Способ определения диэлектрической проницаемости
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)5 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ВТСРСНОМУ ЕТЕПЬСТВУ) Изоб тение относится к измеринике и может быть испольтельно иэлектричесов с небольимостью. овано дл ре ения обра мо и прони й повер ель изоб остной пров пдение точносяния сопротивного конденеделения велиетения - повуменьшения вл ти путем лений по сатора н чины диэ рь измеритель результат опр ктрической пр оницаемости. На фиг.1 и 2 представ поясняющие сущность спос ния диэлектрической прон 1 зобр ете е относится к измерееских величин и может вано для определения ой проницаемости образ ой поверхностной прово ниям электри быть использ диэлектричес цов с неболь димостью,бретения - повышени очсо гоелениатора на результат опр ичин диэлектрической и сонде ния в мо ГОсудАРственный кОмитетПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ности путем уменьшения влиян противления потерь измерител Сущность способа состоит в том чтоизмеряют значения амплитуд напряженийна делителе напряжения, состоящим изпоследовательно соединенных образцового сопротивления и измерительногоконденсатора, и на измерительном конденсаторе на двух частотах входныхсигналов раздельно во времени, а значение диэлектрической проницаемостиисследуемого образца рассчитываютпо формуле. Причем исследуемый образец имеет одинаковые размеры с электродами, а измерения проводят в триэтапа при различном размещении образца, а именно при наличии между образцом и обкладкой воздушного промежутка, равного по толщине образцу, затем при наличии только образца и далее при наличии между электродамитолько воздушного промежутка, равногопо толщине образцу. В способе относительные изменения емкости конденсатора не зависят от частоты. 2 ил,лены схемы,оба измереицаемости.Устройство для осуществления способа содержит генераторы 1 и 2 синусоидального напряжения с частотами И,и и соответственно, ключ 3, образцовое сопротивление 4, измерительный конденсатор 5, который содержит подвижный 6 и неподвижный 7 электроды, исследуемый образец 8, равный по размерам измерительным электродам 6 и 7, воздушный промежуток 9, рав=овПув П ов 1Кв ц У У 3ный по толщине исследуемому образцу 8; Ь - расстояние между электродамиЬ6 и 7; --- толщина исследуемого образца 8 и воздушного промежутка 9; 5 10 и 11 - измерители напряжений.Электрическая схема замещения делителя (фиг.2) состоит из последовательно соединенных образцового сопротивления 4 (фиг.1) К и измери тельного конденсатора 5, представленного параллельно соединенными конденсаторами емкостью С и сопротивлением потерь конденсатора К,.Ключом 3 (фиг. 1) подключают генера 45 1 тор 1 с частотой и),. выходного сигнала к делителю напряжения, состоящему из образцового сопротивления Кд и измерительного конденсатора 5, между электродами которого находится об раэец 8 и воздушный промежуток 9, равный толщине образца, и измеряют амплитуды напряжений на делителе 1 ов, и на измерительном конденсато,.ре П 8,. Затем ключом 3 к делителю напряжения подключают генератор 2 с частотой и( выходного сигнала и измеряют амплитуды напряжений на делителе Почв и на измерительном конденсаторе У 30.В измерительном конденсаторе 5сближают электроды, и между ними остается только исследуемый образец 8, Аналогичным образцом проводят измерения амплитуд йапряжений на двух частатах ы, и оз входных сигналов, Амплитуды измеряются: Б , и У- на делителе, У, и У- на измерительном конденсаторе на частотах о)и и) соответственна. 40Вынимают образец 8 так, что между . электродами б и 7 конденсатора остается воздушный промежуток, равныйтолщине образца. Так же на двух частотах Ю,и ы входных сигналов измеряют амплитуды напряжений: У,ви Оввна делителе Б р и Цв - наизмерительном конденсаторе на двухчастотах ю и ы соответственно.Величину диэлектрической проницаемости Е исследуемого образца определяют по результатам измеренийамплитуд напряжений по формуле отношения амплитуднапряжений при наличии между электродамиобразца и воздушногозазора на двух частотах соответственно; 001 В 1 фК =ПВ - отношения амплитуднапряжений при наличии между электродами образца на двух частотах соответственно;- отношения амплитуднапряжений при наличии между электродами воздушного зазора на двух частотах соответственно.В качестве измерителей 10 и 11 напряжения используют прецизионные цифровые вольтметры.В 3-49, измеряющие среднеквадратичные значения напряжений,Таким образом, предлагаемая последовательность действия в отдельности позволяет осуществить повышение точности измерения диэлектрической проницаемости за счет ослабления влияния сопротивления потерь конденсатора. При этом относительные изменения емкости конденсатора не зависят от частоты. ф о р м у л а и з о б р е т е н и я: Способ определения диэлектрической проницаемости образцов путем измерений электрических параметров конденсатора при наличии между его электродами исследуемого образца, имеющего одинаковые размеры с электродами, и воздушного промежутка, равного по толщине образцу, затем при наличии между электродами только образца, а затем при наличии между электродами только воздушного промежутка, равного по толщине образцу, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения диэлектрической проницаемости, измеряют значения амплитуд напряжений на делителе напряжения, состоящего из последовательно соединенных образ-Б отношения а пряжений на П, к амплв .ряжений на туделителе- отношения ампл напряжений на Ц, к амплитуд жений на измер напряельно ом конде конденсатор еналичии между п при наличи электр одами между его исследуемовоздушног о го элек воздуштродами только ного промежутк ного по толщин го образца пр омежут ка рависсле равного олщине обраастотах ы, иых сигналов на со вхоуемом азцу, на частотах ы, ных сигнало ходоответ о твенно; етствен цового сопротивления и измерительногоконденсатора, и на измерительномконденсаторе на двух частотах входныхсигналов раздельно во времени, а значение диэлектрической проницаемости исследуемого образца рассчитываютпо Формуле мплитуд наделителе тудам нап- змерительторе Б- отношения амплитуднапряжений на делителе 0 к амплитудам напряжений на измерительном конденсаторе 0 при наличии между его электродами только исследуемого образца на частотах со,и щ1597779 Составитель В.Бобров Техред Л,Олийнык К Редактор Н. орректор М.Кучерявая Заказ 3051ВНИИПИ Государственного ри ГКНТ СЧСР 113035,Тираж 555 Подписноекомитета по изобретениям и открытиям и Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101
СмотретьЗаявка
4334672, 30.11.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1858
КАДЖАР ЧИНГИЗ ОВЕЙСОВИЧ, РЗАЕВ ТЕЛЬМАН БАГАТУРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрической, проницаемости
Опубликовано: 07.10.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1597779-sposob-opredeleniya-diehlektricheskojj-pronicaemosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрической проницаемости</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения добротности резонаторов электромеханических фильтров
Следующий патент: Преобразователь разности полных сопротивлений двухполюсников в напряжение
Случайный патент: Пространственный регулируемый рычажный механизм