Способ измерения распределения относительной поверхностной плотности импульсного тока в проводнике

Номер патента: 945809

Автор: Михайлов

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик ц 945809(22) Заявлено 29. 06. 79 (21) 2786214/18-21 с присоединением заявки РЙ Ъоударстеенлый коюнтет СССР да делаю нзобретеннй н открытнй(088.8) Опубликовано 23,07,82. Бюллетень Юе 27 Вата опубликования описания 23,07,82.(72) Автор изобретения В,М.Михайлов Харьковский ордена Ленина политехнический и титут им, В.И,Ленина( 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ИМПУЛЬСНОГО ТОКА В ПРОВОДНИКЕ1Изобретение относится к электри ческим измерениям и может быть использовано при исследовании и физическом моделировании электромагнитных полей плоской или плоскомеридианной структуры устройств, предназначенных для высокочастотного нагрева деталей и получения сильных импульсйых магнитных полей и полей в сверхпроводящих соленоидах,Известен способ определения относительной поверхностной плотности тока с помощью пояса Роговского и локального индуктивного датчика 1 11.Сущность этого способа заключается в измерении полного тока в проводнике с помощью пояса Роговского и локальной поверхностной плотности тока с помощью индуктивного датчика.Однако в этом способе для определения полного тока и поверхностной плотности тока необходимо осуществить интегрирование ЭДС, индукцируемых в поясе Роговского и индуктив 2ном датчике, что сопряжено с необходимостью регистрации сигналов в течение некоторого интервала времени.Это не позволяет исключить проникновение электромагнитного поля в про" 5водник и тем самым соотнести измеренное распределение относительной поверхностной плотности тока в проводнике к распределению этой же величины в сверхпроводнике той же геометрии. Вместе с тем, непосредственное измерение рассматриваемой величины в сверхпроводнике сопряжено срядом трудностей (поддержанием низкой температуры, применение специальных измерительных устройств идр.),Цель изобретения - упрощение определения распределения относительной поверхностной плотности тока в рь сверхпроводнике.Поставленная цель достигаетсятем, что в способе измерения рас"пределения относительной поверхно"сти плотности импульсного тока в про945809 Составитель Ю. ПоляковРедактор В,Лазаренко Техред Т. Иаточка КорректорИ.Шар аказ 5 иал ППП Патент , г. Ужгород, ул. роектная ИИПИ по д 3035 Тираж 71 осударств ам изоЬре москва, Ж Подписное .нного комитета СССРений и открытий35, Раущская наб., д. М/5

Смотреть

Заявка

2786214, 29.06.1979

ХАРЬКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

МИХАЙЛОВ ВАЛЕРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 19/00

Метки: импульсного, относительной, плотности, поверхностной, проводнике, распределения

Опубликовано: 23.07.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-945809-sposob-izmereniya-raspredeleniya-otnositelnojj-poverkhnostnojj-plotnosti-impulsnogo-toka-v-provodnike.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения распределения относительной поверхностной плотности импульсного тока в проводнике</a>

Похожие патенты