Устройство для измерения параметров диэлектриков

Номер патента: 1190304

Авторы: Взятышев, Геппе, Добромыслов, Костромин, Шермин

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТ ИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК 1 9) (1 В 27/26(51 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(71) Ордена "Знак Почета" особое конструкторское бюро кабельной промышленности и Московский ордена Ленина энергетический институт(53) 621.317.335.3(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР У 873062, кл. 0 О 1 М 22/00, 1980. (54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ, содержащее последовательно соединенные СВЧ генератор, к выходу которого подключен частотомер, измерительный тракт, состоящий из входного и выходного отрезков металлического волновода, соединенных между собой дугообразным отрезком диэлектрического .волновода, электромагнитно связанного с дисковым диэлектрическим резонатором, детектор и индикатор о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности при измерении тонкопленочных и листовых диэлектриковв широком интервале температур,дисковый диэлектрический резонаторзакреплен на введенной штанге, перпендикулярной его оси и установленной с возможностью фиксированного осевого вращения, в дисковомдиэлектрическом резонаторе выполнен радиальный паз, перпендикулярный оси штанги, а также введенмагазин для крепления исследуемыхобразцов, состоящий из стойки, установленной параллельно штанге свозможностью фиксированного осевого вращения и осевого перемещения,и держателей исследуемых образцов,закрепленных на стойке радиальнои вдоль ее оси, при этом по обе стороны радиального паза размещены направляющие пластины, закреп.енныена дисковом диэлектрическом резонаторе под острым углом к его поверхности, выполненные из материала,диэлектрическая проницаемость которого близка к единице.Устройство для измерения параметров диэлектриков работает следукщим образом. 35Сигнал с выхода СВЧ генератора 1 качающейся частоты через частотомер 2 и первый аттенюатор 15 и входной. отрезок 3 металлического волновода поступает в дугообразный от резок диэлектрического волновода. На резонансной частоте происходит характерный отсос мощности из дугообразного отрезка 5 в дисковый резонатор 6. Причем при наличии в дис ковом резонаторе 6 радиального паза 7 и расположенного в нем исследуемого образца 1 пленочного или листового диэлектрика, представляющего собой нерегулярв.сть, происходит снятие вырождения собственных коле-. баний, присущее резонаторам бегущей волны. Снятие вырождения приводит к расщеплению кажцой из резонансных частот сетки резонансов исходного 55 дискового резонатора 6 без нерегулярности на две, причем одной изГ них отвечает собственное колебание 50 1 11903Изобретение относится к радиоизмерительной технике, а именно ктехнике измерения параметров диэлектриков, и может быть использовано в электроизоляционной и кабель 5ной промыпленности.Цель изобретения - повышение производительности .при измерении тонкопленочных и листовых диэлектриковв широком интервале температур. ОНа фиг. 1 приведена структурнаяэлектрическая схема устройства дляизмерения параметров диэлектриков;на фиг, 2 - вид А на фиг. 1; нафиг. 3. - разрез Б-Б на фиг. 1, 5Устройство для измерения параметра диэлектриков содержит СВЧгенератор 1,частотомер 2,измерительный тракт, состоящий из входного ивыходного отрезков 3 и 4 металлического волновода, соединенных междусобой дугообразным отрезком 5 диэлектрического волновода, дисковыйдиэлектрический резонатор 6 с радиальным пазом 7, детектор 8, индикатор 9, штангу О, магазин длякрепления исследуемых образцов 11,состоящий из стойки 12 и держателей13 исследуемых образцов 11, направляющие пластины 14, а также первый 15 и второй 16 аттенюаторы,криостат 17 с.крышкой 18. 04 . 2и виде стоячей волны, имеющей пучность электрического поля, а другой - собственное колебание в виде стоячей волны, имеющее узел попереч ного электрического поля в месте расположения нерегулярности. Введение в паз дискового резонатора 6 исследуемого образца 1 изменяет характеристики расщепленной пары резонансов неодинаковым образом. Образующийся интервал частог между расщепленными резонансами и разность их добротностей позволяют найти диэлектрические параметры исследуемого образца 11, Далее сигнал поступает на детектор 8 и подается на экран индикатора (осциллографа) 9, где и воспроизводятся резонансные кривые дискового резонатора 6 с расположенным в нем исследуемым образцом 11,Расчет значений.Е исследуемого образца 11 осуществляется по форму- ле где У - коэффициент замедленияазимутальной волны;ЬГ. - интервал частот между резонансами сетки резонансныхчастот невозмущенного дискового резонатора 6;дГ - интервал частот расщепленГного дискового резонанса 6;- длина рабочей волны СВЧ генератора 1;Ь - толщина исследуемого образИца 11, равная ширине радиального паза дискового резонатора 6.Расчет значений 13 исследуемого образца 11 рассчитывается по формулеО ь д-д 1"28 1 дгде дГ идГ - разницы полос пропускания между расщепленными резонансами;Я 1 - диэлектрическая проницаемость материаладискового резонатора 6.Для подачи исследуемого образца 11, после его крепления в держателе 13, в радиальный паз 7 дискового резонатора 6 достаточно повернуть стойку 12 на фиксированныйугол и затем во встречном угловом направлении повернуть штангу 10 . с дисковым резонатором 6, после чего исследуемый образец 11 очередного держателя 13 с помощью направляющих 14 размещается в радиальном пазе дискового резонатора 6.Освобождение исследуемого образ. ца 11 и замена его другим осуще 190304 4ствляется поворотом штанги О дискового резонатора 6 на фиксированный угол, продольным перемещениемстойки 12 (вверх или вниз) на фиксированное расстояние и возвратомштанги О в исходное положение,Количество одновременно испытываемых образцов диэлектриков можетдостигать нескольких десятков,ное 5 1 ШП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,и аз 6975/48 Тираж 747 ВНИИПИ Государствен по делам изобрете 113035, Москва, Ж, РЛодпго комитета СССРй и открытийушская наб., д, 4/

Смотреть

Заявка

3607895, 17.06.1983

ОРДЕНА "ЗНАК ПОЧЕТА" ОСОБОЕ КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРО КАБЕЛЬНОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ, МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ВЗЯТЫШЕВ ВИКТОР ФЕОДОСЬЕВИЧ, ГЕППЕ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ДОБРОМЫСЛОВ ВЛАДИМИР СЕРГЕЕВИЧ, КОСТРОМИН ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ШЕРМИН ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектриков, параметров

Опубликовано: 07.11.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1190304-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров диэлектриков</a>

Похожие патенты