Способ определения параметров кристаллизации силикатных стекол

Номер патента: 1705741

Авторы: Локтюшин, Мананков

ZIP архив

Текст

(19) (111 А 1 щ)( 01 М 33/38 ОПИСАНИЕ ИЗОБЕЕтЕНИЯК АЮТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ П(НТ СССР(54) СПОСОБ ОПРЕ/ЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВКРИСТАЛЛИЗА 11 ИИ СИЛИКАТН 1 Х СТЕКОЛ Изобретение относится к исследованиям кристаллиэующихся стекол и может быть использовано при модельных экспериментах, а также в научной подготовке технологии новых стеклокристаллических материалов и технологическом контроле производства,Цель изобретения - повышение точности.На чертеже представлена зависимость скорости кристаллизации от температуры.Способ осуществляют следующим образом.Изготавливают обраэць( стекол размером 1,5 х 1,5 х 1,5 см н количестве48 шт для каждого из трех составов стекла,Химический состав трех исследуемых стекол приведен в табл.1.(57) Изобретение относится к исг.(едованиям кристаллизую(цихгя стекол ии может бить использовано при модельных экспериментах, а также в научно(;подготовке технологии новых стеклкристаллическом контроле произнодгтва. Цель изобретения - поныл(ение точности. Параметры кригталлизации сили(катных стекол - макгимаг(ьную скоростькристаллизаци и соотнетгтнующую оптимальную температуру опредечяют сучетом разности размерв кристапс(онобразцов, выдержанных в изотериических и неизотермичегких условиях, 1 ил. П три образца каждого составанагревают до заданной температурыв диаг(азоне 8 ОО О(: с интервалом3( (:, 11 ри достижении заданной температуры дна образна извлекают из печи,один из них охлаждают на воздухе имикроскопически определяют скоростькристаллизации его и по скоростикристаллизации определяют время изотермической выдержки. Второй образецо,помещают в муйжель при 55 О (; длядальнейшего охлаждения до комнатнойтемпературы. Третий образец послеиэотермической выдержки охлаждаютв муФельной печи до комнатной температуры. Изготавливают полированный ан(с(ий и с помощью микроскопаМИН 8 определяют размеры кристаллов,Находят разность размеров кригталлонобразцов, нь(держанных н изотермичес1705741 ких и неизотермических условиях, Определяют скорость кристаллизации виэотермических условиях по д)ормулеИ)кр = 7 Г5где Ч - скорость кристаллизации,мм/ч;Ь 1 - разность размеров кристаллов образцов, выдержанныхв изотермических и неиэотермических условиях, мм;л(. - время иэотермической выдержки образца, ч,В табл. 2 представлены температурыкристаллизации образцов в изотермических и неизотермических условиях,время изотермической выдержки и соответствующие размеры кристаллов, Устанавливают зависимость скорости и темиературы кристаллизации, по которой определяют максимальную скорость кристаллизации и соответствующей ейоптимальную температуру кристаллизации. Формула изобретения Способ определения параметров кристаллизации силикатных стекол, включающий кристаллизацию образцов и определение скорости и температуры кристаллизации, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности,находят разность размеров кристалловобразцов, выдержанных в изотермических и неизотермических условиях, сучетом которой определяют максимальную скорость кристаллизации и соответствукщую ей оптимальную температуру кристаллизации,Таблица 1 Таблица 2 0,0 00 0,0 0,0 0,0 ч 0,08 0,0 0,10 0,08 0,20 0,40 0,651705741 МИ ЪЧ У 30 М 3 Ы 950 КК Я 50 Составитель М.СлинькоРедактор 31.Веселовская Техред М,Моргеитал Корректор Т.Палий одписно Заказ 190 Тирах ВНИИПИ Государственного комитета по изо 113035, Москва, Ж, Р

Смотреть

Заявка

4797249, 14.03.1990

НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННЫЙ КООПЕРАТИВ "СИКАМ"

МАНАНКОВ АНАТОЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ЛОКТЮШИН АЛЕКСАНДР АНДРЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 33/38

Метки: кристаллизации, параметров, силикатных, стекол

Опубликовано: 15.01.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1705741-sposob-opredeleniya-parametrov-kristallizacii-silikatnykh-stekol.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров кристаллизации силикатных стекол</a>

Похожие патенты