Способ измерения апертурной характеристики электронно лучевых приборов

(19) (1 И 5104 А За) С 01 К 29/06 Вф",Д 0,1,ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯН АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Основы ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ"Связь", с. 271-275,2. Гдалин В.С. Измерение параметров телевизионных передающих иприемных трубок. М., "Советскоерадио", 1978, с. 209-216 (прототип).(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АПЕРТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫХ ПРИБОРОВ путем модуляции интенсивности движущегося электронного луча, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения, модуляцию осуществляют установкой в плоскость фокусировки электронного луча экрана с группами щелей, ширина которых периодическиизменяется в направлении движениялуча, а апертурную характеристикуопределяют по изменениям коэффициентов модуляции.Изобретение относится к области электронно-лучевых приборов, а точнее к области измерения параметров . электронно-лучевых приборов,и может быть использовано при разработке 5 и испытаниях электронно-лучевых приборов в условиях выборочного контроля партии приборов при действии дестабилизирующих факторов.Современные способы измерения апертурной характеристики (АХ) основаны на измерении контраста мэлких деталей изображения, воспроизводимого на экране электронно-лучевых приборов (ЭЛП), с учетом влияния послесвечения люминофора и явления ореола.Известен способ измерения контраста путем анализа движущейся яркостной волны с помощью микро фотометра с неподвижной щелью,относящийся к объективным методам измерения, оценивающим элементом которых служат электронно-оптические приборы, как правило фотоэлектронные умножители 1 ). Известные объективные методы имеют ряд недостатков: невозможность проведения дистанционньм из- ЗО мерений, длительный цикл проведения измерений, недостаточно высокая точ" ность измерений, обусловленная непрямым характером измерения АХ и принципиальной трудностью достижения требуемой высокой стабильности развертки ЭЛП по отношению к измерителю яркостиф применение сложного комплекса измерительной аппаратуры.Наиболее близким по технической сущности к предложенному. является способ измерения апертурной характеристики ЭЛП путем модуляции интенсивности движущегося электронного луча. Данный способ применяется в основном для просвечивающих трубок с использованием штриховой испытательной таблицы с группами штрихов различной ширины 121.50К недостаткам этого способа относится непригодность его для дистанционных измерений, сложность комплекса измерительной аппаратуры, необходимость проведения дополнительных измерений, обусловленная непрямым характером измерения АХ, большие затраты времени, недостаточно высокая точность измерений. Цель изобретения - повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения апертурной характеристики электронно" лучевых приборов путем модуляции интенсивности движущегося электрон" ного луча, модуляцию осуществляют установкой в плоскость фокусировки электронного луча экрана с группами щелей, ширина которых периодически изменяется в направлении движения луча, а апертурную характеристику определяют по изменениям коэффициентов модуляции.На фиг. 1 изображена схема апертурной характеристики, на фиг,2,3 осциллограмма сигнала и соответствующая ей апертурная характеристика, на фиг.4 - эскиз экрана с щелями, примененный при исследованиях ЭЛП типа 13 ЛН 2; на фиг. 5,6 " осциллограмма при развертке электронного луча по А-А и В-В. Схема апертурной характеристики состоит из ЭЛП 1, содержащего экран 2 с группами щелей, фигурную диаграмму 3, аквадаг 4, коллектор электронов 5, ЭЛТ включена в цепь резистора 6 нагрузки, сигнал с которого выводится через усилитель 7 на регистрирующее устройство 8.Способ измерения АХ состоит в следующем (см.фиг.1). Внутрь ЭЛП 1 в плоскости фокусировки электронного; луча устанавливается экран 2 с группами щелей различной. ширины, затем располагается фигурная диаграм; ма 3, соединенная с эквадагом 4, далее накодится коллектор электронов 5. Потенциалы экрана, диафрагмы и коллектора выбираются из условия подавления вторичной эмиссии электро" нов с экрана и коллектора. Электронный луч развертывается в однократном режиме поперек щелей. Сигнал с резистора б нагрузки, включенногогв цепь коллектора электронов 5, поступает на усилитель 7 с малым уровнем шумов и далее на регистрирующее устройство 8, в качестве которого удобно использовать осциллограф.По осциллограммам определяются коэффициенты модуляции и строится апертурная характеристика, Примерный вид осциллограммы и соответствующая ей АХ приведены нафиг;2,3. Время снятия характеристики определяется периодом разверткиодной строки.Располагая группы щелей в различных местах, а также во взаимноперпендикулярных направлениях, можно получить АХ для любого интересующего участка растра, а также продольные и поперечные АХ и, крометого, .определять размеры электронного пятна и оценивать его астигматизм.Геометрические размеры экрана,ширина щелей в группах, количествогрупп, их взаимное расположение 15на экране, скорость развертки электронного луча определяются типом иназначением ЭЛП, диаметром электрон фного луча в плоскости фокусировки,а также характером поставленной задачи,Способ измерения АХ применяетсяпри исследованиях ЭЛП типа 13 ЛН 2на воздействие статических и импульсных дестабилизирующих факторов. 25Экран с группами щелей изготавливается из листового никеля размером100 х 100 х 0,1 мм электрохимическим способом с применением фотометографии, что обеспечивает высокую ЗОточность изготовления. Эскиз экранаприведен на фиг.4. Группы щелей располагают двумя рядами, причем ширинащелей равняется расстоянию между ними и составляет 1,5, 1,2, 1,0, 0,9;0,8 ф, О,б; 0,7; 0,5 мм. Кроме того,на экране имеются щели шириной 4 ммдля образования сигнала, соответствующего полному току электронного луча.Типовые осциллограммы приведены на фиг.5,6. По осциллограмме определяют коэффициенты модуляции К как отношение переменной составляющей сигнала к полному току луча и строят график зависимости К от ширины щели, т.е. апертурную характеристику.Предложенный способ измерения АХ позволяет проводить дистанционные измерения АХ, а значит измерения АХ при испытаниях ЭЛП в условиях выборочного контроля партии приборов на воздействие дестабилизирующих фак,торов, вредных для человека, существенно сократить время измерений (доли секунд) по сравнению с известными способами (десятки минут), что расширяет Функциональные возмож-, ности способа, например появляется возможность .проводить измерения АХ в заданное очень короткое время (такая необходимость возникает при исследованиях на действие импульсных дестабилизирующих факторов). Кроме того, способ позволяет упростить процесс измерений, сократить количество измерений, избежать негатив" ного влияния целого ряда факторов, таких как нелинейность модуляционной характеристики, изменение апертуры луча из-за модуляции, послесвечение люминофора, явление ореола и т.д. Вследствие этого повышается достоверность и точность измерений в 2 раза.