Спектрограф

Номер патента: 1415867

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Копко, Литвиненко, Матковский, Сугак

МПК: G01J 3/12

Метки: волн, градуировки, длин, спектрофотометров, шкалы

...спектро 5 фотометров.Целью изобретения является повышение точности градуировки шкалы для спехтрофотометроя и обеспечение воз можности использования одного этало- н для градуировки всех типов спектрофотоиетров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях спектра.Воэможность использования монокристаллических пластин неодимгаллиевого граната в качестве градуировочных эталонов обусловлена особенностями спектров поглощ .ня ионов неодима3+щ з в гранатовой матрице, в первую 20 очередь наличием узких интенсивных линий поглощения з широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм (4000 С 1250 см )П р и и е р. Тонкую пластину моно кристалла Ы з СаО, крепят в держателе, который устанавливают в отсеке для испытания...

Номер патента: 471634

Опубликовано: 25.05.1975

Авторы: Воробьев, Крушеницкий, Федорцев

МПК: H01S 3/08

Метки: волны, длине, интерферометр, репесматриваемый

...параллельна поверхности пластины. При этом хотя бы одна из областей пластины легируется донорной примесью до такой степени, что в Диэлектрическая проницаемость полупника в определяется по формулам; в . - высокочастотная диэлектрическая проницаемость полупроводника в отсутствие свободных носителей тока;е - заряд электрона;Р - концентрация свободных электронов в и-материале и дырок в р-материале;аказ 999,"1421ЦНИИПИ Изд Лв 8 осуда рственногого делам изоМосква, Ж-З 5,Тираж 833омитета Совета Минисетений и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеСССР Тип. Харьк. фил Патент(,о - длина волны инфракрасногосвета;иг" (и - эффективные массы электрои рнов и дырок;С - скорость света.В области объемного заряда р - п перехода диэлектрическая...

Номер патента: 1282240

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Немировский, Чернявский

МПК: G01L 1/04

Метки: внеконтактной, волны, деформации, длины, изделии, отверстий, протягивании

...материала, нанесенного в предварительно выполненную на цилиндрическом элементе 3 канавку. Зерна абразива находятся на уровне микронеровностей. Абразивосодержащий материал может быть выполнен, например, из смеси клея типа БФ и алмазного порошка.Цилиндрический элемент 3 выполняют упругим в радиальном направлении. Режущий инструмент 2 с цилиндрическим элементом 3 фиксируют в окружном направлении относительно обрабатываемого изделия 1, например, путем нанесения соответствующих меток, и производят режущее протягивание. В процессе протягивания на участке установившегося движения боковая поверхность цилиндрического элемента 3 контактирует с поверхностью отверстия изделия 1 за пределами волны внеконтактной деформации и на поверхности...

Номер патента: 1663393

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Захаренко, Кодрик, Мельниченко

МПК: G01B 5/30

Метки: внеконтактной, волны, деформации, длины, отверстий, протягивании

...отверстия, и за инструментом 3 образуется волна внеконтактной деформации "авс", При этом консольные балки 7 или сегменты 8 цилиндрического элемента 4, подпружиненные в радиальном направлении пружинами 9, расположенными в пазах дистанционной втулки 10, займут положение, при котором диаметр цилиндрического элемента 4 будет равен диаметру обработанного отверстия, Контакт цилиндрического элемента 4 с обрабатываемой поверхностью будет проис 5 ходить за точкой окончания волны внеконтактной деформации с. Так как волна внеконтактной деформации будет перемещаться вместе с инструментом 3, то наступит момент, когда абразивосодержащее10 пятно 6 совпадает с точкой конца внеконтактной деформации с, Начиная с этого момента, абразивосодержащее...

Номер патента: 293502

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Булыгин, Виноградов, Гугель, Днанов, Ирисова

МПК: H01S 3/02

Метки: волн, диапазонов, длин, миллиметрового, открытый, резонатор, субмиллиметрового

...в эгом диапазоне длн волн (измерение величщы фазовых сдвигов и степени прозрачности твердых образцов из различных веществ) предусмотрена раздвижная рамка, позволяющая помещать исследуемые образцы внутри резонатора.Раздвижная рамка может быть расположена в л 1 обой точке внутри резонатора, может вращаться вокруг двух взаимно перпендикулярных осей. В ней могут закрепляться образцы различных геометрических размеров.На фиг. 1 представлен открытый резонатор типа интерферометра Фабри-Перо; на фиг. 2 - съемный держатель образцов.Резонатор состоит из двух отражателей: переднего 1 и заднего 2, которые закреплены в оправах 3 при помощи постоянных магнитов 4.В качестве переднего отражателя применяется сетчатый элемент; в качестве заднего...