Устройство для измерения отклонений ширины изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУ БЛИН 19) (и) МЯ) а 01 ГОС ОПИС ИЗОБР НИЯ ВТОРСН УДАРСТВЕННЦЙ НОМИТЕТ СС ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНР(56) 1. Авторское Свидетельство СССР9 226179, кл, 6 01 В 11/041967.2. Авторское свидетельство СССР Р 757838, кл, О 01 В 7/04, 1979 (прототип).(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТ. КЛОНЕВИИ ШИРИНЫ ИЗДЕЛИИ, содержащее лйнейку Фотоэлектронных преобразователей, состоящую из двух секций,установленных на базовом расстоянииодна от другой, дешифратор и индика"тор величины отклонения, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, достоверности и производительности измерений, оно снабжено (Ч+1) разрядным двоичным сум;матором, входы которого соединеныс секциями линейки фотоэлектронныхпреобразователей, и индикатором знака отклонения, и младшйх разрядовдвоичного сумматора соединены черездешифратор с индикатором величиныотклонения, а (и+1) старший разряддвоичного сумматора, соединен с входом индикатора знака отклонения.Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано как в качестве автономногоприбора контроля отклонения шириныплоских изделий от номинального размера, так и в составе автоматизированного измерительного комплекса.Известно устройство для измеренияширины плоских изделий, содержащеефотоэлектронные, преобразователи ипоследовательно соединенные блок 10сигналов и регистраторов 1),Недостатком этого устройства является то, что оно позволяет измерятьширину изделия, а отклонение шириныот ее номинального размера определяется косвенно, путем пересчета.Кроме того, это устройство содержит большое число триггеров памяти и логических элементов, чтоснижает надежность его работы. 20Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяустройство для измерения отклоненийширины изделий, содержащее линейкуфотоэлектронных преобразователей,состоящую из двух секций, установленных на базовом расстоянии однаот другой, дешифратор и индикаторвеличины отклонения 2)Однако отклонение ширины изделияот номинальной определяется путемвычисления разности между номиналь ной шириной и измеряемой. Это за. медляет процесс измерения, затрудняет его автоматизацию и увеличива 35ет, вследствие необходимости пресчета, погрешность измерения.Целью изобретения является повышение точности, достоверности и произ.водительности измерений.Поставленная цель достигается тем,40что устройство для измерения отклонений ширины изделий, содержащее линейку фотоэлектронных преобразователей,состоящую иэ двух секций, установленных на базовом. расстоянии одна от 45другой, дешифратор и индикатор величины отклонения, снабжена (И+1) разрядным двоичным сумматором, входы.которого соединены с секциями линейки фотоэлектронных преобразователей, 5 Ои индикатором знака отклонения, имладших разрядов двоичного сумматора соединены через дешифратор с индикатором величины отклонения, аТаблица 1 Номер состо- яния Номера разрядов 2 1 7(й +1) старший разряд двоичного сумматора соединен с входом индикатора знака отклонения.На чертеже представлена блок-схема устройства.Устройство содержит линейку 1 фотоэлектронных преобразователей, состоящую из двух секций, каждая из которых состоит из 2" фотоэлементов, (и+1) разрядный двоичный сумматор 2, дешифратор 3, индикатор 4 величины отклонения, соединенный с последним, индикатор 5 знака отклонения, .соединенный с (0+1) старшим разрядом сумматора 2.Устройство работает следующим образом.При измерении изделия б фотоэлектронные преобразователи линейки 1 формируют (П+1) разрядный двоичный код, величина которого пропорциональна величине затененной части секции линейки 1 фотоэлектронных преобразователей.Пусть, например, й зЗ.В табл, 1 содержится совокупность возможных кодов на выходе секции фо-. тоэлектронных преобразователей линейки 1; в табл. 2 - все возможные коды на выходе сумматора 2.1046603 Т а б л и ц а 2 Величина отклоне- ния Знак от- клонения Перенос в4-й разряд Номера разрядов Номер состояния 3 2 1 7,0 0 0 12 13 14 1.5 Номер состояния (табл 1) одно значно соответствует количеству затененных фотоэлементов секции линейки 1 фотоэлектронных преобразователей. Так, при состоянии 0 нет затененных фотоэлементов, при состоя нии ф 11 затенен первый н т.д. Секции линейки 1 устанавливаются на базовом расстоянии одна относительно другой,т.е,так,чтобы при номиО нальном размере контролируемого изделия б индицировался 0. В частности, если необходимо контролировать симметричные допуски, следует так установить секции линейки 1, чтобы на выходе их фотоэлектронных преобразователей были коды, соответствуюне 4-му состоянию (табл. 1). Тогда на выходах сумматора 2 код 000, индицируется отклонение ф 0, знак отклонения плюсф. Пусть контроли руемая ширина окажется меньше номинальной, например, на выходе одного из фотоэлектронных преобразователей линейки 1 появится код 010 (состояние 2 табл, 1), а на выходе другого 65 останется неизменным (состояние 4 табл. 1), тогда на Л выходах сумматора 2 появится код 110, индицируется отклонение 2, знак отклонения минус (состояние 6 табл. 2).Допустимтеперь контролируемая ширина иэделия больше номинальной, например, на выходе одного из фото- электронных преобразователей линейки 1 появится код 111, а на выходе другого - 011 (состояния 7 и 3 табл.1, ось иэделия б сместилась). В этом случае на П выходах сумматора 2 появится код 1010, индицирует" ся отклонение 2 ф, знак отклонения плюс (состояние 10 табл. 2). Как видно, смешение оси изделия 6 в известных пределах не влияет на результат измерения.Таким образом, использование предлагаемого устройства позволяет измерять непосредственно величину и знак отклонения ширины плоских изделий, что особенно важно при задании несимметричного допуска на измеряемый размер Это повысит точность и достоверность результатов измерений,1046603 Составитель Е, Глазкова.Редактор Т. Кугрышева Техред А. Ач . Корректор А. Повх Закаэ 7712/40 Тираж 602 Подписное ВЫКИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и отхрытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5ц а 1и Филиал ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4поскольку исключит соответствующиерасчеты, и повысит производительность измерений, расширив возмож" ность автоматизации процесса измере"ний, ускорит технологический процесс,сократив время контроля изделий.
СмотретьЗаявка
3328564, 14.08.1981
КУЙБЫШЕВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-СТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. И. МИКОЯНА
КОВАЛЕВ БОРИС МИХАЙЛОВИЧ, СЕНЬКЕВИЧ ВАЛЕРИЙ ГЕНРИХОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/04
Метки: отклонений, ширины
Опубликовано: 07.10.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1046603-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-otklonenijj-shiriny-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения отклонений ширины изделий</a>
Предыдущий патент: Емкостной измеритель угловых перемещений
Следующий патент: Устройство для измерения деформаций вращающихся тел
Случайный патент: Устройство для непрерывной подачи лент к ленточным, гребнечесальным, ровничным и т. п. текстильным машинам