Способ измерения толщины неферромагнитных изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветсиикСоциалнстнчесннаРеспублик п 962757(51)М. Кл. 6 01 В 7/06 3 веударстванай квинтет СССР 10 двАЗИ взвбрвтенкв н открытий(72) Авторы изобретения 1Львовский лесотехнический Институти Львовский ордена Ленина политехническйийнстйтут(54 ) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОДЦИНЫ НЕФЕРРОИАГНИТНЦХИЗДЕЛИЙ 1Изобретение относится к толщино" метрии и может быть использовано для измерения геометрических параметровиэделий иэ неферромагни тных материалов.Известен способ измерения толщины неферромагнитных иэделий, заключающийся в том, что создают магнитное поле, преобразователь параметра поля перемещают перпендикулярно по 1 О верхности контролируемого иэделия, при достижении выходного сигнала преобразователя определенного значения измеряют расстояния от преобразователя до поверхности контролируеиого15 изделия и по результату измерения определяют толщину изделия 1.Недостаток способа - низкая точность.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ измерения толщины неферромагнитных изделий, заключающийся в тои, что создают магнитное поле излуча" 2телем, расположенным на одной поверх. ности контролируемого изделия, и из" меряют зто поле преобразователем-полимером, установленным на другой поверхности контролируемого иэделия 21.Однако способ отличается недостаточной точностью, вызванной нелинейной зависимостью выходного сигна" ла преобразователя от измеряемой ве" личины и влиянием нестабильности интенсивности магнитного гюля на результат измерений.Цель изобретения - повышение точности;Поставленная цель достигается согласно способу измерения толщины неферроиагнитных изделий, заключающемуся в тои, что создают магнитное поле излучателем, расположенным на одной поверхности контролируеиого изделия, и измеряют это поле преобразователем"полииерои, установленным на другой поверхности контролируемого изделия, дополнительно иэ3 96меряют градиент поля преобразовате-лем-градиентометром, расположеннымна поверхности контролируемого изделия в непосредственной близости отпреобразователя- полемера, и измеряемую толщину определяют иэ соотношения Оп /Опг) где Ояп- выходнои сигнал преобразователя-полемера, Оя,выходной сигнал преобразователя-гра"диентометра,На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего способ,Излучательмагнитного поля,выполненный в виде линейного проводника с протекающим по нему током,расположен на поверхности контролируемого изделия 2. На другой поверхности контролируемого изделия 2 установлены преобразователь- полемер 3 ипреобразователь-градиентометр 4 маг.нитного поля, выходные сигналы которых подаются на блок 5 , деления,к выходу последнего подключен индикатор 6 измеряемой величины.Способ осуществляется следующимобразом.При возбуждении излучателя 1 маг.нитного поля на выходах преобразователей 3 и 4 появляются сигналыЭИпп . пг ДтХгде Н " напряженность магнитногополя;Тх - толщина изделия.В общем случае Н на Т ) где значение п определяется видом создаваемого магнитного поля, а - его интенсивность. Поэтому выполняются со- отношения 2757 фния сигнала Ос выхода которого поступает на индикатор 6 измеряемой толщины, При этом О-, Т,т.е. сигналПП"пгХ)на выходе измерительной системы линейно зависит от измеряемой толщины.Способ позволяет измерять геометрические параметры неферромагнитныхизделий сложной формы при изменяющихся параметрах излучателя,фФормула изобретения-(п 1)1 Т-; ,Т Выходные сигналы преобразователей 3 и 4 подаются на блок 5 деле 1Способ измерения толщины неферромагнитных изделий, заключающийся втом, что создают магнитное поле излучателем, расположенным на одной поверхности контролируемого изделия, иизмеряют это поле преобразователемполемером, установленным на другойповерхности контролируемого изделия,отличающийся тем, что,с целью повышения точности, дополнительно измеряют градиент поля преобразователем-градиентометром, расположенным на поверхногти контролируемого изделия в непосредственнойблизости от преобразователя-полемера, и измеряемую толщину определяют из соотношения Опп /Опг)где Оп- выходной сигнал преобразо 3вателя-полимера;Яп - выходной сигнал преобразова"теля-градиентометра.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРИф 352114) кл. С 01 В 7/06) 1972.2, Авторское свидетельство СССРФ" 619783) кл. 6 01 В 7/06, 1977, ул. Ироект ИИПИ Государственного по делам изобретений 035, Москва, Ж,11 одписноеомитета СССРоткрытийувская наб д. 4
СмотретьЗаявка
3253516, 25.02.1981
ЛЬВОВСКИЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ, ЛЬВОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
БРАНДОРФ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ, КОТЛЯРОВ ВЛАДИМИР ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Метки: неферромагнитных, толщины
Опубликовано: 30.09.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-962757-sposob-izmereniya-tolshhiny-neferromagnitnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины неферромагнитных изделий</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения вытяжки основы на шлихтовальной машине
Следующий патент: Способ определения прогиба вращающегося вала
Случайный патент: Способ определения коэффициентов теплоотдачи от газа к лопатке