретспия11 31)яиите)1 Ь. К. Чернецкий, И, Д. Лбушенкоп и В. Я. ИльичеФизико-технический институт низких температурЛН Украинской ССР) УСТРОЙСТВО ДЛЯ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНЫХМЕХАНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ОБРАЗЦОВ Изобретение относится к области испыгатслы(ои техник(, а именно к усгроистиам д.51 пизкотсмисратурных (х 1 схгпи 1 чсских испыташш образцов.Изнсс)но устройстно для низкосм:сра- б турных механических испытаний обралпоВ, содержащее криоста) с жидким гс,Бсм, Б 1 010)Ый ПО.1 С 1 Ц 2 СТС 51 Н 2 ГРЖЗС.1 Ый ООРа.СП.1121 рм;ксинс ОораЗц 2 Осугцсс ГБ,15 с 1 05 с ЦОМОШЬО ОиорпонРМ 011 И Т 51 НМП(СО И) 1 ОК). 10 Измерение деформаций образца осуп(ссБ.151 с 1 с 51 иидук Гиии 1)1 датчнко)1, ко ОР 1 л й х 10- хаиичсски СБ 5 Ваи с Оиорнои Гр) 0 и, а подвижный ссрдс шик да)чика Бзаимодсйс Гы гс т 5 иуШим ш 1 Окох 1 11. )дНедостатком устройства янлястся нснолможность нспосрсдстнсппого изхСрсии 51,10- формации образца, что Вносит зна нггсльнук) погрешность Б рсзулыаты испытан я.Изисстпо также устронстБО дг 5 низко темпера Грных мсханисских и(. Цытан и й ОбраЗцОБ СОдсрж 21 цес 1 риос 12)т рг 13)1 спгсии 1 с В нсм 32 ХВаты дл 51 крсилсни 5 00 ра 31 ц, ш 1 Ок, р 23 мснснныс Бнс криост 2 та н 2 р)ж(1 гон 1 ий МСХ 2 НИЗМ, СБ 5132 ННЬН 1 СО ЦТОКОМ, И ИНД- - ) тнВиыи;(21 ик дсфор:1 ап:й, и,(БС ( )мс)итсг)ьн ься 11;(ля сия.)11,11 (и 1 а .10(1)орм ( - Цн С ООР 2 ЛЦО:(.310 Ус РОСТБ 51 Б,яс 1051 )1(1, (с( ,и.)- 1,им к ВЗООрстснпО БО текин)С(10.,1 (Ггн(н- 30 стн и дости асмому рс:ульт;)ту. 11 сдос 1 аГЬОм это 0 мстроистВ 2 51 Бл 5 стс 51 илка)1 О 1 пость измор)сни 51 дсформг(ции.1 л,сль 10 1.Зоор)ст(.11:я ЯБ)1 ястс 51 н 01 ынсинс то)н 01 и пзмсрсЦ 151 дс(1)орх 12 цнй.(:.я брГн(1 1, и 1к О, н 1(. Б(спньп 1 нх Гх н1;1 , ББ 1 н,1 н(нн1 О Б Биде тру бы кр(БО, ь( 1 В 1( 1рном ) н жсс 1 ко сосдинснио. (, крьинко8 кр:0 Г;11;1. Криост;)Г ГО нСг раб)ук) н( лооп, Г и Бсномо);1- с л 1 нуО;1(10011, 1, ьь 1 х)1(1 ж:1 сиия р(1 ди;1

Смотреть

Заявка

2581663, 20.02.1978

ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР АН УКРАИНСКОЙ ССР

ЧЕРНЕЦКИЙ ВАДИМ КОНСТАНТИНОВИЧ, АБУШЕНКОВ ИВАН ДМИТРИЕВИЧ, ИЛЬИЧЕВ ВЛАДИМИР ЯКОВЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/18

Метки: испытаний, механических, низкотемпературных, образцов

Опубликовано: 30.06.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-744272-ustrojjstvo-dlya-nizkotemperaturnykh-mekhanicheskikh-ispytanijj-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для низкотемпературных механических испытаний образцов</a>

Похожие патенты