Шерехора
Способ измерения апертурной характеристики электронно лучевых приборов
Номер патента: 1095104
Опубликовано: 30.05.1984
Авторы: Карпов, Кузьмин, Макеев, Попов, Шерехора
МПК: G01R 29/06
Метки: апертурной, лучевых, приборов, характеристики, электронно
...коэффициентов модуляции.На фиг. 1 изображена схема апертурной характеристики, на фиг,2,3 осциллограмма сигнала и соответствующая ей апертурная характеристика, на фиг.4 - эскиз экрана с щелями, примененный при исследованиях ЭЛП типа 13 ЛН 2; на фиг. 5,6 " осциллограмма при развертке электронного луча по А-А и В-В. Схема апертурной характеристики состоит из ЭЛП 1, содержащего экран 2 с группами щелей, фигурную диаграмму 3, аквадаг 4, коллектор электронов 5, ЭЛТ включена в цепь резистора 6 нагрузки, сигнал с которого выводится через усилитель 7 на регистрирующее устройство 8.Способ измерения АХ состоит в следующем (см.фиг.1). Внутрь ЭЛП 1 в плоскости фокусировки электронного; луча устанавливается экран 2 с группами щелей различной....